負溫度系數(shù)熱敏電阻(NTC)的檢測

在電路中，當熔斷電阻器熔斷開路后，可根據(jù)經(jīng)驗作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦，可斷定是其負荷過重，通過它的電流超過額定值很多倍所致；如果其表面無任何痕跡而開路，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值。對于表面無負溫度系數(shù)熱敏電阻(NTC)的檢測：

 用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實際值。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感，故測試時應注意以下幾點：A Rt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的，所以用萬用表測量Rt時，亦應在環(huán)境溫度接近25℃時進行，以保證測試的可信度。B 測量功率不得超過規(guī)定值，以免電流熱效應引起測量誤差。C 注意正確操作。測試時，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響。

熱敏電阻是一種由過渡金屬氧化物作為主要材料制成的半導體陶瓷元件。

 它具有對溫度變化的良好反應;即溫度升高時電阻減小。

 因此根據(jù)電阻設定溫度可以進行溫度控制，所以采用NTC熱敏電阻和溫度傳感器來測試和控制溫度。

 熱敏電阻的關鍵技術參數(shù)

熱敏電阻非線性因素的解決方案

“熱敏電阻”一詞源于對“熱度敏感的電阻”這一描述的概括。新晨陽熱敏電阻包括兩種基本的類型，分別為正溫度系數(shù)熱敏電阻和負溫度系數(shù)熱敏電阻。負溫度系數(shù)熱敏電阻非常適用于高精度溫度測量。要確定熱敏電阻周圍的溫度，您可以借助Steinhart-Hart公式來實現(xiàn)。其中，T為開氏溫度;RT為熱敏電阻在溫度T時的阻值;而 A0、A1和A3則是由熱敏電阻生產(chǎn)廠商提供的常數(shù)。

您可以使用配備在微控制器上的參照表，嘗試對熱敏電阻的非線性響應進行補償。即使您可以在微控制器固件上運行此類算法，但您還是需要一個高精度轉換器用于在出現(xiàn)極端值溫度時進行數(shù)據(jù)捕獲。

另一種方法是，您可以在數(shù)字化之前使用“硬件線性化”技術和一個較低精度的 ADC。(Figure 1)其中一種技術是將一個電阻RSER與熱敏電阻RTHERM以及參考電壓或電源進行串聯(lián)(見圖1)。將PGA(可編程增益放大器)設置為1V/V，但在這樣的電路中，一個10位精度的ADC只能感應很有限的溫度范圍(大約±25°C)。

影響熱敏電阻器性能的其它參數(shù)是自加熱

影響熱敏電阻器性能的其它參數(shù)是自加熱，熱時間常數(shù)和誤差。

 一個熱敏電阻的效果是基于電阻-溫度曲線，它提供了用于評估熱敏電阻的測量值的標準上。

 電阻-溫度曲線是影響其測量的首要因素。根據(jù)依賴于該熱敏電阻材料的曲線與溫度的熱敏電阻的電阻而變化。

 典型的熱敏電阻器可具有幾千歐姆的電阻在其測量范圍內(nèi)，只有幾百歐姆的上層溫度端的低溫端。

熱敏電阻通常是用半導體材料制成的，它的電阻隨溫度變化而急劇變化。

 熱敏電阻分為負溫度系數(shù)熱敏電阻和正溫度系數(shù)（PTC）熱敏電阻兩種。

 NTC熱敏電阻的體積很小，其阻值隨溫度變化比金屬電阻要靈敏得多，因此，它被廣泛用于溫度測量、溫度控制以及電路中的溫度補償、時間延遲等。