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大尺寸LCD驅(qū)動(dòng)IC的特點(diǎn)

大尺寸LCD驅(qū)動(dòng)IC的特點(diǎn)

，高電7a6431333365643535壓工藝。模擬電路中電壓越高，驅(qū)動(dòng)能力越強(qiáng)，因此大尺寸LCD驅(qū)動(dòng)IC采用高電壓制造工藝，通常Source Driver IC為10~12V， Gate Driver IC更高，達(dá)40V。

第二，運(yùn)行頻率高。液晶顯示器的分辨率越來(lái)越高，這就意味著掃描列數(shù)的增加， Gate Driver IC必須不斷提高開(kāi)關(guān)頻率， Source Driver IC必須不斷提高掃描頻率。

第三，封裝工藝特殊。LCD驅(qū)動(dòng)IC通常綁定在LCD面板上，因此厚度必須盡可能地薄，通常采用高成本的TCP封裝。還有特別追求薄的，采用COG封裝，再有就是目前正在興起的COF封裝。

第四，管腳數(shù)特別多。Gate Driver IC少256腳， Source Driver IC少384腳。

第五，單一型號(hào)出貨量特別大。驅(qū)動(dòng)IC 單月平均出貨量高達(dá)1.5億片，而其中平均每個(gè)型號(hào)的出貨量達(dá)差不多在300萬(wàn)片左右。LCD 的構(gòu)造是在兩片平行的玻璃當(dāng)中放置液態(tài)的晶體，兩片玻璃中間有許多垂直和水平的細(xì)小電線(xiàn)，透過(guò)通電與否來(lái)控制桿狀水晶分子改變方向，將光線(xiàn)折射出來(lái)產(chǎn)生畫(huà)面。

線(xiàn)性L(fǎng)ED驅(qū)動(dòng)IC跟非線(xiàn)性L(fǎng)ED驅(qū)動(dòng)IC的區(qū)別

壓降比較大或知者驅(qū)動(dòng)電流大的時(shí)候，線(xiàn)性的功耗大，效率低，開(kāi)關(guān)的功耗小，。不過(guò)如果壓降不大或者電流小，線(xiàn)性驅(qū)動(dòng)的電流穩(wěn)定，道并且用的原件要遠(yuǎn)遠(yuǎn)少于開(kāi)關(guān)的。

驅(qū)動(dòng)方法

利用電流值的調(diào)節(jié)方法

利用脈沖幅變調(diào)技術(shù)的調(diào)節(jié)方法

電流值的調(diào)節(jié)方法主要版是改變電流值調(diào)節(jié)的亮度，此處假設(shè) 時(shí)的光度為1倍，白光的光度與電流變化時(shí)的光度變成1.7倍， 時(shí)的光度變成3倍，雖然照度與電流值并權(quán)不是比例關(guān)系，不過(guò)紅光卻呈比例關(guān)系，主要原因是紅、綠、藍(lán)的晶片物性彼此相異所致。

用什么直流電機(jī)驅(qū)動(dòng)芯片（二）

2 ML4428原理圖及功能實(shí)現(xiàn)

ML4428電機(jī)控制器不用霍爾傳感器就可為Y形無(wú)刷直流電機(jī)(BLDC)提供起動(dòng)和調(diào)速所需的各種功能。它采用28腳雙列表面SOIC封裝，它的內(nèi)部框圖如圖1所示〔1〕，ML4428使用鎖相環(huán)技術(shù)，從電機(jī)線(xiàn)圈檢測(cè)反電勢(shì)，確定換向次序；采用專(zhuān)門(mén)的反電勢(shì)檢測(cè)技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)三相無(wú)刷直流換向且不受PWM噪聲及電機(jī)緩沖電路的影響；采用了檢查轉(zhuǎn)子位置并準(zhǔn)確對(duì)電機(jī)加速的起動(dòng)技術(shù)，確保起動(dòng)時(shí)電機(jī)不會(huì)反轉(zhuǎn)并可縮短起動(dòng)時(shí)間。

2.1 反電勢(shì)檢測(cè)信號(hào)的獲得

無(wú)位置傳感器無(wú)刷直流電動(dòng)機(jī)的控制與有位置傳感器無(wú)刷直流電機(jī)控制的根本區(qū)別就是利用反電勢(shì)的波形尋找換向點(diǎn)。當(dāng)永磁無(wú)刷直流電動(dòng)機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，各相繞組的反電動(dòng)勢(shì)(EMF)與轉(zhuǎn)子位置密切相關(guān)。由于各相繞組是交替導(dǎo)通工作的，在某相不導(dǎo)通的時(shí)刻，其反電動(dòng)勢(shì)波形的某些特殊點(diǎn)，可代替轉(zhuǎn)子位置傳感器的功能，得到所需要的信息。

由于對(duì)于單相反電動(dòng)勢(shì)波形圖，反電動(dòng)勢(shì)過(guò)零點(diǎn)30°處對(duì)應(yīng)繞組的換向信號(hào)，找出反電動(dòng)勢(shì)過(guò)零點(diǎn)，即反電動(dòng)勢(shì)檢測(cè)的任務(wù)〔2〕。基于這一原理，在該芯片內(nèi)設(shè)計(jì)了一個(gè)獨(dú)特的反電勢(shì)檢測(cè)電路(見(jiàn)圖2)，由于有了中點(diǎn)模擬電路，不需從電機(jī)三相繞組中引出中線(xiàn)