眾所周知，PMT直讀光譜儀器是直讀光譜儀中精度的分析儀器。占據(jù)了直讀光譜儀的市場，但它的缺點(diǎn)是通道數(shù)量的限制，在應(yīng)用過程中，增加通道困難，PMT直讀光譜儀器的核心元件是PMT。
PMT直讀光譜儀器光電倍增管
光電倍增管（PMT）是一種具有極高靈敏度和超快時間響應(yīng)的光探測器件。但當(dāng)材料復(fù)雜，檢查的基體和元素都較多，對PMT直讀光譜儀將是一個挑戰(zhàn)，由于PMT光譜儀只能布置60個通道（雖然部分廠家號稱可以布置更多的通道，但實(shí)際應(yīng)用很少，并且會在抗干擾方面做出犧牲），而從實(shí)際應(yīng)用看，當(dāng)通道數(shù)超過55個小時，已經(jīng)很難布置，并且各管子間會產(chǎn)生嚴(yán)重的互相干擾，使PMT的檢出能力還不如CCD。
除了這一點(diǎn)，PMT光譜儀龐大的體型也代表了需要有一個適宜的場地，不能隨意的移動。這確實(shí)是PMT光譜儀器的一個重大缺陷，當(dāng)然更重要的是價格，價格是市場經(jīng)濟(jì)的晴雨表，這導(dǎo)致中端市場被CCD探測器占領(lǐng)，低端市場被CMOS探測器占領(lǐng)。
PMT直讀光譜儀器雖然擁有眾多的優(yōu)勢與精度，但是因?yàn)樗某杀竞蛻?yīng)用范圍限制，無法普及，正占據(jù)的直讀光譜儀分析市場，選購直讀光譜儀需要看自身的要求，千萬不能只看一個數(shù)據(jù)就決定了，而應(yīng)該全面的去了解選擇

直讀光譜儀可以把它分成三類，PMT（PMT即我們俗稱的光電倍增管）與CCD（CCD即電荷耦合元件）和CMOS，但是目前市場中，其實(shí)CCD直讀光譜儀較多，新出現(xiàn)的CMOS（CMOS則是互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）技術(shù)，雖然便宜，但是技術(shù)還沒有CCD技術(shù)的成熟。
PMT直讀光譜儀的精度
PMT在技術(shù)上，是可達(dá)到精度的直讀光譜儀，只是因?yàn)樗膬r格高昂，以及增加檢測元素困難，并且市場中需要達(dá)到如此精度的工作不多，市場占有率不及CCD，普通的元素分析CCD完全夠用了。那么PMT技術(shù)精度可以達(dá)到多少呢?我們常用PPM來表示精度，而PMT直讀光譜儀的精度是可以達(dá)到1ppm或者0.1ppm的，什么，你沒看懂？1ppm就是10的-6次方，也就是一百萬分之一，或者一千萬分之一的元素含量，它能夠檢測出0.0001%或者0.00001%的元素含量，這個精度是不是老高了。一半在純金屬分析以及個別的軍工用特殊合金產(chǎn)品時會使用到。
國內(nèi)的PMT直讀光譜儀不一定能夠達(dá)到這個精度，與國外的技術(shù)相比還有一些差距。國內(nèi)PMT技術(shù)的直讀光譜儀并不多，僅是直讀光譜儀的市場，價格和科研費(fèi)用也高昂，所以大多數(shù)企業(yè)把目光放在CMOS直讀光譜儀上。

自古以來，人們都有一個毛病，非要分出個子丑寅卯，非左即右。在光譜儀檢測行業(yè)，也存在著：檢測器推陳出新，更新?lián)Q代，CCD定能取代PMT，COMS完敗CCD的論調(diào)。
檢測器作為光譜儀的核心部件，其技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個技術(shù)發(fā)展方向，采用CCD將會降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD的優(yōu)點(diǎn)是全譜，可以很方便地增加檢測元素的種類。此外，CCD具有良好穩(wěn)定性和較長的使用壽命，CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時自動完成波長校準(zhǔn)，不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)，采用CCD技術(shù)可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動。
當(dāng)年P(guān)MT還是主流，儀器笨大。因?yàn)橐潦假徶脙x器的時候?qū)@方面不是很懂，初始只為了檢測鋁基材質(zhì)，然后隨著工作的深入，需要檢測鐵基的時候，廠家說加費(fèi)用，要拆機(jī)裝通道。“EXCUSE ME？”。
現(xiàn)在不比當(dāng)年，運(yùn)用CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場。但，CCD又真的能取代PMT的地位么？
和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比，CCD發(fā)展較晚，作為新型檢測器件，還存在一定的局限性。首先CCD沒法如PMT那樣每個通道都做優(yōu)化。其次，CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫，這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù)，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保證多塊CCD的一致性，以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū)，也是一個問題。此外，當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿足中端分析應(yīng)用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長期精度方面和PMT還是有差距。

爆炸復(fù)合板是一種以碳鋼為基板，單面或多面以其他金屬為復(fù)層的雙金屬高效節(jié)能新型復(fù)合材料，經(jīng)過爆炸焊接的特殊加工工藝復(fù)合而成，既具有貴金屬的耐腐蝕性、耐磨性，又具有碳鋼良好的可焊性、成型性、延伸性和導(dǎo)熱性?；宕聿馁|(zhì)：Q235、Q345、50Mn、T8、40Cr、16Mn、GCr15等。爆炸復(fù)合板技術(shù)要求高，難于精確控制，母材性能（韌性、沖擊性能等）、性能（爆速穩(wěn)定、安全等）、初始參數(shù)（單位面積量、基復(fù)板間距等）和動態(tài)參數(shù)（碰撞角、復(fù)板碰撞速度等）的選擇與系統(tǒng)配合對復(fù)合板的成品率及質(zhì)量有著直接的影響。復(fù)合界面由直接結(jié)合區(qū)、熔化區(qū)和漩渦組成。結(jié)合界面存在原子擴(kuò)散，結(jié)合區(qū)發(fā)生了嚴(yán)重的塑性變形并伴有加工硬度，結(jié)合面為波狀結(jié)構(gòu)，對結(jié)合強(qiáng)度和抗拉強(qiáng)度的提高有益。生產(chǎn)的復(fù)合材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于石油、化工、造船、電子、電力、冶金、機(jī)械、航空航天、原子能等工業(yè)領(lǐng)域。
復(fù)合材料本身基板和復(fù)合層的厚度不一，薄厚介于鍍層和普通薄板之間?？梢赃M(jìn)行光譜分析，但是需控制激發(fā)條件，使激發(fā)完全、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確，又要避免穿透。