火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
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火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀

火花式直讀光譜儀-元素分析光譜儀

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像素 3648
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線(xiàn) 2700 條 /mm
譜線(xiàn)范圍 130-640nm
分辨率 優(yōu)于 0.01nm
商品介紹
Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?高靈敏度 CMOS 檢測(cè)器
?像素?cái)?shù):4096,全行業(yè)
?像素尺寸: 7μm,全行業(yè)小
?精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量
?線(xiàn)性度好,圖像滯后小
?工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無(wú)像差,分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線(xiàn)為 2700 條 /mm,全行業(yè)
?線(xiàn)分辨率: 0.7407nm/mm
?像素分辨率 :0.005926nm
?譜線(xiàn)范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
?潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時(shí))啟動(dòng)只需 30min,熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min
?智能判斷分析間隔時(shí)間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
?一次激發(fā),分片曝光,同時(shí)采集,同時(shí)回?cái)?shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時(shí)間
?提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間,提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源(國(guó)家專(zhuān)利技術(shù) 專(zhuān)利號(hào) ZL 201010118150.4)
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF(平均無(wú)故障間相隔時(shí)間)> 5000 小時(shí)
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無(wú)需清理
?硅膠加熱膜,加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng),溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式,數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線(xiàn)程數(shù)據(jù)采集,采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾,分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動(dòng)校準(zhǔn)像素漂移,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線(xiàn)分段,自動(dòng)匹配,分析范圍廣
?未知樣品自動(dòng)匹配分析程序
?簡(jiǎn)潔清新、功能強(qiáng)大
?多語(yǔ)言版本(中、英、俄、德)
?智能冶煉配料計(jì)算
?牌號(hào)識(shí)別
?支持碳當(dāng)量等自動(dòng)計(jì)算功能
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠(chǎng)家
直讀光譜儀器的誤差來(lái)源有哪些?
1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差,一般包括儀器的本身波動(dòng);樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差(標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致,這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異;同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng));待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異,可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過(guò)程中的誤差,如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無(wú)規(guī)律性的誤差,如試樣不均勻;檢測(cè)時(shí)周?chē)臏貪穸?、電源電壓等的變化;樣品本身的成分差異等?br>3)過(guò)失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果,可以避免。如制樣不精確,樣品前處理不符合要求,控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差,選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠(chǎng)家
任何精密儀器想要測(cè)定出準(zhǔn)確的數(shù)據(jù),必須在一定的工作條件下運(yùn)行,環(huán)境對(duì)分析儀器的性能、可靠性、測(cè)量結(jié)果和使用壽命都有很大的影響。外部環(huán)境變化嚴(yán)重時(shí)還會(huì)對(duì)儀器造成損壞,縮短儀器的使用壽命。
一般情況下儀器越精密,對(duì)外部的工作條件要求就越高,火花直讀光譜儀作為精密儀器也不例外,應(yīng)置于干燥、通風(fēng)、無(wú)振動(dòng)且無(wú)酸堿性氣體侵蝕的室內(nèi),同時(shí)室內(nèi)應(yīng)備有雙層窗簾,以避免受強(qiáng)光直接照射。
火花直讀光譜儀是由光學(xué)、電子、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)等技術(shù)精密結(jié)合而成的光譜儀器,是定量分析測(cè)定元素含量的重要儀器,只有規(guī)范使用、并加強(qiáng)儀器維護(hù)、定期檢查儀器的性能指標(biāo),才能獲得準(zhǔn)確可靠的分析結(jié)果。
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠(chǎng)家
儀器測(cè)定結(jié)果偏差較大,分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確,如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩(wěn)定:檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿(mǎn)足分析要求;
3)激發(fā)控樣:若控樣分析結(jié)果良好,說(shuō)明儀器性能不存在問(wèn)題,待測(cè)樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結(jié)果也存在較大問(wèn)題時(shí),應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化;
5)清理火花臺(tái),擦拭透鏡或平鏡,清理排污通道,更換氬氣等,然后重新校準(zhǔn)曲線(xiàn);
6)外界條件符合要求:室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi);電源電壓穩(wěn)定;周?chē)鸁o(wú)大功率、強(qiáng)輻射電器運(yùn)作;地線(xiàn)連接良好等;
7)對(duì)部分基體中的特別元素需要延長(zhǎng)儀器穩(wěn)定時(shí)間。
若還存在問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系鋼研納克售后工程師。
-/hbahabd/-
聯(lián)系方式
公司名稱(chēng) 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
聯(lián)系賣(mài)家 文先生 (QQ:415905311)
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