電子斷層掃描-工業(yè)ct斷層掃描-斷層掃描ct
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在線 CT 掃描機可在生產過程中 100% 檢驗已加工的塑料部件和輕量化金屬組件–即使在惡劣的生產環(huán)境中也是如此。該 CT 掃描機會自動輸出測量結果是否合格,進而挑出異常的工件。
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用 ZEISS METROTOM 計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精準,且具可追溯性。和接觸式測量方法不同,ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時,時間顯著縮短。
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓課程,操作人員即可對零件進行掃描,透視零件的內部。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數據,再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
蔡司上海公司是德國蔡司的全資子公司,下設北京、廣州辦事處,上海演示中心(Shanghai Demo Center),深圳演示中心(Shenzhen Demo Center),深圳應用服務中心(Shenzhen Competence Center)等多個辦事處與服務中心,負責德國蔡司在大中華地區(qū)的銷售、安裝、培訓、服務及技術支持。其中深圳應用服務中心配備工業(yè)CT與各種測量機供演示和無損檢測與測量服務,應用工程師與服務工程師全部具備德國標準的技術能力和敬業(yè)精神。
Xradia Ultra 納米級 X 射線顯微鏡系列是一款商用化的 X 射線顯微鏡,裝配有可實現同步輻射質量的射線源,并能夠提供 <50nm 的真實空間分辨率及最小 16nm 的三維像素。