IV曲線追蹤掃描儀&半導(dǎo)體圖示儀能測IGBT. Mosfet. Diode. BJT......

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on)）。

測試種類覆蓋 7 大類別26分類，包括“二極管類”“三極管類（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保護類器件”“穩(wěn)壓集成類”“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測類”等品類的繁多的電子元器件。

高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）

控制極/柵極電壓40V，柵極電流100mA

分辨率最高至1.5uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)適用于曲線追蹤儀還可測試“結(jié)電容”，支持“脈沖式一鍵加熱”和“分選機連接”

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研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測·電學(xué)檢測·可靠性檢測·老化實驗  各類儀器設(shè)備

第一部分：規(guī)格&環(huán)境

1.1、產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號：STD2000

產(chǎn)品名稱：IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)

1.2、物理規(guī)格

主機尺寸：深660*寬430*高210(mm)

主機重量：＜35kg

1.3、電氣環(huán)境

主機功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過 4000m；

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導(dǎo)電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續(xù)；

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第二部分：應(yīng)用場景和產(chǎn)品特點

一、應(yīng)用場景

1、測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對失效器件進行測試分析，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）

4、來料檢驗（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產(chǎn)測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備，實現(xiàn)規(guī)?；?、自動化測試）

6、替代進口（STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)可替代同級別進口產(chǎn)品）

二、產(chǎn)品特點

1、程控高壓源10~1400V，提供2000V選配；

2、程控高流源1uA~100A，提供40A,200A,500A選配；

3、驅(qū)動電壓10mV~40V

4、控制極電流10uA~100mA；

5、16位ADC，1M/S采樣速率；

6、自動識別器件極性 NPN/PNP

7、曲線追蹤儀，四線開爾文連接保證加載測量的準確

8、通過 RS232 接口連接校準數(shù)字表，對系統(tǒng)進行校驗

9、不同的封裝形式提供對應(yīng)的夾具和適配器（如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等）

10、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）；

11、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能實現(xiàn)曲線追蹤儀（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on) ）

12、結(jié)電容參數(shù)也可以測試，諸如Cka，Ciss，Crss，Coss；

13、脈沖電流自動加熱功能，方便高溫測試，無需外掛升溫裝置；

14、Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin），連接分選機最高效率1h/9000個；

15、IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)在各大電子廠的IQC、實驗室有著廣泛的應(yīng)用；

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第三部分：產(chǎn)品介紹

3.1、產(chǎn)品介紹

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng) 是由我公司技術(shù)團隊結(jié)合IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的多年經(jīng)驗，以及眾多國內(nèi)外測試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開發(fā)設(shè)計的全新一代“IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團隊自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)脈沖信號源輸出方面，高壓源標配1400V（選配2KV），高流源標配100A（選配40A,200A,500A）柵極電壓40V，柵極電流100mA，分辨率最高至1uV / 1.5pA，精度最高可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺編寫，填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準確可靠。產(chǎn)品可測試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著極強的擴展性。

產(chǎn)品為桌面放置的臺式機結(jié)構(gòu)，由測試主機和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機和機械手建立工作站，實現(xiàn)快速批量化測試。通過軟件設(shè)置可依照被測器件的參數(shù)等級進行自動分類存放。能夠極好的應(yīng)對“來料檢驗”“失效分析”“選型配對”“量產(chǎn)測試”等不同場景。

IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)產(chǎn)品的可靠性和測試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點控式夾具”讓操作人員在夾具上實現(xiàn)一點即測。操作更簡單效率更高。測試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本，方便快捷的完成曲線追蹤儀。

3.2、人機界面（STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)）

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第四部分：功能配置

4.1、配置選項

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的功能配置如下

4.2、適配器選型

STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)的適配器有如下

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STD2000IV曲線追蹤掃描儀系統(tǒng)能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測廠、電子廠