移動(dòng)式金屬材料分析儀原裝進(jìn)品 斯派克 臺(tái)金屬材料分析儀原裝進(jìn)品
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產(chǎn)地 德國
品牌 斯派克
類型 金屬元素分析儀
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
產(chǎn)品編號(hào) 9624790
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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小編教你如何避免直讀光譜儀的誤差

電極的頂i尖應(yīng)具有一定角度,使光軸不偏離中心,放電間隙應(yīng)保持不變,否則聚焦在分光儀的譜線強(qiáng)度會(huì)改變。多次重復(fù)放電以后,電極會(huì)長尖,改變了放電間隙。激發(fā)產(chǎn)生的金屬蒸氣也會(huì)污染電極。所以必須激發(fā)一次后就用刷子清理電極。

透鏡內(nèi)表面常常受到來自真空泵油蒸氣的污染,外表面受到分析時(shí)產(chǎn)生金屬蒸氣的附著,使透過率明顯降低,對(duì)波長小于200nm的碳、硫、磷譜線的透過率影響更顯著,所以聚光鏡要進(jìn)行定期清理。

真空度不夠高會(huì)降低分析靈敏度, 特別是波長小于200nm的元素更明顯, 為此要求真空度達(dá)0.05mmHg。

出射狹縫的位置變化受溫度的影響大,因此保持分光室內(nèi)恒溫30℃很重要,還要求室內(nèi)溫度保持一致,使出射狹縫不偏離正常。

直讀光譜儀有哪些誤差來源

偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。因?yàn)楣怆姽庾V分析所消耗的樣品很少,樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性,導(dǎo)致不同部位的分析結(jié)果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下:

(1)熔煉過程中帶入夾雜物,產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等




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選擇直讀光譜儀的譜線分析線時(shí),需要滿足以下幾點(diǎn)要求:

1)分析線和內(nèi)部laber線之間需要相同。

2)選擇分析線時(shí),應(yīng)注意其他元素的干擾,盡量遠(yuǎn)離其他元素的重疊干擾。

3)選擇有足夠濃度靈敏度的分析線,也就是說,當(dāng)樣品濃度有微小變化時(shí),譜線強(qiáng)度也可以表示出來,同時(shí)分析線含量范圍要大一些,有利于分析。

4)分析線和內(nèi)線的強(qiáng)度零含量(數(shù)字電壓值,計(jì)數(shù))好處于中間分析含量的中間范圍。

淺談直讀光譜儀的光柵衍射效率

為了提高直讀光譜儀的光柵衍射效率,在提高制作工藝的基礎(chǔ)上,通常采用特殊鍍膜以增強(qiáng)反射率,從而增大光柵的衍射效率。閃耀波長指與衍射角對(duì)應(yīng)的光能量強(qiáng)的衍射波長。閃耀波長由閃耀角來決定。由于每塊光柵的閃耀角不同,故其閃耀波長也不同。當(dāng)入射角α、衍射角β與閃耀角θ相等時(shí),閃耀波長與閃耀角之間的關(guān)系式mλ=2dsinβ=2dsinθ,其中m=0,±1,±2……,d為光柵常量。

光柵光譜覆蓋范圍和分辨率是非常重要的參數(shù),直接影響直讀光譜儀的檢測(cè)分析性能。光柵刻線的密度決定了光柵的分辨率和光譜范圍,光柵刻線密度越大,光柵分辨率越高,對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越窄;反之,光柵刻線密度越小,光柵分辨率越低,對(duì)應(yīng)的光柵光譜覆蓋范圍就越小。因此直讀光譜儀的檢測(cè)范圍是由起始波長加上光柵光譜的覆蓋范圍所得。




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總結(jié)的直讀光譜儀的特點(diǎn)

USB采集,通用性更強(qiáng)

固態(tài)吸附阱,防止油氣對(duì)光室的污染,提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性

綠光背景燈,加快響應(yīng)速度,提高短期分析精度

銅火花臺(tái)底座,提高散熱性及堅(jiān)固性能

光譜儀概述

光譜儀( Spectroscope)又稱分光儀。以光電倍增管等光探測(cè)器在不同波長位置,測(cè)量譜線強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫,1個(gè)色散系統(tǒng),一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器,由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成,利用光譜儀可測(cè)量物體表面反射的光線。




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