XK-XPL3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對(duì)具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的常選儀器,可供廣大用戶進(jìn)行單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn)，也可進(jìn)行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機(jī)構(gòu)與高等院校進(jìn)行研究與教學(xué)的常購儀器。

性能特點(diǎn)

▲  采用無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計(jì)。 

▲  配置無窮遠(yuǎn)無應(yīng)力長工作距離平場(chǎng)物鏡。 

▲  廣角平場(chǎng)目鏡：視場(chǎng)直徑Ф22mm。

▲  粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗動(dòng)松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動(dòng)格值:2μm。  

▲  偏光觀察裝置可移入或移出光路，起偏器與檢偏器均可360°旋轉(zhuǎn)。 

▲  旋轉(zhuǎn)式載物臺(tái)，360°等分刻度,游標(biāo)格值6&＃39;，中心可調(diào)，帶鎖緊裝置，工作臺(tái)垂直有效行程可達(dá) 30mm。

▲  寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素?zé)粽彰?，亮度可調(diào)。 

▲  三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時(shí)可100%通光，適合低照度顯微圖像拍攝。

下圖為該款儀器工業(yè)化工粉末效果觀察展示：(1000x)