PlasmaMS 300電感耦合等離子體質(zhì)譜
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PlasmaMS-300電感耦合等離子體質(zhì)譜

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商品介紹
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測(cè)試范圍 2-255amu
功率 600-1600W連續(xù)可調(diào)
測(cè)量精度 0.5-1.1amu連續(xù)可調(diào)
型號(hào) PlasmaMS 300
矩管材質(zhì) 石英
生產(chǎn)廠家 鋼研納克
商品介紹
非質(zhì)譜干擾(物理干擾)是PlasmaMS 300中存在的兩種主要干擾中的一種。 非質(zhì)譜干擾主要包括: 1.質(zhì)譜內(nèi)沉積物:可以通過(guò)適當(dāng)?shù)那鍧嵍档汀?br>2.樣品基體:這種干擾有時(shí)候可通過(guò)不同的樣品制備方法或適合的性能選項(xiàng)來(lái)降低,如使 用超聲霧化器(ultrasonic nebulizer ,USN) 或者氬氣稀釋器(Argon Gas Dilution???) 。
有五種方法可以用來(lái)校正這種類型的干擾,按照從易到難的順序排列在下面:
1. 如果檢出限允許的話,簡(jiǎn)單的辦法是對(duì)樣品進(jìn)行稀釋。
2. 使用內(nèi)標(biāo)校正
3. 使用標(biāo)準(zhǔn)加入法
4. 氬氣稀釋 (前提是需要使用ESI進(jìn)樣系統(tǒng))
5. 采用化學(xué)分離法將樣品中的基體進(jìn)行分離去除 非質(zhì)譜干擾(物理干擾)的存在有兩種表現(xiàn)形式:信號(hào)抑制、信號(hào)漂移。其中內(nèi)標(biāo)校正是使
用廣泛的用來(lái)校正物理干擾的技術(shù)手段。
在進(jìn)行多樣品序列分析時(shí),內(nèi)標(biāo)可以用來(lái)校正隨著時(shí)間推移而發(fā)生的信號(hào)漂移。實(shí)驗(yàn)室環(huán) 境變化、樣品基體變化、樣品粘度變化等因素都會(huì)引起信號(hào)的漂移。錐口鹽沉積也會(huì)引起 信號(hào)的漂移。
如果需要測(cè)量的元素覆蓋的質(zhì)量區(qū)間范圍很大 (例如方法中既包含高質(zhì)量元素,也包含中 質(zhì)量元素或輕質(zhì)量元素),使用多種內(nèi)標(biāo)進(jìn)行校正。
在本章第三節(jié)(內(nèi)標(biāo)選擇)中已經(jīng)詳細(xì)介紹過(guò)內(nèi)標(biāo)的使用原則,用戶可以進(jìn)行參考。
標(biāo)準(zhǔn)加入法是另外一種廣泛使用的用來(lái)校正非質(zhì)譜干擾的手段。當(dāng)基體抑制效應(yīng)無(wú)法通過(guò) 稀釋或基體剝離來(lái)去除的時(shí)候,可以用標(biāo)準(zhǔn)加入法來(lái)降低干擾。
PlasmaMS 300電感耦合等離子體質(zhì)譜,icp質(zhì)譜
PlasmaMS 300 的污染控制
在使用PLASMAMS 300進(jìn)行分析的時(shí)候,必須盡可能控制污染。污染會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)出錯(cuò),其結(jié)果是 背景增高,從而導(dǎo)致檢出限提高。
污染來(lái)源: 1.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境:空氣中的塵埃(特別是Al)是常見(jiàn)的污染源。通過(guò)過(guò)濾、凈化空氣和高 效濾網(wǎng)(HEPA),降低污染源。
2. 水:去離子化系統(tǒng)生產(chǎn)的水其阻抗需達(dá)到18.2Mohm/cm。
3.試劑:應(yīng)用于樣品和標(biāo)品中酸、溶劑和鹽必須為高純度。移液管或其他器具不應(yīng)接觸試 劑容器。能小量分裝后用一次性移液器移取。
PLASMAMS 300使用的容器:FEP, PTFE, LDPE, HDPE, PMP 和 PP等應(yīng)先使用酸洗。 樣品制備:減少稀釋步驟,使用一次性塑料微量移液器頭(酸洗),在通風(fēng)櫥里面準(zhǔn)備。 要排查污染來(lái)源往往是漫長(zhǎng)而艱難的工作。因此,建議用戶遵循“按部就班”的方式
(Step-by-step approach)來(lái)進(jìn)行污染控制:
? 儀器背景(Instrument background)
? 水空白(Water blank)
? 酸空白(Dilute acid blank)
? 樣品空白(Sample preparation blank)
Step-by-step approach實(shí)際上是檢查實(shí)驗(yàn)過(guò)程中用到的所有空白,來(lái)尋找污染的來(lái)源。 污染可存在于儀器、水、稀釋液、酸、試劑、樣品空白或儲(chǔ)存容器中。
污染也可能存在于標(biāo)樣母液中。下圖示例就是在Ca元素單標(biāo)溶液中存在著Ba和Sr的污染:
上圖中所展示的受到Sr和Ba污染的Ca標(biāo)液是AA級(jí)別的,用戶應(yīng)當(dāng)從正規(guī)供應(yīng)商處采購(gòu)合適純度級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
PlasmaMS 300電感耦合等離子體質(zhì)譜,icp質(zhì)譜
ICP-MS的標(biāo)準(zhǔn)加入法
基體抑制是由基體帶來(lái)的物理干擾或化學(xué)干擾導(dǎo)致的。 使用標(biāo)準(zhǔn)加入法時(shí): 1.首先將少量已知量的分析物添加到預(yù)制的分析樣品中;
2.然后對(duì)這些包含了標(biāo)準(zhǔn)加入物的樣品進(jìn)行再測(cè)定,并繪制出濃度曲線;
3.該曲線在濃度軸(X 軸)上的截距即為樣品中分析物的濃度,
4.該曲線的實(shí)驗(yàn)空白(即未加標(biāo)樣品)CPS(即 Y 軸上的截距),即為樣品中分析物的 CPS;
5.標(biāo)準(zhǔn)加入法得到的圖形斜率即為該基體中樣品的分析靈敏度。
6.標(biāo)準(zhǔn)加入法避免了配置標(biāo)準(zhǔn)曲線,相當(dāng)于進(jìn)行了完全的基體匹配。
7.后續(xù)樣品如果基體和該加標(biāo)樣完全一致,則相當(dāng)于該方法也為后續(xù)未知樣品提供了基體 匹配,該加標(biāo)曲線可以直接用于后續(xù)樣品的全定量測(cè)定。
基體效應(yīng)以外的干擾并不能通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)加入法消除,但是可以通過(guò)空白扣減來(lái)消除,前提是 用來(lái)扣減的空白溶液中和樣品中含有的干擾水平是一致的。
PlasmaMS 300電感耦合等離子體質(zhì)譜,icp質(zhì)譜
PlasmMS 300在生物醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
一般說(shuō)來(lái),生物樣品(例如血樣)都含有高基體。分析這些類型的樣品需要對(duì)進(jìn)樣系統(tǒng)和錐 口部分(ft end)進(jìn)行高頻率的維護(hù)。根據(jù)需要的檢測(cè)限,通常上機(jī)前都需要對(duì)這些樣品進(jìn) 行基體匹配和稀釋。
生物樣品中一些特殊元素的干擾,例如:
ArC 干擾 52Cr
ArAr 干擾 80Se & 78Se ArCl 干擾 75As
ArNa 干擾 63Cu
這些干擾可通過(guò)使用 CCT 消除,其能維持高功率,將難電離元素(As 和 Se 等)進(jìn)行電離, 從而解決高生物基體的問(wèn)題。
應(yīng)用領(lǐng)域
體液中的全元素分析,如血液、尿液、血清 生物醫(yī)學(xué)健康研究利用同位素追蹤評(píng)估機(jī)體功能和身體受污染程度。
-/hbahabd/-
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公司名稱 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
聯(lián)系賣家 文先生 (QQ:415905311)
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