日本KETT膜厚計數(shù)據(jù)管理軟件Multi-PROP
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數(shù)據(jù)管理軟件“數(shù)據(jù)記錄器KDL-01”
數(shù)據(jù)管理軟件“數(shù)據(jù)記錄器LDL-01/-02/-03”
膜厚計數(shù)據(jù)管理軟件McWAVE系列
膜厚計數(shù)據(jù)管理軟件Multi PROP
電磁膜厚計LE-200J
渦電流膜厚計LH-200J
デュアルタイプ膜厚計LZ-200J
電磁膜厚計LE-373
渦電流膜厚計LH-373
デュアルタイプ膜厚計LZ-373
デュアルタイプ膜厚計LZ-990?エスカル?
未乾燥塗膜厚測定ゲージ「ウェットゲージ」
薄膜厚測定器「ストランドゲージ」
デュアルタイプ膜厚計エルニクス8500 Basic/Premium
マルチ測定システム フィッシャースコープMMS PC2
デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープFMP100
電磁膜厚計デルタスコープFMP30
渦電流膜厚計イソスコープFMP30
デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0R-USB
デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープMP0R-FP
油膜塗布量測定器マイクロダームBTF
ガラス上膜厚測定器マイクロダームHH-3Pm
膜厚計測定スタンドLW-990
プリンタVZ-330
データ管理ソフトウェア「データロガー KDL-01」
データ管理ソフトウェア「データロガー LDL-01/-02/-03」
膜厚計データ管理ソフトウェアMcWAVEシリーズ
膜厚計データ管理ソフトウェアMulti PROP
測定方式 | 電磁感應(yīng)式或渦流式 |
測量對象 | 磁性金屬上的非磁性涂層或非磁性金屬上的絕緣涂層 |
測量范圍 | 0~1500μm/99.0milsまたは0~1200μm/47.0mils |
測量精度 | 50μm以下:±1μm、50μm以上1000μm以下:±2%、1000μm以上:±3% |
分解能 | 100μm以下:0.1μm、100μm以上:1μm |
數(shù)據(jù)存儲器數(shù) | 約3000點 |
校準線存儲器 | 應(yīng)用存儲器:電磁感應(yīng)式50個,渦流式50個の検量線を記憶 |
探測 | 一點接觸式(LEP-J) |
顯示方示 | 數(shù)字(帶背光的LCD,顯示位0.1μm) |
外部輸出 | 電腦(USB或RS-232C)、打印機(RS-232C) |
電源 | 電池1.5V(單3堿)×4 |
耗電 | 80mW(背光燈不亮時) |
電池壽命 | 100小時(背光燈未亮時,連續(xù)使用) |
使用溫度范圍 | 0~40℃ |
附加功能 | 各種設(shè)定16種 |
尺寸和質(zhì)量 | 75(W)×145(D)×31(H)㎜、0.34Kg |