產(chǎn)品描述

iNano采用InForce 50驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行納米壓痕和通用納米機(jī)械測(cè)試。 InForce 50的50mN力荷載和50μm位移范圍使得該系統(tǒng)適合各種測(cè)試。 InView軟件是一個(gè)靈活的現(xiàn)代軟件包，可以輕松進(jìn)行納米級(jí)測(cè)試。 iNano是內(nèi)置高速I(mǎi)nQuest控制器和隔振門(mén)架的緊湊平臺(tái)。 該系統(tǒng)可以測(cè)試金屬、陶瓷、復(fù)合材料、薄膜、涂層、聚合物、生物材料和凝膠等各種不同的材料和器件。

主要功能

• InForce 50驅(qū)動(dòng)器，用于電容位移測(cè)量，并配有電磁啟動(dòng)的可互換探頭
• 獨(dú)特的軟件集成探頭校準(zhǔn)系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的探頭校準(zhǔn)
• InQuest高速控制器電子設(shè)備，具有100kHz數(shù)據(jù)采集速率和20μs時(shí)間常數(shù)
• XY移動(dòng)系統(tǒng)以及易于安裝的磁性樣品架
• 帶數(shù)字變焦的集成顯微鏡，可實(shí)現(xiàn)精確的壓痕定位
• ISO 14577和標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試方法
• InView軟件包，包含RunTest、ReviewData、InFocus報(bào)告、InView大學(xué)在線培訓(xùn)和InView移動(dòng)應(yīng)用程序

主要應(yīng)用

• 硬度和模量測(cè)量(Oliver Pharr)
• 高速材料性質(zhì)分布
• ISO 14577硬度測(cè)試
• 聚合物tan delta，儲(chǔ)存和損耗模量
• 樣品加熱

工業(yè)應(yīng)用

• 大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所
• 半導(dǎo)體和封裝行業(yè)
• 聚合物和塑料
• MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）/納米級(jí)通用測(cè)試
• 陶瓷和玻璃
• 金屬和合金
• 制藥
• 涂料和油漆
• 聚合物制造
• 復(fù)合材料
• 電池和儲(chǔ)能