

北京科儀創(chuàng)新真空技術(shù)有限公司
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氣體檢漏儀-氣體檢漏儀-科儀創(chuàng)新真空
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真空設(shè)備氦檢漏
工作原理與結(jié)構(gòu)
氦質(zhì)譜檢漏儀由離子源、分析器、收集器、冷陰極電離規(guī)組成的質(zhì)譜室和抽氣系統(tǒng)及電氣部分等組成。
①單級磁偏轉(zhuǎn)型氦質(zhì)譜檢漏儀
現(xiàn)以HZJ—l型儀器為例.介紹單級磁偏轉(zhuǎn)型氦質(zhì)譜檢漏儀。
在質(zhì)譜室內(nèi)有:由燈絲、離化室、離子加速極組成離子源;由外加均勻磁場、擋板及出口縫隙組成分析器;由抑制柵、收集極及高阻組成收集器;第1級放大靜電計管和冷陰極電離規(guī)。。
在離化室N內(nèi),氣體電離成正離子,在電場作用下離子聚焦成束。并在加速電壓作用下以一定的速度經(jīng)過加速極S1的縫隙進入分析器。在均勻磁場的作用下,具有一定速度的離子將按圓形軌跡運動,其偏轉(zhuǎn)半徑可計算。
可見,當(dāng)B和U為定值時,不同質(zhì)荷比me-1的離子束的偏轉(zhuǎn)半徑R不同。儀器的B和R是固定的,調(diào)節(jié)加速電壓U使氦離子束恰好通過出口縫隙S2,到達收集器D,形成離子流并由放大器放大。使其由輸出表和音響指示反映出來;而不同于氦質(zhì)荷比的離子束[(me-1)1(me-1)3]因其偏轉(zhuǎn)半徑與儀器的R值不同無法通過出口縫隙S2,所以被分離出來。(me-1)2=4,即He+的質(zhì)荷比,除He+之外,C卅很少,可忽略。
②雙級串聯(lián)磁偏轉(zhuǎn)型氦質(zhì)譜檢漏儀
由于兩次分析,減少了非氦離子到達收集器的機率。并且,如在兩個分析器的中間,即圖中的中間縫隙S2與鄰近的擋板間設(shè)置加速電場,使離子在進入第二個分析器前再次被加速。那些與氦離子動量相同的非氦離子,雖然可以通過第1個分析器,但是,經(jīng)第二次加速進入第二個分析器后,由于其動量與氦離子的不同而被分離出來。由于二次分離,儀器本底及本底噪聲顯著地減小,提高了儀器靈敏度。
③逆流氦質(zhì)譜檢漏儀
逆流氦質(zhì)譜檢漏儀是根據(jù)油擴散泵或分子泵的壓縮比與氣體種類有關(guān)的原理制成的。例如,多級油擴散泵對氦氣的壓縮比為102;對空氣中其它成分的壓縮比為lO4~106。檢漏時,通過被檢件上漏孔進入主抽泵前級部位的氦氣,仍有部分返流到質(zhì)譜室中去,并由儀器的輸出指示示出漏氣訊號。這就是逆流氦頃質(zhì)譜檢漏儀的工作原理。
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真空設(shè)備檢漏與維修
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真空設(shè)備檢漏
檢漏方法的分類
按被檢容器所處的狀態(tài)可分為兩大類,即加壓檢漏法和真空檢漏法。
(1)加壓檢漏法。在被檢容器內(nèi)充入一定壓力的氣體(稱試驗氣體或者探漏氣體)或液體,當(dāng)容器上存在漏孔時,氣體(或液體)便從漏孔中逸出,從哪里逸出,逸出量的多少等,就可判斷有無漏孔存在、漏孔位置和大小。屬于此類檢漏方法有:
水壓法:將清潔的水壓入被檢容器中,一般水壓在2~3個大氣壓左右,觀察容器外壁有無水珠出現(xiàn),根據(jù)水珠出現(xiàn)的位置大小和快慢,來確定漏孔位置和估計漏氣量的大小。
氣壓法:將試驗氣體(空氣或其他氣體)壓入被檢容器,在外面檢查有無氣體逸出,具體方法有:聲響、火焰、氣泡指示法(水槽法、皂膜法);氨檢漏法;鹵素檢漏儀和氨質(zhì)譜儀吸嘴法和放1射性同位素法。其中鹵素檢漏法是,金屬鉑在高溫(常用850~950℃)下產(chǎn)生正離子發(fā)射(主要是堿金屬離子),這種發(fā)射遇到鹵素氣體時急劇增加,依據(jù)這個現(xiàn)象可以制成一種檢漏儀器,即鹵素檢漏儀。
鉑的離子發(fā)射現(xiàn)象被設(shè)置在一個探頭中,探頭是一支二極電子管結(jié)構(gòu),加熱絲、陽極及不銹鋼陰極組成一間熱式二極管,后部安裝吸氣風(fēng)扇,使用時不斷吸進氣體,工作時二極管的陽極由燈絲加熱到850~950℃,陰極對陽極加有250V負電壓并收集正離子,離子電流由電子電路放大后,用儀表指示,考慮到檢漏時無暇觀察儀表指示,儀表還設(shè)有揚聲器,當(dāng)探
出漏孔時,儀器便發(fā)出聲音。
示漏氣體多用氯的鹵化物,如氟利昂、氯fang、四LV化碳等,其中以氟利昂無du、不可燃、蒸汽壓力高、靈敏度高被廣泛應(yīng)用。檢漏時,鹵素氣體充于被檢件內(nèi),用外探頭在外部
尋找漏孔。這種方法可檢出10-9 Pa·m3/s的漏孔,工業(yè)產(chǎn)品一般為10-6~10-7Pa·m3/s。
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