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鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
主營產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
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鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
主營產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
祺祵祴祺祵祷祹祹祲祸祲
光譜儀火花直讀-光直讀光譜儀
價格
訂貨量(臺)
¥225000.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 文先生
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鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
像素 3648
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
譜線范圍 130-640nm
分辨率 優(yōu)于 0.01nm
商品介紹
硫是有害的雜質(zhì),在鋼中要嚴(yán)格限制其含量。硫作為常規(guī)分析非金屬元素,其激發(fā)產(chǎn)生的特征波長較長,能量較低,受光路的影響較大,所以它是光譜儀分析元素中較為敏感的元素。在日常分析中,儀器的飄移,如電源異常、設(shè)備震動、光電倍增管的老化等所造成的影響對硫來說,激發(fā)強(qiáng)度一般都是向低端偏離,容易出現(xiàn)數(shù)據(jù)的不準(zhǔn)確性。
Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢
?高靈敏度 CMOS 檢測器
?像素數(shù):4096,全行業(yè)
?像素尺寸: 7μm,全行業(yè)小
?精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量
?線性度好,圖像滯后小
?工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無像差,分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,全行業(yè)
?線分辨率: 0.7407nm/mm
?像素分辨率 :0.005926nm
?譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
?潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時)啟動只需 30min,熱機(jī)啟動時間 5min
?智能判斷分析間隔時間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時待機(jī) 70 天
?一次激發(fā),分片曝光,同時采集,同時回數(shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時間
?提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時間,提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源(國家專利技術(shù) 專利號 ZL 201010118150.4)
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF(平均無故障間相隔時間)> 5000 小時
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜,加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng),溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式,數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集,采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動扣除元素間加合、倍增干擾,分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動校準(zhǔn)像素漂移,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段,自動匹配,分析范圍廣
?未知樣品自動匹配分析程序
?簡潔清新、功能強(qiáng)大
?多語言版本(中、英、俄、德)
?智能冶煉配料計算
?牌號識別
?支持碳當(dāng)量等自動計算功能
儀器測定結(jié)果偏差較大,分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確,如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩(wěn)定:檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求;
3)激發(fā)控樣:若控樣分析結(jié)果良好,說明儀器性能不存在問題,待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結(jié)果也存在較大問題時,應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化;
5)清理火花臺,擦拭透鏡或平鏡,清理排污通道,更換氬氣等,然后重新校準(zhǔn)曲線;
6)外界條件符合要求:室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi);電源電壓穩(wěn)定;周圍無大功率、強(qiáng)輻射電器運(yùn)作;地線連接良好等;
7)對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩(wěn)定時間。
若還存在問題,請聯(lián)系鋼研納克售后工程師。
現(xiàn)在有些品牌號稱能夠用火花直讀光譜儀(OES)直接分析灰口鑄鐵,不知道是否可信。畢竟幾十年的(OES)工作經(jīng)驗,告訴我們,灰口鑄鐵必須白口化(也就是急冷使得片狀石墨的灰鐵變成游離碳化物,以滲碳體的白口鑄鐵),才能用光譜儀分析。
直讀光譜儀是用電弧(火花)的高溫使樣品中各種元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長,經(jīng)光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的檢測器,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機(jī)處理,并計算出各元素的百分含量。
Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢
?高靈敏度 CMOS 檢測器
?像素數(shù):4096,全行業(yè)
?像素尺寸: 7μm,全行業(yè)小
?精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量
?線性度好,圖像滯后小
?工作頻率范圍寬,可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無像差,分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,全行業(yè)
?線分辨率: 0.7407nm/mm
?像素分辨率 :0.005926nm
?譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
?潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時)啟動只需 30min,熱機(jī)啟動時間 5min
?智能判斷分析間隔時間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時待機(jī) 70 天
?一次激發(fā),分片曝光,同時采集,同時回數(shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時間
?提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時間,提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源(國家專利技術(shù) 專利號 ZL 201010118150.4)
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF(平均無故障間相隔時間)> 5000 小時
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜,加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng),溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施,隔絕環(huán)境溫度影響,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式,數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集,采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動扣除元素間加合、倍增干擾,分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動校準(zhǔn)像素漂移,保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段,自動匹配,分析范圍廣
?未知樣品自動匹配分析程序
?簡潔清新、功能強(qiáng)大
?多語言版本(中、英、俄、德)
?智能冶煉配料計算
?牌號識別
?支持碳當(dāng)量等自動計算功能
儀器測定結(jié)果偏差較大,分析結(jié)果不穩(wěn)定該如何處理?
1)檢查分析方法是否正確,如分析模型、分析程序等;
2)儀器本身穩(wěn)定:檢查儀器光室溫度、內(nèi)部環(huán)境溫度、氬氣壓力是否滿足分析要求;
3)激發(fā)控樣:若控樣分析結(jié)果良好,說明儀器性能不存在問題,待測樣品可能存在偏析、縮孔、裂紋等缺陷;
4)控樣結(jié)果也存在較大問題時,應(yīng)當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)化;
5)清理火花臺,擦拭透鏡或平鏡,清理排污通道,更換氬氣等,然后重新校準(zhǔn)曲線;
6)外界條件符合要求:室溫、濕度在規(guī)定范圍內(nèi);電源電壓穩(wěn)定;周圍無大功率、強(qiáng)輻射電器運(yùn)作;地線連接良好等;
7)對部分基體中的特別元素需要延長儀器穩(wěn)定時間。
若還存在問題,請聯(lián)系鋼研納克售后工程師。
現(xiàn)在有些品牌號稱能夠用火花直讀光譜儀(OES)直接分析灰口鑄鐵,不知道是否可信。畢竟幾十年的(OES)工作經(jīng)驗,告訴我們,灰口鑄鐵必須白口化(也就是急冷使得片狀石墨的灰鐵變成游離碳化物,以滲碳體的白口鑄鐵),才能用光譜儀分析。
直讀光譜儀是用電弧(火花)的高溫使樣品中各種元素從固態(tài)直接氣化并被激發(fā)而射出各元素的特征波長,經(jīng)光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的檢測器,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機(jī)處理,并計算出各元素的百分含量。
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公司名稱 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
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