我們應(yīng)該設(shè)置怎樣的采樣頻率來對透鏡引入的相位進行合適的取樣呢？

我們可以通過Zemax OpticStudio中的評價函數(shù)編輯器（Merit Function）或者宏語言(ZPL Macro)來計算合理的采樣率。評價函數(shù)如圖8所示。

函數(shù)編輯邏輯如下：

?計算光束邊緣相距很短的兩條光線的光程差。（因為邊緣的相位變化最劇烈）。

?計算對這兩條光線的相位變化以及所需要的像素個數(shù)。

?將這一數(shù)值乘以全孔徑直徑以得到整個孔徑所需要的像素個數(shù)。

其實，從POP計算輸出的照度分布圖來看并沒有什么問題，輸出光斑沒有出現(xiàn)異樣，感覺上采樣率應(yīng)該是足夠的。但是，點擊“Prop Report”可以看到軟件提示第二個面出現(xiàn)警告“Low Sampling of pilot beam”，說明第二個面采樣率不夠。

因為POP計算的復雜性，我們必須逐面的檢查整體光束的參數(shù)，以確保整個傳播過程中的計算都是正確的。

當光線瞄準功能由于此原因而失敗時（這種情況較少出現(xiàn)），我們需要幫助給迭代算法輸入一個更合適的初始解。您可以在系統(tǒng)設(shè)置 > 光線瞄準菜單中的光瞳偏移（需要在未勾選“自動計算光瞳偏移 (Automatically Calculate Pupil Shift)”的情況下進行設(shè)置）中輸入預(yù)估坐標偏移量，其中該偏移量參考于近軸入瞳中心點坐標（默認情況）。該參數(shù)只需確認大致范圍即可，并且只有在算法無法確認光瞳面時才需要進一步提高精度。一旦OpticStudio成功追跡了一根到達光瞳面的光線，則算法在接下來的迭代計算中無需其他幫助。