廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

我國(guó)學(xué)者對(duì)不同時(shí)期WDXRF的進(jìn)展曾予以評(píng)述。WDXRF譜儀從儀器光路結(jié)構(gòu)來(lái)看，依然是建立在布拉格定律基礎(chǔ)之上，但儀器面目全新。縱觀30年來(lái)的發(fā)展軌跡，可總結(jié)出如下特點(diǎn) 。

基本參數(shù)法已用于常規(guī)分析。在定量分析過程中，進(jìn)行基體校正時(shí)，在20世紀(jì)80年代初商用軟件配有經(jīng)驗(yàn)影響系數(shù)法校正的程序，今天各個(gè)廠家生產(chǎn)的儀器配置了在線基本參數(shù)法程序或可變理論影響系數(shù)法程序，當(dāng)試樣的物理化學(xué)形態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)樣品相似的情況下，使用少量標(biāo)準(zhǔn)樣品甚至一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品，也可以獲得的定量分析結(jié)果。

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光硫(S)分析儀，根據(jù)ASTM D2622-10測(cè)量石油燃料中超低硫(ULS)

波長(zhǎng)色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計(jì)的理學(xué)Micro-Z ULS波長(zhǎng)色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個(gè)新的特征，可以同時(shí)測(cè)定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測(cè)定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測(cè)定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

ZSX Primus III+

用戶使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。

儀德人的深耕細(xì)作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

Features

從O到U的元素分析

上照射式光學(xué)化污染

小占地面積節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間

高精度樣品定位

特殊光學(xué)減少由于彎曲的樣品表面造成的錯(cuò)誤

統(tǒng)計(jì)過程控制（SPC）的軟件工具

優(yōu)化抽空和真空泄露率改善吞吐量