貼片陶瓷電容系列產(chǎn)品被稱為非溫度補(bǔ)償性元件，即在不同的工作環(huán)境下，電容量會(huì)有比較顯著的變化，在不同的工作環(huán)境下，電容標(biāo)稱值與實(shí)際容值之間的差異。例如，在40℃的測(cè)試容量將比25℃的測(cè)試容量低了接近20%。由此可見(jiàn)，在外部環(huán)境溫度比較高的情況下，電容容值的測(cè)試值就會(huì)顯得偏低。

我們通常建議放置在20℃的環(huán)境下一段時(shí)間，使材料處于穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境下在進(jìn)行容值測(cè)試。

   貼片陶瓷電容產(chǎn)品材料老化現(xiàn)象

   材料老化是指電容的容值隨著時(shí)間降低的現(xiàn)象，這再所有以鐵電系材料做介電質(zhì)的材料產(chǎn)品中均有發(fā)生，是一種自然的不可避免的現(xiàn)象。原因是因?yàn)閮?nèi)部晶體結(jié)構(gòu)隨溫度和時(shí)間產(chǎn)生了變化導(dǎo)致了容值的下降，屬于可逆現(xiàn)象。當(dāng)對(duì)老化的材料施加高于材料居里溫度段時(shí)間后（建議進(jìn)行容值恢復(fù)所使用之條件為150℃/1hour），當(dāng)環(huán)境溫度恢復(fù)到常溫后（常溫25℃下放置24小時(shí)）,材料的分子結(jié)構(gòu)將會(huì)回到原始的狀態(tài)。材料將由此開(kāi)始老化的又一個(gè)循環(huán)，貼片電容的容值將恢復(fù)到正常規(guī)格之內(nèi)。

   用以上方式驗(yàn)證，把測(cè)試容量偏低的電容器浸在錫爐或者回流焊后，再進(jìn)行測(cè)試，容值會(huì)恢復(fù)到正常范圍之間。

在實(shí)際應(yīng)用中，電容器并不是一個(gè)純電容，其內(nèi)部還有等效電阻，它的簡(jiǎn)化等效電路對(duì)于電子設(shè)備來(lái)說(shuō)，要求RS愈小愈好，也就是說(shuō)要求損耗功率小，其與電容的功率的夾角要小。

 電容器的溫度特性。通常是以20℃基準(zhǔn)溫度的電容量與有關(guān)溫度的電容量的百分比表示。

 使用壽命，電容器的使用壽命隨溫度的增加而減小。主要原因是溫度加速化學(xué)反應(yīng)而使介質(zhì)隨時(shí)間退化。

 絕緣電阻，由于溫升引起電子活動(dòng)增加，因此溫度升高將使絕緣電阻降低。

電容器包括固定電容器和可變電容器兩大類(lèi)。

 其中固定電容器又可根據(jù)其介質(zhì)材料分為云母電容器、陶瓷電容器、紙/塑料薄膜電容器

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電阻是一個(gè)線性元件，說(shuō)它是線性元件，是因?yàn)橥ㄟ^(guò)實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)。

 在一定條件下，流經(jīng)一個(gè)電阻的電流與電阻兩端的電壓成正比——即它是符合歐姆定律：I=U/R

 常見(jiàn)的碳膜電阻或金屬膜電阻器在溫度恒定，且電壓和電流值限制在額定條件之內(nèi)時(shí)，可用線性電阻器來(lái)模擬。

如果電壓或電流值超過(guò)規(guī)定值，電阻器將因過(guò)熱而不遵從歐姆定律，甚至還會(huì)被燒毀。

 線性電阻的工作電壓與電流的關(guān)系電阻的種類(lèi)很多，通常分為碳膜電阻，金屬電阻，線繞電阻等：它又包含固定電阻與可變電阻，光敏電阻，壓敏電阻，熱敏電阻等。

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