SPM-3020VT高精度計(jì)量級(jí)影像測(cè)主要技術(shù)參數(shù)

SP3-3020VT高精度計(jì)量級(jí)影像測(cè)量儀主要技術(shù)參數(shù)
1.產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造符合下列標(biāo)準(zhǔn)
1．國家計(jì)量技術(shù)影像測(cè)量儀校準(zhǔn)JJF 1318-2011規(guī)范
2. 國家產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）影像測(cè)量儀的驗(yàn)收檢測(cè)和復(fù)檢檢測(cè) GB/T 24762-2009
3. 蘇州質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局Q/320505AD005-2012備案注冊(cè)第029號(hào)2012年-J
4．測(cè)量精度依據(jù)ISO10360-7。
2.技術(shù)參數(shù)
2.1測(cè)量行程：300mm×200mm (X×Y)
2.2工件限高：200mm (Z)
2.3玻璃臺(tái)尺寸：340 mm×240 mm
2.4示值系統(tǒng)：采用怡信Easson 1um光柵尺
2.5分辨率：0.1μm
2.6示值精度：E≤（2.5 L/200）um (L單位:mm)（量標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)ISO1036-1）
2.7載物臺(tái)尺寸：460 mm×360 mm
2.8控制系統(tǒng)：UWC4000I控制系統(tǒng)
2.9導(dǎo)軌絲桿：絲桿采用臺(tái)灣研磨級(jí)絲桿，速度快運(yùn)作平穩(wěn)，線軌為怡信Easson精密線軌
2.10操作方式：多功能控制手柄、軟件編程、自動(dòng)檢測(cè)
2.11影像系統(tǒng)：日本SONY芯片 CCD高解析彩色攝影機(jī)
2.12影像擷取卡：怡信Easson自主設(shè)計(jì)影像測(cè)量儀專用卡
2.13物鏡：精密多段定倍PMS/普密斯鏡頭
2.14光學(xué)放大倍率：0.7×-4.5×。實(shí)際倍率：25-145×（配附加鏡片可達(dá)到10X-250X）
2.15照明系統(tǒng)：軟件內(nèi)控，采用五十二路光源多達(dá)40個(gè)方向角照射，增強(qiáng)影像界限，減少雜光影響，降低人為和產(chǎn)品帶來的不確定性。
2.16量測(cè)軟件： 美國Rational Vue高精度影像測(cè)量軟件
2.17工作機(jī)臺(tái)：高精度花崗巖平臺(tái)
2.18機(jī)臺(tái)承重：30kg
2.19整機(jī)重量：290 kg
2.20整機(jī)尺寸：1350 mm×800 mm×1700 mm
2.21電源：AC 220±5V、50Hz
2.22使用環(huán)境：溫度 20±3 ℃、濕度35%-65%
探針測(cè)量：
1.測(cè)針工作原理：
測(cè)針是測(cè)量系統(tǒng)的組成部分，當(dāng)測(cè)針的測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸時(shí)，測(cè)針頭變化帶動(dòng)測(cè)頭機(jī)構(gòu)產(chǎn)生信號(hào)，在經(jīng)過處理得出測(cè)量結(jié)果，達(dá)到檢測(cè)目的。
2.測(cè)針測(cè)量誤差來源
環(huán)境溫濕度，測(cè)針組成材料的剛度，測(cè)針頭的精度，測(cè)針頭與測(cè)針柄部螺紋同軸度，測(cè)針柄螺紋的精度，測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸位置。
建議在精密測(cè)量時(shí)，應(yīng)對(duì)測(cè)針進(jìn)行標(biāo)定，否則將降低測(cè)量精度。
3.測(cè)針選擇原則
1.測(cè)球直徑盡量大，已減少被測(cè)工件表面粗糙度對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。
2.測(cè)針盡量短，測(cè)針超短其彎曲或變形量越少，精度越高。
3.接頭盡量減少，每增加一個(gè)連接點(diǎn)，便增加了一個(gè)潛在的彎曲和變形點(diǎn)。
4.測(cè)針連接形式
螺紋或直柄連接
5.球形螺紋連接直測(cè)針的基本機(jī)構(gòu)
測(cè)針頭、測(cè)針桿、測(cè)針柄、加長桿、防撞保護(hù)座等。
探針測(cè)量包含 2 個(gè)菜單，分別為 “探針測(cè)量” 和 “三維輔助測(cè)量”。
“探針測(cè)量” 菜單主要用于進(jìn)行物體的單一測(cè)量，包含以下命令：
探針設(shè)置：進(jìn)行探針的一些常規(guī)設(shè)置，包括探針的校正等。
水平線測(cè)量：用于測(cè)量與水平面平行的直線。
水平圓測(cè)量：用于測(cè)量與水平面平行的圓。
空間點(diǎn)測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意一點(diǎn)，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
空間線測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意直線，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
空間圓測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意圓，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
解法設(shè)定：用于設(shè)定空間點(diǎn)、線、圓的補(bǔ)償方式，如是否投影到基準(zhǔn)面等等。
高度測(cè)量：用于測(cè)量物體在 Z 方向上的距離。
平面測(cè)量：用探針取至少 3 點(diǎn)用于擬合一個(gè)平面，以求得此
平面的平面度等參數(shù)。
球測(cè)量：用探針取至少 4 點(diǎn)用于擬合一個(gè)圓球，以求得球的直徑等參數(shù)。
圓筒測(cè)量：用探針取 6 點(diǎn)用于擬合一個(gè)圓筒，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
圓錐測(cè)量：用探針取 6 點(diǎn)用于擬合一個(gè)圓錐，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。
曲線測(cè)量：此命令用于測(cè)量空間任意一個(gè)平面上的曲線。
行為公差測(cè)量：平面度、平行度、垂直度、傾斜度、跳動(dòng)。
備注：探針有自動(dòng)回彈保護(hù)防撞功能。碰撞速度及回彈距離可根據(jù)測(cè)量要求自行設(shè)定。怡信測(cè)頭自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)可測(cè)頭與工件表面接觸的平穩(wěn)性并且測(cè)力的穩(wěn)定性及連續(xù)性，從而提高了產(chǎn)品的重復(fù)測(cè)量精度，Z軸測(cè)頭自動(dòng)回彈功能可防止強(qiáng)烈撞擊，提高了產(chǎn)品的耐用性及可靠性. 怡信測(cè)頭自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的產(chǎn)品數(shù)據(jù)可以IGS格式輸出并可以導(dǎo)入UG和TRE三維軟件中。 3.軟件特點(diǎn)
RationalVue是由美國知名計(jì)量軟件公司研發(fā)團(tuán)隊(duì)24年專業(yè)計(jì)量軟件的成功開發(fā)經(jīng)驗(yàn)、完全繼承了D無縫鏈接、100%圖形化顯示、快速拖拽式操作、實(shí)時(shí)數(shù)模比對(duì)、圖形報(bào)告多樣化。
一套美國RationalVue = 二維檢測(cè)比對(duì)軟件 CAD逆向軟件 Form分析軟件 輪廓掃描軟件 SPC統(tǒng)計(jì)分析軟件 形位公差評(píng)價(jià)， 美國RationalVue絕大部分功能實(shí)現(xiàn)只需要鼠標(biāo)的1-2次拖拽可完成。操作快捷、提高效率，拖放式操作：“鼠標(biāo)點(diǎn)擊” “鼠標(biāo)拖拽” = 強(qiáng)大功能的實(shí)現(xiàn)
3.1和同行比較突出功能：
1．可以運(yùn)行程序的過程中暫停執(zhí)行程序，并對(duì)某元素修改后，繼續(xù)向下測(cè)量。
2．大半徑小圓弧的測(cè)量
3．快速的影像對(duì)焦功能
4．自動(dòng)巡邊測(cè)量功能
5．批量設(shè)置元素的公差帶及名義值
6．可建立多重工件座標(biāo)系。并可以建立多重Z軸座標(biāo)系。
7．修改編輯及查看尋邊狀況
8．可以修改元素名稱及尺寸名稱，以與客戶圖紙一致。
9．功能強(qiáng)大的自定義報(bào)表功能
10．符合國家標(biāo)準(zhǔn)的形位公差計(jì)算能力
11．基于CAD，快速比對(duì)，可導(dǎo)入DXF格式的CAD文件CAD直接用于指導(dǎo)測(cè)量，并完成實(shí)際與理論的比對(duì)功能。使得測(cè)量效率提高了2-3倍?？赏瓿晌恢枚?、曲線輪廓度、曲面輪廓度等ISO形位公差的測(cè)量。
12．幾何測(cè)量功能
13．工件拼圖導(dǎo)航功能
14．特殊邊緣測(cè)量功能
15．毛刺過濾功能
16．強(qiáng)邊緣功能功能
17．對(duì)焦測(cè)量高度、平面度功能
18．強(qiáng)大的弱邊測(cè)量曲線輪廓掃描功能
19．美國RtionalVue具有專業(yè)的針對(duì)網(wǎng)板的測(cè)量工具，可輕松的實(shí)現(xiàn)網(wǎng)板直線的測(cè)量。
20．的形位公差計(jì)算（包括：二維和三維、形狀公差、位置公差、形位公差）。
21．完整的圖形構(gòu)造功能
22．SPC統(tǒng)計(jì)功能
23．逆向工程功能
24．特殊邊緣處理顏色過濾、灰度過濾功能
25．修改編輯及查看尋邊狀況：軟件可以修改編輯任何測(cè)量元素的尋邊范圍，光源亮度,倍率等。還可以查看之前測(cè)量的某個(gè)元素的尋邊狀況(包括尋邊的位置,所用的光源亮度,倍率及所采的原始點(diǎn)等)，以便用戶掌控測(cè)量的全過程的狀況.