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功率 1350w
檢測(cè)器 大面積CCD檢測(cè)器
光室 38℃
光源 固態(tài)光源
品牌 鋼研納克
商品介紹
鋼研納克Plasma2000ICP光譜儀測(cè)定鐵基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P
關(guān)鍵詞:Plasma2000,ICP-OES,非晶材料,鋼鐵,全譜瞬態(tài)直讀
非晶合金(俗稱(chēng)金屬玻璃)是一種兼有液體和固體、金屬和玻璃特征的金屬合金材料,因而具有獨(dú)特而優(yōu)異的性能,如高強(qiáng)度、高韌性、高硬度、極高抗腐蝕以及軟磁特性等,是一類(lèi)極具發(fā)展前途的新型金屬材料。常見(jiàn)的非晶有鐵基非晶、鈷基非晶、鐵鎳基非晶、鈷鎳基非晶及納米非晶等。新型非晶合金是靠成分的調(diào)整來(lái)抑制晶態(tài)相的形成和長(zhǎng)大,從而得到很強(qiáng)的非晶形成能力,準(zhǔn)確測(cè)定非晶材料中的成分含量非常重要。本實(shí)驗(yàn)采用混酸溶樣,使用鋼研納克生產(chǎn)的ICP-OES發(fā)射光譜儀準(zhǔn)確測(cè)定了鐵基非晶材料中的B、Cr、Mn、Nb、P等元素。
儀器特點(diǎn)
Plasma 2000 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司)是一種使用方便、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試快速的全譜ICP-OES分析儀,具有良好的分析精度和穩(wěn)定性。儀器特點(diǎn)如下:
高效固態(tài)射頻發(fā)生器,超高穩(wěn)定光源;
大面積背照式CCD芯片,寬動(dòng)態(tài)范圍;
中階梯光柵與棱鏡交叉色散結(jié)構(gòu),體積小巧;
多元素同時(shí)分析,全譜瞬態(tài)直讀。
Plasma 2000型ICP-OES光譜儀
樣品前處理
儀器參數(shù)
儀器工作參數(shù)
儀器工作參數(shù) 設(shè)定值 儀器工作參數(shù) 設(shè)定值
射頻功率/W 1250 輔助氣流速/L·min-1 0.5
冷卻氣流速/L·min-1 13.5 蠕動(dòng)泵轉(zhuǎn)速/rpm 20
載氣流速/L·min-1 0.5 進(jìn)樣時(shí)間/s 25
典型元素譜線
光譜掃描后,根據(jù)樣品中各待測(cè)元素的含量及譜線的干擾情況,選其靈敏度適宜、譜線周?chē)尘暗颓覠o(wú)其他元素明顯干擾的譜線作為待測(cè)元素的分析線。其典型譜線見(jiàn)下圖及下表。
準(zhǔn)確度及方法回收率
按照實(shí)驗(yàn)方法測(cè)定樣品,并進(jìn)行加標(biāo)回收試驗(yàn),結(jié)果見(jiàn)下表
各元素的加標(biāo)回收實(shí)驗(yàn) %
元素 測(cè)定值 加入量 測(cè)定總值 回收率%
穩(wěn)定性
對(duì)實(shí)際樣品連續(xù)測(cè)定11次,計(jì)算其平均值及穩(wěn)定性RSD%
各元素穩(wěn)定性 %
元素 11次測(cè)定值 平均值 RSD
方法檢出限
在該方法選定條件下,對(duì)鐵基體空白溶液連續(xù)測(cè)定11次,以3倍標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算方法中各待測(cè)元素檢出限,以10倍標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算方法中各待測(cè)元素的測(cè)定下限,該測(cè)定下限完全滿足鐵基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P元素的分析。
各元素的線性回歸方程和檢出限
元素 譜線nm 檢出限% 測(cè)定下限%
結(jié)論
Plasma 2000光譜儀對(duì)非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P等元素進(jìn)行測(cè)定,穩(wěn)定性較好,RSD%(n=11)在1.39%-1.86%之間,檢出限在0.00035-0.0231%之間,回收率在95.0-100.0%之間,準(zhǔn)確性好。Plasma 2000能夠快速、準(zhǔn)確、可靠的測(cè)定鐵基非晶材料中B、Cr、Mn、Nb、P等元素。
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Plasma1500型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)測(cè)定高純石墨中的9種痕量雜質(zhì)元素
ICP-OES,Plasma1500,高純石墨,痕量雜質(zhì)元素,單道ICP,掃描ICP
石墨是我國(guó)優(yōu)勢(shì)非金屬礦產(chǎn)之一,其儲(chǔ)量和產(chǎn)銷(xiāo)量居世界首位。石墨系列產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、電子、化工、輕工、軍工、國(guó)防及耐火材料等行業(yè),是當(dāng)今科技發(fā)展必不可少的重要非金屬原料。電池材料的快速發(fā)展對(duì)石墨原料的純度要求越來(lái)越高,準(zhǔn)確測(cè)定高純石墨中痕量元素雜質(zhì)非常重要。在2008年制定的石墨化學(xué)分析方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T3521-2008中,檢測(cè)項(xiàng)目?jī)H包括石墨產(chǎn)品中水分、揮發(fā)分、固定碳、硫和酸溶鐵的分析。高純石墨中多種痕量雜質(zhì)元素快速測(cè)定的要求越來(lái)越迫切。本報(bào)告建立了基于國(guó)產(chǎn)單道掃描型ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的快速、準(zhǔn)確測(cè)定高純石墨中Al、Cr、Cu、Fe、Mo、Na、Ni、Si、Zn等9種痕量雜質(zhì)元素的方法。
儀器特點(diǎn)
Plasma 1500 單道掃描型 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司)是一種使用方便、操作簡(jiǎn)單、多元素檢測(cè)的國(guó)產(chǎn)單道掃描型ICP-OES分析儀,擁有良好的分辨率和杰出的檢出限。儀器主要特點(diǎn)如下:
? 1. 分析流程全自動(dòng)化控制,實(shí)現(xiàn)氣路智能控制、軟件自動(dòng)點(diǎn)火、功率自動(dòng)匹配調(diào)節(jié)等功能,操作方便;
? 2. 高效穩(wěn)定的全固態(tài)射頻發(fā)生器,摒棄低效率的電子管時(shí)代,速度快 體積小 效率高,頻率穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%;
? 3. 射頻功率達(dá)1600W,既可用于油品分析、高鹽分析等高功率場(chǎng)景,又具備K, Na等適合低功率分析能力;
? 4. 標(biāo)配4通道12滾輪蠕動(dòng)泵進(jìn)樣系統(tǒng),高精度的光室恒溫系統(tǒng),進(jìn)樣穩(wěn)定,長(zhǎng)短期精密度良好;
? 5. 優(yōu)良的Czerny-Turner結(jié)構(gòu)1米焦距光學(xué)系統(tǒng),精密的波長(zhǎng)驅(qū)動(dòng)技術(shù),保證峰位準(zhǔn)確;
? 6. 分辨率高,能分出Hg313.154和313.183nm雙線譜線,能分出鐵的四重峰;
? 7. 國(guó)內(nèi)可選雙光柵分光系統(tǒng),3600L/mm,2400L/mm,4320L/mm三種大面積高刻線全息光柵可選,兼顧高分辨和長(zhǎng)波長(zhǎng)范圍。
? 8. 精密度好,穩(wěn)定性相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1.5%(5ppm),優(yōu)于國(guó)家A級(jí)標(biāo)準(zhǔn)(JJG768-2005);
? 9 通光量大,檢出限低,光電倍增管的負(fù)高壓可單獨(dú)設(shè)置,復(fù)雜基體檢出限優(yōu)于全譜儀器;
? 10. 測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬,超微量到常量的分析,可選雙通道高靈敏PMT紫外檢測(cè)器,動(dòng)態(tài)線性范圍5—6個(gè)數(shù)量級(jí);
? 11. 安全性好,儀器采用高屏蔽、良好接地、特殊玻璃窗口保證操作者的安全,儀器輻射小于2V/m(JJG768-2005規(guī)定小于10V/m);
? 12. 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀器參數(shù),具有艙門(mén)監(jiān)測(cè)、溫度保護(hù)、低壓保護(hù)、斷電保護(hù)、水冷保護(hù)等功能,避免儀器損害;具有低功率待機(jī)模式,降低運(yùn)行成本;
樣品前處理
結(jié)論
本文建立了ICP-AES快速測(cè)定高純石墨中9種痕量雜質(zhì)元素的方法。該法靈敏度高、檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確、分析速度快,適合高純石墨產(chǎn)品中多種雜質(zhì)元素的快速分析,是檢測(cè)高純石墨中多種雜質(zhì)元素的理想方法。
儀器優(yōu)點(diǎn)
? 1. 分析流程全自動(dòng)化控制,實(shí)現(xiàn)軟件點(diǎn)火、氣路智能控制功能;
? 2. 輸出功率自動(dòng)匹配調(diào)諧,功率參數(shù)程序設(shè)定;
? 3. 優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng),先進(jìn)的控制系統(tǒng),保證峰位定位準(zhǔn)確,信背比優(yōu)良;
? 4. 極小的基體效應(yīng);
? 5. 測(cè)量范圍寬,超微量到常量的分析,動(dòng)態(tài)線性范圍5—6個(gè)數(shù)量級(jí);
? 6. 檢出限低,大多數(shù)元素的檢出限可達(dá)ppb級(jí);
? 7. 良好的測(cè)量精度,穩(wěn)定性相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD≤1.5%(5ppm),優(yōu)于國(guó)家A級(jí)標(biāo)準(zhǔn)(JJG768-2005);
? 8. Rf輸出功率的范圍750-1500W,輸出功率穩(wěn)定性小于0.1%;
? 9. 光電倍增管的負(fù)高壓可在0-1000V范圍內(nèi)獨(dú)立可調(diào),可根據(jù)不同元素的不同譜線單獨(dú)設(shè)置條件,和全譜儀器比較有更好的檢出限;
? 10. 納克儀器采用高屏蔽和良好接地保證操作者的安全;
? 11. 高精度的光室恒溫系統(tǒng),保證儀器優(yōu)良的長(zhǎng)短期精度;
? 12. 多通道蠕動(dòng)泵進(jìn)樣,保證儀器進(jìn)樣均勻,工作穩(wěn)定;
? 13. 使用鈸銅彈片和特殊處理的屏蔽玻璃,在吸收紫外線同時(shí)使儀器輻射小于2V/m(JJG768-2005規(guī)定小于10V/m)。
? 14. 具有較高的譜線分辨率,能分出Hg313.154和313.183nm雙線譜線,能分出鐵的四重峰。
? 15. 人性化的軟件設(shè)計(jì),操作方便,終身免費(fèi)升級(jí)。功能強(qiáng)大、友好的人機(jī)界面分析軟件,可在測(cè)定過(guò)程中,進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,方法編制和結(jié)果分析,是真正的多任務(wù)工作軟件;該軟件數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,提供了多種方法,如內(nèi)標(biāo)校正、IECS和QC監(jiān)測(cè)功能等,可獲得的背景扣除點(diǎn)以消除干擾;對(duì)輸出數(shù)據(jù)可直接打印或自動(dòng)生成Excel格式的結(jié)果報(bào)告。
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鋼研納克國(guó)產(chǎn)ICP光譜儀測(cè)定鋰離子電池電解液中的雜質(zhì)元素
1 前言
鋰電池電解液是電池中離子傳輸?shù)妮d體。一般由鋰鹽(六氟磷酸鋰)和有機(jī)溶劑(酯類(lèi))組成,金屬雜質(zhì)直接影響鋰離子在電解液中的傳導(dǎo)以及電極的容量和壽命。金屬雜質(zhì)離子具有比鋰離子低的還原電位,因此在充電過(guò)程中,金屬雜質(zhì)離子將首先嵌入到碳負(fù)極中,減少了鋰離子嵌入的位置,減少了鋰離子電池的可逆容量。高濃度的金屬雜質(zhì)離子的含量不僅會(huì)導(dǎo)致鋰離子電池可逆比容量的下降,而且金屬雜質(zhì)離子的析出還可能導(dǎo)致石墨電極表面無(wú)法形成有效的鈍化層,使整個(gè)電池遭到破壞,但低濃度的金屬雜質(zhì)離子對(duì)電池性能影響不大。各金屬含量應(yīng)小于0.002%,一般應(yīng)為0.001%左右。[1]但實(shí)際生產(chǎn)中要求更低,實(shí)驗(yàn)中使用客戶實(shí)際樣品,應(yīng)客戶要求待分析元素為K、Na、Ca、Fe、Pb、Cr。
2.實(shí)驗(yàn)部分
2.1 儀器簡(jiǎn)介
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀簡(jiǎn)稱(chēng) ICP-AES ,文中使用我公司推出的全譜型光譜儀Plasma2000。
2.2 樣品前處理
樣品為有機(jī)液態(tài)溶液。采用兩種前處理方法:
方法(1)無(wú)機(jī)進(jìn)樣[2]。將5g樣品置于聚四氟乙烯燒杯中,200℃加熱至干,稍冷后加20mlHNO3,低溫至全部溶解、蒸干,加10mlHNO3低溫反應(yīng)10分鐘后加入1mlH2O2,低溫待反應(yīng)完畢后冷卻,然后定容到25ml容量瓶中。
方法(2)直接有機(jī)進(jìn)樣。將5g樣品置于塑料瓶中,加入不同質(zhì)量的標(biāo)油,再加入一定量的無(wú)水乙醇,定量到10g,搖勻。
2.3 儀器參數(shù)
Plasma2000:
方法(1):功率 1.20KW,冷卻氣流量 15.0 L/min,輔助氣流量 0.5L/min,載氣流量 0.5 L/min,蠕動(dòng)泵泵速 20 rpm。玻璃霧化系統(tǒng)和矩管。
方法(2):功率 1.35KW,冷卻氣流量 18.0 L/min,輔助氣流量 0.5L/min,載氣流量 0.35 L/min,蠕動(dòng)泵泵速 20 rpm,氧氣流量10ml/min。帶冷卻功能的玻璃霧化系統(tǒng)和矩管。
4.結(jié)論
使用電感耦合等離子體全譜儀ICP-2000分析鋰離子電池電解液時(shí),直接有機(jī)進(jìn)樣無(wú)需前處理,空白低,因此大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間,提高了儀器的檢出能力,可以測(cè)試1μg/g的元素含量。使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以消除基體對(duì)結(jié)果的干擾。
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Plasma 2000ICP-OES
全譜電感耦合等離子體光譜儀
Plasma 2000可廣泛適用于冶金、地質(zhì)、材料、環(huán)境、食品、醫(yī)藥、石油、化工、生物、水質(zhì)等各領(lǐng)域的元素分析。
1、 中階梯光柵與棱鏡交叉色散結(jié)構(gòu),徑向觀測(cè),具有穩(wěn)健的檢測(cè)能力。
2、 高效穩(wěn)定的自激式固態(tài)射頻發(fā)生器,體積小巧,匹配速度快,確保儀器的高精度運(yùn)行及優(yōu)異的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
3、 高速面陣CCD采集技術(shù),單次曝光獲取全部譜線信息,真正實(shí)現(xiàn)“全譜直讀”。
4、 功能強(qiáng)大的軟件系統(tǒng),簡(jiǎn)化分析方法的開(kāi)發(fā)過(guò)程,為用戶量身打造簡(jiǎn)潔、舒適的操作體驗(yàn)。
-/hbahabd/-
聯(lián)系方式
公司名稱(chēng) 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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