火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
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火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀
火花式直讀光譜儀 元素分析光譜儀

火花式直讀光譜儀-元素分析光譜儀

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商品介紹
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像素 3648
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
譜線范圍 130-640nm
分辨率 優(yōu)于 0.01nm
商品介紹
Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術優(yōu)勢
?高靈敏度 CMOS 檢測器
?像素數(shù):4096,全行業(yè)
?像素尺寸: 7μm,全行業(yè)小
?精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量
?線性度好,圖像滯后小
?工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結構羅蘭光學系統(tǒng),無像差,分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,全行業(yè)
?線分辨率: 0.7407nm/mm
?像素分辨率 :0.005926nm
?譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
?潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(關機 12 小時)啟動只需 30min,熱機啟動時間 5min
?智能判斷分析間隔時間,合理補充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機流量,一瓶氬氣 24 小時待機 70 天
?一次激發(fā),分片曝光,同時采集,同時回數(shù)
?獨立控制不同 CMOS 的積分曝光時間
?提升痕量元素的強度,降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時間,提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點
?全固態(tài)數(shù)字火花光源(國家專利技術 專利號 ZL 201010118150.4)
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達 1000Hz
?MTBF(平均無故障間相隔時間)> 5000 小時
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜,加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng),溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式,數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集,采集速度快、頻率高
?便于維護
?消除誤操作引起的光學系統(tǒng)污染
?自動扣除元素間加合、倍增干擾,分析結果更加精準
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動校準像素漂移,保證光學系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段,自動匹配,分析范圍廣
?未知樣品自動匹配分析程序
?簡潔清新、功能強大
?多語言版本(中、英、俄、德)
?智能冶煉配料計算
?牌號識別
?支持碳當量等自動計算功能
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠家
直讀光譜儀器的誤差來源有哪些?
1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差,一般包括儀器的本身波動;樣品的給定值和實際值存在一定的偏差(標準樣品的元素定值方法可能和實際檢測方法不一致,這樣檢測結果會有方法上的差異;同一種方法的檢測結果也存在一定的波動);待測樣品和系列標樣之間存在成分的差異,可能導致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差,如背景強度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差,如試樣不均勻;檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化;樣品本身的成分差異等。
3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結果,可以避免。如制樣不精確,樣品前處理不符合要求,控樣和待測試樣存在制樣偏差,選擇了錯誤的分析程序等。
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠家
任何精密儀器想要測定出準確的數(shù)據(jù),必須在一定的工作條件下運行,環(huán)境對分析儀器的性能、可靠性、測量結果和使用壽命都有很大的影響。外部環(huán)境變化嚴重時還會對儀器造成損壞,縮短儀器的使用壽命。
一般情況下儀器越精密,對外部的工作條件要求就越高,火花直讀光譜儀作為精密儀器也不例外,應置于干燥、通風、無振動且無酸堿性氣體侵蝕的室內(nèi),同時室內(nèi)應備有雙層窗簾,以避免受強光直接照射。
火花直讀光譜儀是由光學、電子、精密機械和計算機等技術精密結合而成的光譜儀器,是定量分析測定元素含量的重要儀器,只有規(guī)范使用、并加強儀器維護、定期檢查儀器的性能指標,才能獲得準確可靠的分析結果。
火花式直讀光譜儀,直讀光譜生產(chǎn)廠家
儀器測定結果偏差較大,分析結果不穩(wěn)定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確,如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩(wěn)定:檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求;
3)激發(fā)控樣:若控樣分析結果良好,說明儀器性能不存在問題,待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結果也存在較大問題時,應當標準化;
5)清理火花臺,擦拭透鏡或平鏡,清理排污通道,更換氬氣等,然后重新校準曲線;
6)外界條件符合要求:室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi);電源電壓穩(wěn)定;周圍無大功率、強輻射電器運作;地線連接良好等;
7)對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩(wěn)定時間。
若還存在問題,請聯(lián)系鋼研納克售后工程師。
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公司名稱 鋼研納克檢測技術股份有限公司
聯(lián)系賣家 文先生 (QQ:415905311)
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