面向用戶的、人性化的系統(tǒng)設(shè)計(jì)和易于操作的高效數(shù)據(jù)采集

ZEISS T-SCAN:用手持式激光掃描儀快速、直觀的捕獲三維數(shù)據(jù)

手持式測頭進(jìn)行快速點(diǎn)測量

ZEISS T-POINT接觸測頭快速可靠地測量所選擇的測量點(diǎn)，使其成為在物體區(qū)域內(nèi)進(jìn)行單點(diǎn)測量的完美解決方案，如（修剪）邊緣和規(guī)則的幾何形狀。該裝置可與傳統(tǒng)的測頭一起使用，測頭更換更加簡單、快速。

手持式測頭ZEISS T-POINT - 理想的便攜式坐標(biāo)測量機(jī)， 便于單點(diǎn)測量

通用軟件接口

從數(shù)據(jù)采集到數(shù)據(jù)處理，至數(shù)據(jù)比較 - ZEISS T-SCAN系統(tǒng)可以通過眾多直接的實(shí)時(shí)接口進(jìn)行控制。因此，可以輕松集成到現(xiàn)有的工藝流程中。

ZEISS colin3D軟件支持高效的工作流程

用于不同的測量體積的光學(xué)跟蹤系統(tǒng)

從小型到大型的物體 - 系統(tǒng)配置“CS+”和“LV”，為您的個(gè)人測量應(yīng)用提供理想解決方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”體現(xiàn)的靈活性

ZEISS T-TRACK CS +光學(xué)跟蹤系統(tǒng)與所有其他系統(tǒng)組件進(jìn)行優(yōu)化匹配，因此開辟了廣泛的測量應(yīng)用領(lǐng)域。

極高的數(shù)據(jù)處理速率使測量具有最高的速度，有利于最大限度地減少物體掃描過程的時(shí)間。

ZEISS T-TRACK LV大范圍跟蹤儀

通過采用創(chuàng)新型掃描和跟蹤相結(jié)合的獨(dú)特大范圍測量，您將在光學(xué)三維數(shù)字化中獲得全新的視角。

現(xiàn)在您可以更快、更容易地記錄大型物體的3D數(shù)據(jù)-手持式激光掃描儀的高掃描速度和高達(dá)35立方米的跟蹤范圍，為您進(jìn)行有效的測量處理提供最大可能的運(yùn)動(dòng)自由。

ZEISS T-SCAN-技術(shù)數(shù)據(jù)手持式激光掃描儀