可變電阻和電位器的檢測(cè)

首先測(cè)量?jī)晒潭ǘ酥g電阻值是否正常，若為無(wú)限大或?yàn)榱銡W，或與標(biāo)稱相差較大，超過(guò)誤差允許范圍，都說(shuō)明已損壞；對(duì)于正溫度系（PTC）熱敏電阻，在常溫下一般阻值不大，在測(cè)量中用燒熱的電烙鐵靠近電阻，這時(shí)阻值應(yīng)明顯增大，說(shuō)明該電阻正常，若無(wú)變化說(shuō)明元件損壞，負(fù)溫度系熱敏電阻則相反。電阻體阻值正常，再將萬(wàn)用表一只表筆接電位器滑動(dòng)端，另一只表筆接電位器（可調(diào)電阻）的任一固定端，緩慢旋動(dòng)軸柄，觀察表針是否平穩(wěn)變化，當(dāng)從一端旋向另一端時(shí)，阻值從零歐變化到標(biāo)稱值（或相反），并且無(wú)跳變或抖動(dòng)等現(xiàn)象，則說(shuō)明電位器正常，若在旋轉(zhuǎn)的過(guò)程中有跳變或抖動(dòng)現(xiàn)象，說(shuō)明滑動(dòng)點(diǎn)現(xiàn)電阻體接觸不良。

電阻器發(fā)展

1885年英國(guó)C.布雷德利發(fā)明模壓碳質(zhì)實(shí)芯電阻器。1897年英國(guó)T.甘布里爾和A.哈里斯用含碳墨汁制成碳膜電阻器。1913～1919年英國(guó)W.斯旺和德國(guó)F.先后發(fā)明金屬膜電阻器。1925年德國(guó)西門(mén)子-哈爾斯克公司發(fā)明熱分解碳膜電阻器，打破了碳質(zhì)實(shí)芯電阻器壟斷市場(chǎng)的局面。晶體管問(wèn)世后，對(duì)電阻器的小型化、阻值穩(wěn)定性等指標(biāo)要求更嚴(yán)，促進(jìn)了各類新型電阻器的發(fā)展。美國(guó)貝爾實(shí)驗(yàn)室1959年研制成 TaN電阻器。60年代以來(lái)，采用滾筒磁控濺射、激光阻值微調(diào)等新工藝，部分產(chǎn)品向平面化、集成化、微型化及片狀化方面發(fā)展。電阻器介紹滑動(dòng)變阻器能夠逐漸地改變連入電路的電阻，起到連續(xù)改變電流大小的作用，但不能準(zhǔn)確知道連入電路的電阻值。