捷登SMT智能首件檢測(cè)儀(JD-FAI)，是公司自主研發(fā)、生產(chǎn)的一款專門(mén)應(yīng)用于SMT生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行首件檢測(cè)的設(shè)備。它的出現(xiàn)旨在解決傳統(tǒng)首件檢測(cè)方式存在的耗用時(shí)間長(zhǎng)、人力成本高、過(guò)程不可靠且難以追溯等難題。

JD-FAI核心包括性能穩(wěn)定的品牌一體機(jī)、高清PCBA掃描儀、精準(zhǔn)的LCR電橋、先進(jìn)的軟件系統(tǒng)。JD-FAI的技術(shù)水平處于業(yè)界領(lǐng)先地位，它是對(duì)傳統(tǒng)首件檢測(cè)方式的全新變革，它不僅可以針對(duì)電阻、電容、電感進(jìn)行快速精準(zhǔn)的測(cè)量，還可以對(duì)IC、二極管、三極管等有絲印的元件進(jìn)行自動(dòng)外觀檢查。