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X熒光光譜儀總而言之，建立適合用戶的標準樣品庫，才能將X射線熒光光譜儀的效能，雖然前期要做許多工作，例如收集樣品，樣品分析，標準樣品制備等工作，但“磨刀不誤砍柴工”。建立好自己面向應用的標準樣品庫，可以讓自己的檢測做到事半功倍的效果。

一、X熒光光譜儀測試方法：

1、X熒光光譜儀樣品制備

進行x射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態(tài)，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數(shù)率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要研磨至300目一400目，然后壓成圓片，也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面，則可以把試樣用酸溶解，再沉淀成鹽類進行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上，用紅外燈蒸干水份后測定，也可以密封在樣品槽中。總之，所測樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份，更不能含有腐蝕性溶劑。

2、熒光光譜儀定性分析

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量，因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2e角可以求出x射線的波長入，從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀，可以由通道來判別能量，從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。首先識別出光管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線，然后根據(jù)能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素，以便綜合判斷。

對于固定道儀器：

1，各個通道同時工作，這樣測試時間就可以設定為難滿足精度的元素通道所需的時間?？倻y定時間就是這個時間，一般幾十秒到2、3百秒。根據(jù)這個時間，多道同時式分析儀一般只需要選用小功率光管(一般幾百瓦)即可滿足對總計數(shù)率的要求。小功率光管和高壓電源及冷卻系統(tǒng)的成本低和壽命長，故障率低，維護量小。

2，分光系統(tǒng)無運動部件，計數(shù)率精度可以達到很高水平。

3，對信號處理電路要求較低。

4，由于采用多個通道，每個通道都需要獨立的分光。,衍射晶體、探測器、放大器和多道脈沖處理器，加起來成本也還是比較高。通道數(shù)量總是要受到結構的限制，不可能很多，這也是多道同時式分析儀一般少在行業(yè)應用的原因——分析元素的數(shù)量有限。

特定用戶需要根據(jù)自己的需求特點選擇合適的WDXRF儀器。

近些年來，X射線儀器仍然取得了巨大的進步，如：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）、聚焦微束X射線熒光光譜儀（μXRF）、偏振X射線熒光光譜儀（EDPXRF）等相繼商品化。

WDXRF光譜儀近年同樣取得了顯著的技術進步：

X射線管

1) 4KW大功率: 4KW薄窗 X 射線管，對于 19K~92U 元素范圍的重元素，提高靈敏度30%以上，對于 4Be~17Cl 元素范圍的輕元素，提高靈敏度 70%以上。同時，4KW 薄窗X 射線管的冷卻方式的改進，以及 X 射線發(fā)生器控制方式的發(fā)展，使得 4KW 薄窗 X 射線管在應用上的可靠性大大增強。 X 射線管功率也有小型化趨勢，使自身的體積縮小, 而且無需外冷卻水循環(huán)系統(tǒng)，如200w X射線管，性價比高、使用成本低，適用于要求固定的用戶。

2) 鈹( Be) 窗超薄化: X 射線管的鈹窗厚度一般為75~ 125um, 有的產(chǎn)家的X射線管的鈹窗厚度僅有30um, 這樣大大提高了初級X 射線的透射率。薄窗光管對Be, B, C, N等超輕元素的分析，對微量樣品分析，微區(qū)分析的發(fā)展起著極大動作用。

3) 光管端窗超銳化: 這種超銳X射線管外形獨特, 頭部尖細, 內(nèi)部采用陶瓷絕緣, 其設計更加緊湊、合理、。窗口至樣品的距離 較常規(guī)端窗管短( 約 16mm) , 大大提高了X 射線輻照強度。而且, 由于采用優(yōu)良的絕緣和長壽命的燈絲, 延長了X 射線管的使用壽命。

4) 光管雙靶化: 為了使輕重元素都能獲 得激發(fā)效率, 一些儀器廠家將光管設置 成雙靶型。如日本株式會社理學。