本例中，我們假設(shè)制造商使用邊緣厚度變化作為測試方法。我們在X、Y兩個方向輸入0.2mm的最1大傾斜，因此最1大1的半徑傾斜為sqrt(0.22+0.22)=0.28mm。

表面不規(guī)則度：可以定義為球差和像散的總和，也可以使用Zernike系數(shù)來定義（這主要是測量儀器為干涉儀時才這么定義）。本例中，我們使用第1一種方法，并且設(shè)定表面不規(guī)則度為1/5。

元件公差：主要測量系統(tǒng)的“機(jī)械軸”對元件的偏差程度。

公差分析結(jié)果

因?yàn)槲覀冎霸O(shè)定了重疊Monte-Carlo分析圖，并且在軟件中我們打開了OPD圖，因此可以看到OPD圖中看到20個Monte-Carlo循環(huán)計算的結(jié)果：看起來距離我們的目標(biāo)0.05的RMS波長還很遠(yuǎn)。

在靈敏度分析（Sensitivity Analysis）的過程中，Zemax OpticStudio首先計算原始設(shè)計系統(tǒng) （nominal system）的公差標(biāo)準(zhǔn)，讀取第1一個公差操作數(shù)，將其調(diào)整到最1小值，調(diào)整補(bǔ)償器（優(yōu)化），返回公差評價標(biāo)準(zhǔn)值。然后再重復(fù)操作，但這次是將公差操作數(shù)調(diào)整到最1大值。最后所有公差都會執(zhí)行這一步驟。

我們可以用Layout圖檢查坐標(biāo)是否正確，但是在Layout圖中我們不能檢查微小的傾斜或者偏心。因此如果想要檢查微小的傾斜或者偏心，最1好是查看系統(tǒng)中每個元素的全局坐標(biāo)。

在“Analysis / Report / Prescription Data”中打開全局坐標(biāo)并僅勾選“Global Vertex”。

每個光學(xué)元件的全局坐標(biāo)將在輸出窗口中列出，從中可以得到如下結(jié)論

第10個表面到第15個表面并未發(fā)生傾斜或者偏心，因?yàn)榈?0個表面到第15個表面的旋轉(zhuǎn)矩陣只包含了1和0，并且透鏡3和像面的Y軸坐標(biāo)都為0即這些曲面中心位于系統(tǒng)坐標(biāo)軸上。

(請注意：10負(fù)16次方級別的數(shù)字為系統(tǒng)誤差，可以視為0)。

鏡頭2已傾斜5°：表面6到表面7的“Tilt X”為5。