火花直讀光譜儀鋼研納克儀器 光譜分析儀
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火花直讀光譜儀鋼研納克儀器 光譜分析儀
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器 光譜分析儀
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器 光譜分析儀
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器 光譜分析儀

火花直讀光譜儀鋼研納克儀器-光譜分析儀

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商品參數(shù)
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商品介紹
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像素 3648
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
譜線范圍 130-640nm
分辨率 優(yōu)于 0.01nm
商品介紹
直讀光譜儀器的誤差來源有哪些?
1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差,一般包括儀器的本身波動;樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差(標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測方法不一致,這樣檢測結(jié)果會有方法上的差異;同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動);待測樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異,可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差,如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差,如試樣不均勻;檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化;樣品本身的成分差異等。
3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果,可以避免。如制樣不精確,樣品前處理不符合要求,控樣和待測試樣存在制樣偏差,選擇了錯誤的分析程序等。
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器,直讀光譜分析儀 元素分析
直讀光譜儀保養(yǎng)三要素:
激發(fā)臺
在激發(fā)系統(tǒng)中其基本維護(hù)的部位為激發(fā)臺內(nèi)部,激發(fā)臺內(nèi)部是否清潔、電極極距是否穩(wěn)定,激發(fā)臺發(fā)光弧焰相對于光學(xué)系統(tǒng)的高度等,均會影響我們的數(shù)據(jù)結(jié)果。
1、拔出廢氣管,用吸塵器清理激發(fā)腔中的灰塵;
2、使用脫脂棉沾純酒精擦拭護(hù)套;
3、清理完成,用極距規(guī)重新測量一次分析間距;
4、再用氬氣沖洗整個回路2~3分鐘,以沖掉進(jìn)入火花臺的空氣。
透鏡
聚光透鏡是樣品被激發(fā)而發(fā)出的光進(jìn)入分光儀的通道,必須保持鏡面清潔干凈。但長期使用聚光鏡會受到污染,其外表面附著一層茶褐色物質(zhì),時間越長,沉積 越厚。激發(fā)產(chǎn)生的金屬粉末也會粘附在透鏡的外表面上,降低光的透過率,可使全部元素的光強(qiáng)降低,特別是遠(yuǎn)紫外元素C,P,S更是明顯。
聚光透鏡的表面用脫脂棉,蘸上乙醇的混合液少許,從聚光鏡中心向外逐圈擦拭。如污染嚴(yán)重可用力多擦幾遍,直到擦去污物再用干棉花球擦去水印即可。
特別應(yīng)該注意的,聚光鏡是石英材質(zhì)的,不能用硬的物體(絕不能用金屬鑷夾棉花),以免劃傷透鏡面。
廢棄桶
氬氣為惰性氣體,對人體無直接危害。但是火花臺在激發(fā)樣品后產(chǎn)生的部分灰塵會由氬氣吹走,尾氣管變黑,時間長了需要清理以保證氣路的暢通與清潔。激發(fā)后產(chǎn)生的廢氣,其主要成分是氬氣含有激發(fā)后的金屬粉塵,人長期直接吸入后,會造成矽肺、眼部損壞等情況,對人的身體帶來極大的危害。直讀光譜儀的尾氣管可采用透明塑料管,在安裝時將它插入水中即可;如果管壁變黑,并且不透明,則需要更換尾氣管。
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器,直讀光譜分析儀 元素分析
Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢
?高靈敏度 CMOS 檢測器
?像素數(shù):4096,全行業(yè)
?像素尺寸: 7μm,全行業(yè)小
?精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量
?線性度好,圖像滯后小
?工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無像差,分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,全行業(yè)
?線分辨率: 0.7407nm/mm
?像素分辨率 :0.005926nm
?譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
?潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時)啟動只需 30min,熱機(jī)啟動時間 5min
?智能判斷分析間隔時間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時待機(jī) 70 天
?一次激發(fā),分片曝光,同時采集,同時回數(shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時間
?提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時間,提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源(國家專利技術(shù) 專利號 ZL 201010118150.4)
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF(平均無故障間相隔時間)> 5000 小時
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜,加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng),溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式,數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集,采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動扣除元素間加合、倍增干擾,分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動校準(zhǔn)像素漂移,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段,自動匹配,分析范圍廣
?未知樣品自動匹配分析程序
?簡潔清新、功能強(qiáng)大
?多語言版本(中、英、俄、德)
?智能冶煉配料計算
?牌號識別
?支持碳當(dāng)量等自動計算功能
火花直讀光譜儀鋼研納克儀器,直讀光譜分析儀 元素分析
現(xiàn)在有些品牌號稱能夠用火花直讀光譜儀(OES)直接分析灰口鑄鐵,不知道是否可信。畢竟幾十年的(OES)工作經(jīng)驗(yàn),告訴我們,灰口鑄鐵必須白口化(也就是急冷使得片狀石墨的灰鐵變成游離碳化物,以滲碳體的白口鑄鐵),才能用光譜儀分析。
直讀光譜儀是用電弧(火花)的高溫使樣品中各種元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長,經(jīng)光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的檢測器,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機(jī)處理,并計算出各元素的百分含量。
-/hbahabd/-
聯(lián)系方式
公司名稱 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
聯(lián)系賣家 文先生 (QQ:415905311)
電話 䀍䀋䀍-䀌䀑䀋䀒䀑䀋䀒䀒
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傳真 䀍䀋䀍-䀌䀑䀋䀒䀑䀋䀔䀔
地址 北京市