區(qū)別：NPO、X7R、Z5U和Y5V的主要區(qū)別是它們的填充介質(zhì)不同。在相同的體積下由于填充介質(zhì)不同所組成的電容器的容量就不同，隨之帶來的電容器的介質(zhì)損耗、容量穩(wěn)定性等也就不同。

NPO電容器

NPO是一種最常用的具有溫度補(bǔ)償特性的單片陶瓷電容器。它的填充介質(zhì)是由銣、釤和一些其它稀有氧化物組成的。

NPO電容器是電容量和介質(zhì)損耗最穩(wěn)定的電容器之一。在溫度從-55℃到 125℃時容量變化為0±30ppm/℃，電容量隨頻率的變化小于±0.3ΔC。NPO電容的漂移或滯后小于±0.05%，相對大于±2%的薄膜電容來說是可以忽略不計的。其典型的容量相對使用壽命的變化小于±0.1%。NPO電容器隨封裝形式不同其電容量和介質(zhì)損耗隨頻率變化的特性也不同，大封裝尺寸的要比小封裝尺寸的頻率特性好。下表給出了NPO電容器可選取的容量范圍。

封 裝 DC=50V DC=100V

0805 0.5---1000pF 0.5---820pF

1206 0.5---1200pF 0.5---1800pF

1210 560---5600pF 560---2700pF

2225 1000pF---0.033μF 1000pF---0.018μF

NPO電容器適合用于振蕩器、諧振器的槽路電容，以及高頻電路中的耦合電容。

貼片電容容值偏低？怎么解決？

1、量測儀器差異對量測結(jié)果的影響對策：

在測量貼片電容容值時將儀器調(diào)校并將儀器的設(shè)定電壓與實際加在產(chǎn)品兩端所測電壓盡量調(diào)整,使實際加載在待測物上的電壓和輸出電壓一致。

2、測試條件對量測結(jié)果的影響的對策：

對于不同容值的貼片電容會采用不同的測試電壓和測試頻率來量測其容值。

3、量測環(huán)境條件對量測結(jié)果的影響的解決對策：

將產(chǎn)品放置在20℃的環(huán)境下一段時間,使材料在較穩(wěn)定的測試環(huán)境下再進(jìn)行測試。

4、MLCC產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象的解決對策：

高溫烘烤：將測試容量偏低的產(chǎn)品放置在環(huán)境溫度為：150℃條件下烘烤1hour。然后在常溫25℃下放置24小時，再行測試，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)；

或者將測試容量偏低的產(chǎn)品浸至錫爐或過回流焊后，再進(jìn)行測試，容值將恢復(fù)到正常規(guī)格范圍內(nèi)。

在當(dāng)下市場貼片電容器隨著市場的不斷發(fā)展，為了維護(hù)芯片的正常工作，人們研制出了貼片電容這種元件。現(xiàn)如今發(fā)展?fàn)顩r呈現(xiàn)一片大好形勢，市場有效競爭將刺激并推動電容器技術(shù)的進(jìn)一步創(chuàng)新。而貼片電容也在電子工業(yè)應(yīng)用中起到了一定的作用。

 其貼片電容的作用電源濾波，電源，倍壓，吸收浪涌保護(hù)IC，基本工作原理就是充電放電，當(dāng)然還有整流、振蕩以及其它的作用等作用。它的外表是陶瓷做的，但不止只有一種，它還分玻璃電容、油紙電容、電解電容等。

為了滿足電子設(shè)備的整機(jī)向小型化、大容量化、高可靠性和低成本方向發(fā)展的需要，貼片電容本身也在迅速地發(fā)展：種類不斷增加，體積不斷縮小，性能不斷提高，技術(shù)不斷進(jìn)步，材料不斷更新，輕薄短小系列產(chǎn)品已趨向于標(biāo)準(zhǔn)化和通用化，其應(yīng)用正逐步由消費類設(shè)備向投資類設(shè)備滲透和發(fā)展。