? 光學(xué)分辨率 10 μm, 15 μm,20 μm 或25 μm

? 電路板尺寸
。電路板可測尺寸 TR7550 50 x 50 – 510 x 460 mm
TR7550L 50 x 50 – 660 x 610 mm
TR7550LL 50 x 50 – 850 x 610 mm
。電路板可測厚度 0.5 – 5 mm

TRI 之自動光學(xué)檢測（AOI, Automated Optical Inspection）機系列，針對輕薄短小、密度高之電子產(chǎn)品的檢測需求而開發(fā)，利用光學(xué)影像的檢測，在不需測試治具、不需電子量測且不破壞產(chǎn)品的情況下，可有效檢出組件的各種不良制程。

TR7550 SII 、除了提供雙軌結(jié)構(gòu)的選擇之外，升級到 64 位的作業(yè)環(huán)境可避免 32 位內(nèi)存限制問題。此關(guān)鍵的升級并配合多核心計算技術(shù)，提供強大的運算能力，以提高操作系統(tǒng)效能。加上擴充的儲存容量，不僅 FOV 畫素倍增，減少掃描道數(shù)，可減少一半檢測時間，并提供 TR7550 升級方案，為一更先進的 PCBA 檢測架構(gòu)