臺式熒光光譜儀 進(jìn)口熒光光譜儀臺式熒光光譜儀進(jìn)口 日本理學(xué)
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臺式熒光光譜儀-進(jìn)口熒光光譜儀臺式熒光光譜儀進(jìn)口-日本理學(xué)

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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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品牌 日本理學(xué)
產(chǎn)品 日本
報價方式 按實(shí)際訂單報價為準(zhǔn)
儀器名 波長色散x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 10072974
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量,因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于一定晶面間距的晶體,由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入,從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀,可以由通道來判別能量,從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時,仍需人工鑒別。首先識別出管靶材的特征x射線和強(qiáng)峰的伴隨線,然后根據(jù)能量標(biāo)注剩余譜線。在分析未知譜線時,要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素,以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強(qiáng)度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時,該元素的熒光X射線的強(qiáng)度。根據(jù)上式,可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法、增量法、內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似,否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強(qiáng)度所造成的影響。化學(xué)組成的變化,會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收,也會改變熒光增應(yīng)。例如,在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時,由于一次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生Nika熒光X射線,Nika在樣品中可能被Fe吸收,使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時,因?yàn)镕e的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低,測定Fe時,由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。





對于固定道儀器:

1,各個通道同時工作,這樣測試時間就可以設(shè)定為難滿足精度的元素通道所需的時間。總測定時間就是這個時間,一般幾十秒到2、3百秒。根據(jù)這個時間,多道同時式分析儀一般只需要選用小功率光管(一般幾百瓦)即可滿足對總計數(shù)率的要求。小功率光管和高壓電源及冷卻系統(tǒng)的成本低和壽命長,故障率低,維護(hù)量小。

2,分光系統(tǒng)無運(yùn)動部件,計數(shù)率精度可以達(dá)到很高水平。

3,對信號處理電路要求較低。

4,由于采用多個通道,每個通道都需要獨(dú)立的分光。,衍射晶體、探測器、放大器和多道脈沖處理器,加起來成本也還是比較高。通道數(shù)量總是要受到結(jié)構(gòu)的限制,不可能很多,這也是多道同時式分析儀一般少在行業(yè)應(yīng)用的原因——分析元素的數(shù)量有限。

特定用戶需要根據(jù)自己的需求特點(diǎn)選擇合適的WDXRF儀器。








X射線熒光光譜技術(shù)是一種利用樣品對X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來定性或定量測定樣品中成分的方法。

X射線熒光光譜儀在結(jié)構(gòu)上基本由激發(fā)樣品的光源、色散、探測、譜儀控制和數(shù)據(jù)處理等幾部分組成。該X射線熒光光譜法和電感耦合等離子體質(zhì)譜法、發(fā)射光譜法在元素分析結(jié)果之間的差異,結(jié)果顯示它們的差異不顯著。從檢出限、準(zhǔn)確度、精密度和回收率方面均能滿足實(shí)驗(yàn)要求。











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