貼片電容的“進(jìn)化”自發(fā)明以來一直生生不息，到如今已經(jīng)發(fā)展成一個擁有龐大市場的基礎(chǔ)元器件，而且隨著電容的作用逐漸擴展，其應(yīng)用領(lǐng)域也越來越廣泛。那么，你想看看未來的貼片電容將會如何嗎？

首先，微型化是一個大趨勢，在性能的保證下，貼片電容封裝肯定會越來越小，比如現(xiàn)在的主流封裝已從0603過渡到0402。而未來一定會出現(xiàn)比01005封裝更小高精密的貼片電容；其次，未來的貼片電容將大部分向片式方向生產(chǎn)。因為片式貼片電容的寄生電感幾乎為零，總的電感可以減小到元件本身的電感，通常只是傳統(tǒng)電容器寄生電感的1/3-1/5，自諧振頻率可達(dá)同樣容量的帶引線電容器的2倍以上；最后，高頻化也是貼片電容未來的趨勢，隨著電子產(chǎn)品對頻率的要求越來越高，而信號及其高次諧波引起的噪聲也相應(yīng)地出現(xiàn)在更高的頻率范圍，相應(yīng)地對貼片電容的高頻性能提出更高的要求。

 很多客戶買到貼片電容回去測試以后發(fā)現(xiàn)貼片電容的容值就有偏低的現(xiàn)象，這時可能會會認(rèn)為我們存在欺騙買家的行為，其實不是的。下面我們來分析一下貼片電容的容值為什么會偏低？導(dǎo)致貼片電容偏低的因素有什么？下面我們一起來分析一下。

  1. 測試條件對測量結(jié)果的影響

  對于貼片電容偏低的我們可以考慮一下測試條件對貼片電容容值的影響。對于不同容值的貼片電容需要采用不同的測試條件來測量容值，主要在測試電壓的設(shè)定和測試頻率的設(shè)定上有區(qū)別，貼片電容不同容值的測試條件為：

  電容AC電壓頻率

  容量＞10uF 1.0±0.2Vrms 120Hz

  1000pF＜容量≤10uF 1.0±0.2Vrms 1KHz

  容量≤1000pF 1.0±0.2Vrms 1MHz

  2. 測量儀器的差異對測量結(jié)果的影響

  大容量的電容（指1uF以上的容值）測量時更容易出現(xiàn)容值偏低的現(xiàn)象，造成這種現(xiàn)象的主要原因是施加在電壓兩端的實際電壓不能達(dá)到測試條件所需求的電壓，這是因為加在電容兩端的測試電壓由于儀器內(nèi)部阻抗分壓的原因與實際顯示的設(shè)定電壓不一致。為了使測量結(jié)果誤差降，我們建議將儀器調(diào)校并盡量把儀器的設(shè)定電壓跟實際加在電容兩端所測的電壓盡量調(diào)整，使實際于待測電容上輸出的電壓一致。

單相電容器分相投切型補償裝置，這類補償裝置中使用單相電力電容器

 調(diào)整不平衡電流型補償裝置，這類裝置中使用單相電力電容器，通過檢測三相電流來進(jìn)行綜合計算并控制各相電容器的投入方式和數(shù)量來達(dá)到補償和調(diào)整不平衡電流的目的。

 與分相補償裝置本質(zhì)不同的是，這類補償裝置利用了在相間跨接的電容器可以在相間轉(zhuǎn)移有功電流的原理。

 通過在各相與相之間及各相與零線之間接入不同數(shù)量電容器的方法，不但可以使各相的無功電流均獲得良好的補償，還可以將三相間的不平衡有功電流調(diào)整至平衡。

這類補償裝置用于三相電流不平衡的負(fù)荷情況時，具有無與倫比的使用效果。

 此類補償裝置結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，價格較高，由于是新技術(shù)所以使用量較少，但是必然會替代單相電容器分相投切型補償裝置。

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