熒光光譜儀進口 日本理學 X熒光光譜儀熒光光譜儀日本理學
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產(chǎn)品 日本
品牌 日本理學
報價方式 按實際訂單報價為準
儀器名 波長色散x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 9916733
商品介紹
廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

對于固定道儀器:

1,各個通道同時工作,這樣測試時間就可以設定為難滿足精度的元素通道所需的時間。總測定時間就是這個時間,一般幾十秒到2、3百秒。根據(jù)這個時間,多道同時式分析儀一般只需要選用小功率光管(一般幾百瓦)即可滿足對總計數(shù)率的要求。小功率光管和高壓電源及冷卻系統(tǒng)的成本低和壽命長,故障率低,維護量小。

2,分光系統(tǒng)無運動部件,計數(shù)率精度可以達到很高水平。

3,對信號處理電路要求較低。

4,由于采用多個通道,每個通道都需要獨立的分光。,衍射晶體、探測器、放大器和多道脈沖處理器,加起來成本也還是比較高。通道數(shù)量總是要受到結構的限制,不可能很多,這也是多道同時式分析儀一般少在行業(yè)應用的原因——分析元素的數(shù)量有限。

特定用戶需要根據(jù)自己的需求特點選擇合適的WDXRF儀器。








該方法為X射線熒光分析法在硫化礦樣品分析領域的拓展提供了一套可借鑒的分析程序,有一定的實際應用價值。隨著分析技術由整體分析向微區(qū)分析發(fā)展,地學研究由宏觀表征向微觀信息獲取的發(fā)展,巖礦的分析研究已經(jīng)由宏觀深入到更微觀的領域。目前實驗室常規(guī)使用的微區(qū)分析技術包括電子探針、激光燒蝕等離子體質(zhì)譜和各類電子顯微鏡等。微區(qū)X射線熒光光譜分析(Micro-XRF)技術作為一種基于普通X射線熒光的無損分析技術,是X射線光譜學領域的重要分支,可實現(xiàn)微米級微小區(qū)域內(nèi)樣品中多元素定性或定量分析,成為獲取樣品微區(qū)結構元素空間線掃描、面掃描分布及時序性信息的有力工具。使用了臺式能量色散X射線熒光儀,對氧化物組合標樣和礦物光片點掃描,對31個礦物光片和涂有防曬霜的指紋樣品進行面掃描,5個金屬薄膜片點掃描。






原子熒光光譜法是以原子在輻射能量分析的發(fā)射光譜分析法。利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測元素的原子蒸氣,使之產(chǎn)生原子熒光,在一定條件下,熒光強度與被測溶液中待測元素的濃度關系遵循Lambert-Beer定律,通過測定熒光的強度即可求出待測樣品中該元素的含量。

原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢,并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡單;在低濃度時校準曲線的線性范圍寬達3~5個數(shù)量級,特別是用激光做激發(fā)光源時更佳,但其存在熒光淬滅效應,散射光干擾等問題。








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