SE-1000型 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究。

SE-1000型橢偏儀在測試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下，配置手動變角測角計與手動移動樣品臺，為客戶提供了一款高性價比的橢偏測試平臺。另外，SE-1000型光譜橢偏儀采用了新設(shè)計的光學(xué)部件以及新版本的測試分析軟件，大大提高了設(shè)備的運行穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)處理能力。

與SE-2000平臺一樣，SE-1000光譜橢偏儀同時也是一個多功能測試平臺，采用模塊化的設(shè)計，可集成FTIR紅外光譜測試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測試模組、Mueller Matrix各項異性材料測試模組、Raman結(jié)晶率測試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導(dǎo)電流測試模組、反射干涉測試模組等多種功能，用戶可根據(jù)測試需求合理選擇搭配功能。

產(chǎn)品特點

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測試設(shè)備廠商

業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測試機構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國橢圓偏振測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

針對研發(fā)及實驗室測試設(shè)計，能降低測試成本

模塊化設(shè)計，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費升級SOPRA材料數(shù)據(jù)庫

開放光學(xué)模型擬合分析過程，方便用戶優(yōu)化測試菜單

主要應(yīng)用

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測試設(shè)備廠商

業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測試機構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國橢圓偏振測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

針對研發(fā)及實驗室測試設(shè)計，能降低測試成本

模塊化設(shè)計，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費升級材料數(shù)據(jù)庫

開放光學(xué)模型擬合分析過程，方便用戶優(yōu)化測試菜單

主要技術(shù)指標(biāo)