半導體封裝材料 功能材料電學綜合測試系統(tǒng)
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半導體封裝材料-功能材料電學綜合測試系統(tǒng)

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鐵電參數(shù)測試功能 動態(tài)電滯回線測試頻率 靜態(tài)電滯回錢測試 脈沖測試 疲勞測試 保持力 印跡 漏電流測試 變溫測試功能
絕緣電阻測試功能 高準確度的電壓輸出與電流測量,確保測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。
壓電參數(shù)測試功能 可進行壓電陶瓷的唯靜態(tài)d33等參數(shù)測試,也可通過高壓放均由位移傳感器動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。
高溫四探針測試功能 符合功能材料導體、半導體材料與其他新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。
熱釋電測試功能 主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。
介電溫譜測試功能 用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng) 適用于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析
電卡效應(yīng)測試功能 可以用于測試材料,在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
熱激發(fā)極化電流測試儀TSDC 用于研究功能材料性能的一些關(guān)鍵因素
可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試 以及高、低溫環(huán)境下的電學測試。
商品介紹
?測試模塊

01. 鐵電參數(shù)測試功能

動態(tài)電滯回線測試頻率

靜態(tài)電滯回錢測試

脈沖測試

疲勞測試

保持力

印跡

漏電流測試

變溫測試功能

02. 絕緣電阻測試功能

高準確度的電壓輸出與電流測量,確保測試的品質(zhì),適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測。例如:陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。

03. 電參數(shù)測試功能

可進行壓電陶瓷的唯靜態(tài)d33等參數(shù)測試,也可通過高壓放均由位移傳感器(如勘怪 干涉儀)動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量。

04. 高溫四探針測試功能

符合功能材料導體、半導體材料與其他新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國標并參考美標A.S.T.M,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學性能研究等用途。

05. 熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。薄膜材料變溫范圍:-196℃~+600℃;塊體材料變溫范圍:室溫~200℃、室溫 ~600℃、室溫~800°C。

06. 介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,同時還可以分析被測樣晶隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。

07. 塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導體,陶瓷材料,金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析;可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件,低溫選件溫度范圍-100℃ ~200℃,高阻選件高至10MΩ。

08. 電卡效應(yīng)測試功能

可以用于測試材料,在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。

溫度范圍:-50℃~200℃;

熱流時間范圍:1s-1000s;

電壓可達10kV;

波形:用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。

09. 熱激發(fā)極化電流測試儀TSDC

用于研究功能材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性。

配置

01. 鐵電分析儀、高壓放大器、剎試夾具、系統(tǒng)控制器、測試夾具、位移傳感器、高低溫環(huán)境組合可實現(xiàn)功能材料的鐵電性能、壓電性能、熱釋電性能測試、熱激發(fā)極化電流測試儀TSDC等功能測試。

02. 高低溫環(huán)境可配冷熱臺、高低溫試驗箱或近紅外高溫爐。

03. 阻抗分析儀配合高低溫環(huán)境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐,可實現(xiàn)材料的介電溫譜與頻譜測量。

04. 高阻計配合高低溫環(huán)境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐,可測量材料高低溫下的電阻、電阻率、電阻譜等參數(shù)。

05. 低電阻表配合高低溫環(huán)境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐,可測量材料高低溫下的電阻、電阻率、電阻譜等參數(shù)。

06. 源表配合高低溫環(huán)境箱、冷熱臺或近紅外高溫爐,可測量材料高低溫下半導體材料的導電性能。

      源表、紅外高溫爐與系統(tǒng)控制器組合,可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。塞貝克系數(shù)和電阻都可以用一種儀器來測量。

07. 系統(tǒng)控制器用于冷熱臺或高低溫試驗箱、近紅外反射爐的溫度控制;各種電壓、電流、開關(guān)量及位移信號的采集。

08. 高壓極化電源用于壓電陶瓷及壓電薄膜材料的極化、材料擊穿、也可用于陶瓷閃燒等試驗。

09. 力學原位加載裝置用于壓電陶瓷材料原位加載等參數(shù)測試分析。

用戶可根據(jù)自已的需求選擇不同的配置。

產(chǎn)品優(yōu)勢

01.擴展優(yōu)勢

本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學測試,以及高、低溫環(huán)境下的電學測試。與電學檢測儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫處理和軟件兼容性上做了大量的接口。 無論是在軟件方面還是硬件方面,皆使本套儀器在未來更易于擴展,更加節(jié)省改造時間與硬件成本。

02.性能優(yōu)勢

華測儀器依托多年高壓控制、測試方面多年的技術(shù)成果:增加TVS保護過壓、過流、過溫等技術(shù),更加可靠。軟件設(shè)計:在測試功能、數(shù)據(jù)處理、操作等更加人性化方面做了大量的改進;測量精度:與其它儀器做了大量的測試對標,與計量院通力合作;進行檢測計量。確保數(shù)據(jù)的有效與真實。

03.研發(fā)優(yōu)勢

研發(fā)團隊擁有多領(lǐng)域、多學科的博士、碩士技術(shù)人員,他們致力于材料電學、電力電子、信號、測控、精加工方面的研究,并且是掌握材料電學檢測技術(shù)的科研團隊!自成立以來獲多方科研機構(gòu)、大學試驗室支待,聘請多個知名院校的教授,組建 “華測儀器顧問團”。

04.定制化服務(wù)

電學試驗室擁有泰克、是德科技等國外大批檢測設(shè)備;生產(chǎn)制造方面,公司有4軸、5軸CNC加工地、超精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備,在工裝、夾具定制化方面更加方便。


應(yīng)用領(lǐng)域

鐵電材料、電子陶瓷、熱釋電、薄膜、科學研究、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)以及器件測試電子、電氣、能源等行業(yè)。

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聯(lián)系方式
公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
聯(lián)系賣家 肖工 (QQ:479014311)
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