晶體管特性測試儀
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西安天光測控技術(shù)有限公司

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品牌 天光測控
型號 ST-SP 2001
測量范圍 0~2000V,0~100A
測量精度 1mV,10pA
測試范圍 19類器件(IGBT,MOS,Diode等)
測試項目 靜態(tài)參數(shù)及曲線追蹤掃描
商品介紹


晶體管特性測試儀
ST-SP2001


可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極2000V / 50~1250A,分辨率最高至1mV / 10pA


支持曲線掃描圖示功能


?產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
軍工院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機(jī)、白色家電、新能源汽車、軌道機(jī)車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進(jìn)行測試,查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產(chǎn)線自動化測試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實現(xiàn)規(guī)?;?、自動化測試)


?產(chǎn)品簡述
      產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng),通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座,自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了
系統(tǒng)操作。通過功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計算機(jī)獨立完成多種工作。

      曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線,可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù),典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET 
RDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外, 針對多條曲線,設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快,更簡潔的創(chuàng)建曲線(單擊,雙擊,選擇輸入菜單,單擊)。就是這么簡單。設(shè)備支持在單個 DUT 上運行高達(dá) 10 條不同曲線的能力,在運行過程中,每個圖表都是可視的,每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運行速度快,可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄,提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱,能夠運行多條曲線并自動排序,自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格,具有縮放功能,光標(biāo)重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。

      系統(tǒng)提供與機(jī)械手、探針臺、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。








?可供選擇的曲線

產(chǎn)品目錄
? 晶體管圖示儀(曲線追蹤儀)
? 半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)。
? 靜態(tài)測試設(shè)備:包括導(dǎo)通、關(guān)斷、擊穿、漏電、增益等直流參數(shù)
? 動態(tài)測試設(shè)備:包括 Tr, Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等
? 環(huán)境老化測試:包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等
? 熱特性測試:包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等
? 測試范圍:Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。

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公司名稱 西安天光測控技術(shù)有限公司
聯(lián)系賣家 張先生
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