基于 ZEISS METROTOM 的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描（CT）

利用蔡司的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次X射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標(biāo)準(zhǔn)的驗收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺，滿足客戶對精度的高要求。

測量與檢驗整體部件

ZEISS METROTOM是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。

輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測

利用ZEISS METROTOM計算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。

直觀簡易的軟件操作

僅需通過短時間的ZEISS METROTOM OS軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用ZEISS CALYPSO可評估CT數(shù)據(jù)，再利用ZEISS PiWeb即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。

應(yīng)用案例