品牌 日本三豐
優(yōu)勢 可對測量針尖半徑補償
特點 【簡便】【準確】【快速】
精度 X和Z1軸的檢出器都配置了標尺,因此以每個軸的指示精度表示,而不是百分比精度表示
追蹤角度 (SPH-71:頂端角度為12o測針)可跟蹤大到77o的上坡和大到83o的下坡
補償圓弧變形的方法 機械補償、電子補償、通過軟件演算的補償
型號 FTA-C3000/C4000
輪廓形狀分析方法 數(shù)據(jù)處理裝置和解析程序
運動方式 圓弧、直線
數(shù)據(jù)合成功能 由于測針追蹤角度的限制,把之前分隔開幾個部分測量、評價的形狀合并成為一個接近完整的圖形功能。也可以顯示實際形狀的圖形以及各種解析。
商品介紹
【簡便】【準確】【快速】測量是三豐輪廓測量儀的特點所在,搭載強大的分析軟件大大的提升著測量效率。而在追求簡易快速操作的當下,掌握更多的輪廓測量Tips,可以讓您的測量變得事半功倍。
追蹤角度是指相對測針的進給方向,測針可以沿測量物的形狀上升或下降的極限角度。如下圖,測針尖端角度為12o的單切面測針(上圖)時,上升角度為77o,下降角度為87o。
但如果是圓錐形測針(錐角30o)的話,追蹤角度則會變小,表面上看雖然是77o以下,但受上行斜面表面粗糙度的影響,會部分存在77o以上的斜面,測力也會受到影響。三豐輪廓測量機FTA-C3000/C4000系列搭載同樣類型的測針(SPH-71:頂端角度為12o測針)可跟蹤最大77o的上坡和最大83o的下坡。
隨著測針上下動作,描繪針尖劃出的軌跡,有圓弧和直線兩種方式。
做直線運動時,機械構造復雜,做圓弧運動時,如果測針的上下移動量較大,會由于圓弧形變(δ)而導致記錄圖形出現(xiàn)偏差(參考下圖)根據(jù)測針的頂端半徑(0.025mm),記錄圖形是在測量物表面上滾動的球心軌跡。通過對這一測針的針尖半徑進行數(shù)據(jù)處理上的補償,可以得到精確的測量值和形狀記錄。
測針做圓弧運動時,會在記錄圖形的X軸方向上出現(xiàn)變形導致產生偏差。作為補償圓弧變形的手段有:
③通過軟件演算的補償方法
在對上下方向上移動量較大的測量物進行高精度測量時,需要通過軟件演算來補償圓弧變形。
X軸驅動檢測一般使用數(shù)字光柵尺進行檢測。Z軸檢測方式有模擬方式(差動變壓器)和數(shù)字光柵尺方式兩種。模擬方式會因為測量倍率和測量范圍出現(xiàn)Z軸分辨力的變化。數(shù)字光柵尺則遵循光柵尺的分辨力。一般來說,數(shù)字光柵尺的方式精度較高。
X和Z1軸的檢出器都配置了標尺,因此以每個軸的指示精度表示,而不是百分比精度表示。
搭載高精度數(shù)字圓弧柵尺,測臂不在水平位置也可實現(xiàn)高精度測量由于輪廓形狀的斜面角度大或者有毛刺存在,測針針尖出現(xiàn)超負荷時,為了防止測針損傷,儀器會自動停止運轉,并發(fā)出蜂鳴警報。一般情況下,按進給方向(X軸方向)的負荷和上下方向(Z軸方向)的負荷分別裝備。
完成測量操作后,可以選擇以下兩種方法進行輪廓的形狀分析:數(shù)據(jù)處理裝置和解析程序。
實時輸入數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和一個專門的程序使用鼠標或鍵盤進行分析,從而完成輪廓測量。角度、半徑、步驟、間距和等會用數(shù)值直接顯示進來。另外還可以輕松地結合坐標系進行解析。記錄圖形經測針半徑補償后繪圖器和激光打印機輸出。
FORMTRACEPAK軟件分析輪廓
與其說對圖形顯示的尺寸的解析,不如說是作為“形狀”與設計數(shù)據(jù)的比較并顯示和記錄其偏差。另外,將基準測量物轉變成設計的數(shù)據(jù)與測量數(shù)據(jù)進行比較。尤其當這一部分的形狀影響商品性能的時候,或由于與組合部件的關系產生影響時使用較多。當被測量的輪廓形狀數(shù)據(jù)有標準時,要根據(jù)基準進行設計值的檢驗。沒有基準或只檢驗形狀時,可以用設計數(shù)據(jù)與測量數(shù)據(jù)進行擬合。
擬合從兩組數(shù)據(jù)來求偏差量,求二次方的和為最小值的坐標系,使測量數(shù)據(jù)與設計數(shù)據(jù)重合。由于測針追蹤角度的限制,把之前分隔開幾個部分測量、評價的形狀合并成為一個接近完整的圖形功能。也可以顯示實際形狀的圖形以及各種解析。
輪廓測量儀是測量各種機械零件形狀的精密設備,可測量各類工件,廣泛應用于機械加工、電機、汽車、精密五金工具、刀具模具等各種行業(yè)。
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