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鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
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店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
主營產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
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钳钻钼钳钻钶钺钺钵钴钵
青島電感耦合等離子體質(zhì)譜-四級(jí)桿電感耦合等離子質(zhì)譜
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¥920000.00
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聯(lián)系人 文先生
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商品介紹
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測試范圍 2-255amu
功率 600-1600W連續(xù)可調(diào)
測量精度 0.5-1.1amu連續(xù)可調(diào)
型號(hào) PlasmaMS 300
矩管材質(zhì) 石英
生產(chǎn)廠家 鋼研納克
商品介紹
PlasmaMS 300在金屬工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用
痕量元素含量的變化對(duì)材料性能和生產(chǎn)控制有巨大影響。
PlasmaMS 300 PLASMAMS 300能在主要元素存在的條件下精確測定痕量元素,使用跳峰掃模式可以避 免主量元素、其氧化物、其雙電荷、其氫化物等的干擾,選擇同位素時(shí)應(yīng)注意避免基體離 子干擾。
應(yīng)用領(lǐng)域:
在研發(fā)和專業(yè)化學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域有較廣的范圍 高純陶瓷和化學(xué)品
金屬和玻璃 產(chǎn)品純度驗(yàn)證
PlasmaMS 300在環(huán)境領(lǐng)域的應(yīng)用
在環(huán)境應(yīng)用領(lǐng)域(監(jiān)控環(huán)境中微量和有毒元素)中,PLASMAMS 300是近年來增長快的應(yīng)用技術(shù) 手段。 該應(yīng)用的關(guān)鍵是:根據(jù)相關(guān)法規(guī),必須對(duì)水、土壤、淤泥以及其他重要的環(huán)境物質(zhì)中的一 系列元素進(jìn)行檢測,并且這些元素含量都在接近ppb級(jí)別。
在環(huán)境行業(yè)應(yīng)用中,的挑戰(zhàn)是:用同樣的分析方法來分析不同基體的樣品。在這種情 況下,是在用PLASMAMS 300檢測之前對(duì)樣品基體進(jìn)行分離。
分離技術(shù)近幾年在環(huán)境樣品分析中運(yùn)用很多。具體方法就是:將iCAP Q與可以分離目 標(biāo)元素氧化物的附件(一般為色譜,例如LC或GC)偶聯(lián)。
應(yīng)用領(lǐng)域:
自來水檢測和水污染監(jiān)測 廢水中有毒元素和低水平錒系元素測定
環(huán)境污染物中同位素識(shí)別和定量
PlasmaMS 300 的污染控制
在使用PLASMAMS 300進(jìn)行分析的時(shí)候,必須盡可能控制污染。污染會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)出錯(cuò),其結(jié)果是 背景增高,從而導(dǎo)致檢出限提高。
污染來源: 1.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境:空氣中的塵埃(特別是Al)是常見的污染源。通過過濾、凈化空氣和高 效濾網(wǎng)(HEPA),降低污染源。
2. 水:去離子化系統(tǒng)生產(chǎn)的水其阻抗需達(dá)到18.2Mohm/cm。
3.試劑:應(yīng)用于樣品和標(biāo)品中酸、溶劑和鹽必須為高純度。移液管或其他器具不應(yīng)接觸試 劑容器。能小量分裝后用一次性移液器移取。
PLASMAMS 300使用的容器:FEP, PTFE, LDPE, HDPE, PMP 和 PP等應(yīng)先使用酸洗。 樣品制備:減少稀釋步驟,使用一次性塑料微量移液器頭(酸洗),在通風(fēng)櫥里面準(zhǔn)備。 要排查污染來源往往是漫長而艱難的工作。因此,建議用戶遵循“按部就班”的方式
(Step-by-step approach)來進(jìn)行污染控制:
? 儀器背景(Instrument background)
? 水空白(Water blank)
? 酸空白(Dilute acid blank)
? 樣品空白(Sample preparation blank)
Step-by-step approach實(shí)際上是檢查實(shí)驗(yàn)過程中用到的所有空白,來尋找污染的來源。 污染可存在于儀器、水、稀釋液、酸、試劑、樣品空白或儲(chǔ)存容器中。
污染也可能存在于標(biāo)樣母液中。下圖示例就是在Ca元素單標(biāo)溶液中存在著Ba和Sr的污染:
上圖中所展示的受到Sr和Ba污染的Ca標(biāo)液是AA級(jí)別的,用戶應(yīng)當(dāng)從正規(guī)供應(yīng)商處采購合適純度級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
PlasmaMS 300儀器組成與工作原理
ICP-MS全稱電感耦合等離子體質(zhì)譜(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)主要包括以下功能模塊:進(jìn)樣系統(tǒng)、ICP離子源、接口單元、離子傳輸系統(tǒng)、四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)、離子檢測及和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、整機(jī)控制系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)。
圖2.1 PlasmaMS 300型結(jié)構(gòu)示意圖
其工作原理是:待測樣品通過進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)入離子源部分,在被 ICP射頻電源離子化后,在接口及離子傳輸系統(tǒng)中通過聚焦、消除干擾后進(jìn)入四極桿質(zhì)量分析器,在其中離子將按照質(zhì)荷比(m/z)大小被分開,經(jīng)過聚焦后,達(dá)到檢測器。檢測器將不同質(zhì)荷比的離子流通過接收、測量及數(shù)據(jù)處理轉(zhuǎn)換成電信號(hào)經(jīng)放大、處理后得到分析結(jié)果。
2.2 主機(jī)部件
儀器主機(jī)的主要部件有:進(jìn)樣系統(tǒng)、ICP離子源、接口單元、離子傳輸系統(tǒng)、四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)、離子檢測及和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、整機(jī)控制系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)。
進(jìn)樣系統(tǒng)包含蠕動(dòng)泵、進(jìn)樣管排樣、霧化器、霧室、玻璃彎管、炬管;
ICP離子源包括包含功放箱、匹配箱;
接口單元包括接口、水腔、提取透鏡;
離子傳輸系統(tǒng)包括π透鏡、碰撞反應(yīng)池、透鏡組;
四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)包括四級(jí)桿、饋入件;
離子檢測及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)主要包括電子倍增器、電子倍增器支架;
真空系統(tǒng)包括機(jī)械泵、2個(gè)分子泵、真空腔體、潘寧規(guī);
整機(jī)控制系統(tǒng)包含各種控制電路模塊。
2.3 輔助裝置
智能溫控冷卻循環(huán)水箱是重要的輔助裝置,它冷卻接口、線圈、離子源和分子泵。
穩(wěn)壓電源是能為負(fù)載提供穩(wěn)定交流電的電子裝置。當(dāng)電網(wǎng)電壓或負(fù)載出現(xiàn)瞬間波動(dòng)時(shí),穩(wěn)壓電源會(huì)以10ms~30ms的響應(yīng)速度對(duì)電壓幅值進(jìn)行補(bǔ)償,使其穩(wěn)定在±2%以內(nèi)。
痕量元素含量的變化對(duì)材料性能和生產(chǎn)控制有巨大影響。
PlasmaMS 300 PLASMAMS 300能在主要元素存在的條件下精確測定痕量元素,使用跳峰掃模式可以避 免主量元素、其氧化物、其雙電荷、其氫化物等的干擾,選擇同位素時(shí)應(yīng)注意避免基體離 子干擾。
應(yīng)用領(lǐng)域:
在研發(fā)和專業(yè)化學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域有較廣的范圍 高純陶瓷和化學(xué)品
金屬和玻璃 產(chǎn)品純度驗(yàn)證
PlasmaMS 300在環(huán)境領(lǐng)域的應(yīng)用
在環(huán)境應(yīng)用領(lǐng)域(監(jiān)控環(huán)境中微量和有毒元素)中,PLASMAMS 300是近年來增長快的應(yīng)用技術(shù) 手段。 該應(yīng)用的關(guān)鍵是:根據(jù)相關(guān)法規(guī),必須對(duì)水、土壤、淤泥以及其他重要的環(huán)境物質(zhì)中的一 系列元素進(jìn)行檢測,并且這些元素含量都在接近ppb級(jí)別。
在環(huán)境行業(yè)應(yīng)用中,的挑戰(zhàn)是:用同樣的分析方法來分析不同基體的樣品。在這種情 況下,是在用PLASMAMS 300檢測之前對(duì)樣品基體進(jìn)行分離。
分離技術(shù)近幾年在環(huán)境樣品分析中運(yùn)用很多。具體方法就是:將iCAP Q與可以分離目 標(biāo)元素氧化物的附件(一般為色譜,例如LC或GC)偶聯(lián)。
應(yīng)用領(lǐng)域:
自來水檢測和水污染監(jiān)測 廢水中有毒元素和低水平錒系元素測定
環(huán)境污染物中同位素識(shí)別和定量
PlasmaMS 300 的污染控制
在使用PLASMAMS 300進(jìn)行分析的時(shí)候,必須盡可能控制污染。污染會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)出錯(cuò),其結(jié)果是 背景增高,從而導(dǎo)致檢出限提高。
污染來源: 1.實(shí)驗(yàn)室環(huán)境:空氣中的塵埃(特別是Al)是常見的污染源。通過過濾、凈化空氣和高 效濾網(wǎng)(HEPA),降低污染源。
2. 水:去離子化系統(tǒng)生產(chǎn)的水其阻抗需達(dá)到18.2Mohm/cm。
3.試劑:應(yīng)用于樣品和標(biāo)品中酸、溶劑和鹽必須為高純度。移液管或其他器具不應(yīng)接觸試 劑容器。能小量分裝后用一次性移液器移取。
PLASMAMS 300使用的容器:FEP, PTFE, LDPE, HDPE, PMP 和 PP等應(yīng)先使用酸洗。 樣品制備:減少稀釋步驟,使用一次性塑料微量移液器頭(酸洗),在通風(fēng)櫥里面準(zhǔn)備。 要排查污染來源往往是漫長而艱難的工作。因此,建議用戶遵循“按部就班”的方式
(Step-by-step approach)來進(jìn)行污染控制:
? 儀器背景(Instrument background)
? 水空白(Water blank)
? 酸空白(Dilute acid blank)
? 樣品空白(Sample preparation blank)
Step-by-step approach實(shí)際上是檢查實(shí)驗(yàn)過程中用到的所有空白,來尋找污染的來源。 污染可存在于儀器、水、稀釋液、酸、試劑、樣品空白或儲(chǔ)存容器中。
污染也可能存在于標(biāo)樣母液中。下圖示例就是在Ca元素單標(biāo)溶液中存在著Ba和Sr的污染:
上圖中所展示的受到Sr和Ba污染的Ca標(biāo)液是AA級(jí)別的,用戶應(yīng)當(dāng)從正規(guī)供應(yīng)商處采購合適純度級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
PlasmaMS 300儀器組成與工作原理
ICP-MS全稱電感耦合等離子體質(zhì)譜(Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry)主要包括以下功能模塊:進(jìn)樣系統(tǒng)、ICP離子源、接口單元、離子傳輸系統(tǒng)、四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)、離子檢測及和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、整機(jī)控制系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)。
圖2.1 PlasmaMS 300型結(jié)構(gòu)示意圖
其工作原理是:待測樣品通過進(jìn)樣系統(tǒng)進(jìn)入離子源部分,在被 ICP射頻電源離子化后,在接口及離子傳輸系統(tǒng)中通過聚焦、消除干擾后進(jìn)入四極桿質(zhì)量分析器,在其中離子將按照質(zhì)荷比(m/z)大小被分開,經(jīng)過聚焦后,達(dá)到檢測器。檢測器將不同質(zhì)荷比的離子流通過接收、測量及數(shù)據(jù)處理轉(zhuǎn)換成電信號(hào)經(jīng)放大、處理后得到分析結(jié)果。
2.2 主機(jī)部件
儀器主機(jī)的主要部件有:進(jìn)樣系統(tǒng)、ICP離子源、接口單元、離子傳輸系統(tǒng)、四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)、離子檢測及和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、真空系統(tǒng)、整機(jī)控制系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)。
進(jìn)樣系統(tǒng)包含蠕動(dòng)泵、進(jìn)樣管排樣、霧化器、霧室、玻璃彎管、炬管;
ICP離子源包括包含功放箱、匹配箱;
接口單元包括接口、水腔、提取透鏡;
離子傳輸系統(tǒng)包括π透鏡、碰撞反應(yīng)池、透鏡組;
四級(jí)桿質(zhì)量分析系統(tǒng)包括四級(jí)桿、饋入件;
離子檢測及數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)主要包括電子倍增器、電子倍增器支架;
真空系統(tǒng)包括機(jī)械泵、2個(gè)分子泵、真空腔體、潘寧規(guī);
整機(jī)控制系統(tǒng)包含各種控制電路模塊。
2.3 輔助裝置
智能溫控冷卻循環(huán)水箱是重要的輔助裝置,它冷卻接口、線圈、離子源和分子泵。
穩(wěn)壓電源是能為負(fù)載提供穩(wěn)定交流電的電子裝置。當(dāng)電網(wǎng)電壓或負(fù)載出現(xiàn)瞬間波動(dòng)時(shí),穩(wěn)壓電源會(huì)以10ms~30ms的響應(yīng)速度對(duì)電壓幅值進(jìn)行補(bǔ)償,使其穩(wěn)定在±2%以內(nèi)。
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