廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的工作原理和使用范圍

樣品中所有要分析的元素（幾個(gè)甚至十幾個(gè)）可以一次同時(shí)分析出來，對(duì)于牌號(hào)復(fù)雜的產(chǎn)品，要求分析元素愈多愈合算，經(jīng)濟(jì)效益好。

分析精度非常高，可以有效控制產(chǎn)品的化學(xué)成份，保證它能符合國家標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)格，甚至可將合金成份控制到規(guī)格的中下限，以節(jié)省中間合金或鐵合金的消耗。

分析數(shù)據(jù)可以從計(jì)算機(jī)打印出來或存入軟盤中，作為永i久性記錄?？傊?，從技術(shù)角度來看光電光譜分析，可以說至今還沒有比它能更有效的用于爐前快速分析的儀器，具備了那么多的特點(diǎn)而能取代它。所以世界上冶煉、鑄造以及其他金屬加工企業(yè)均競(jìng)相采用這類儀器成為一種常規(guī)分析手段，從保證產(chǎn)品質(zhì)量，從經(jīng)濟(jì)效益等方面，它是十分有利的分析工具。  

手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀的優(yōu)勢(shì)優(yōu)點(diǎn)

1．快速直接分析，幾乎不需要樣品制備

2．可以檢測(cè)幾乎所有元素

3．可以同時(shí)分析多種元素

4．基體形態(tài)多樣性 － 可以檢測(cè)幾乎所有固態(tài)樣品

手持式激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀中彌補(bǔ)了傳統(tǒng)元素分析方法的不足，尤其在微小區(qū)域材料分析、鍍層／薄膜分析、缺陷檢測(cè)、珠寶鑒定、法醫(yī)證據(jù)鑒定、粉末材料分析、合金分析等應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)明顯，同時(shí)，LIBS還可以廣泛適用于地質(zhì)、煤炭、冶金、制藥、環(huán)境、科研等不同領(lǐng)域的應(yīng)用。

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你知道直讀光譜儀測(cè)球鐵必須要用ya氣凈化器嗎？

一、光譜儀，是通過分析各種元素的特征光譜是否出現(xiàn)，來定性分析；通過分析譜線的強(qiáng)度，來判定元素的含量。就鑄鐵而言，主要元素的特征譜線都在紫外線以外，這一波長(zhǎng)區(qū)間，在空氣中的吸收率特別高，故在激發(fā)平臺(tái)需要使用ya氣進(jìn)行保護(hù)，而且對(duì)ya氣的純度要求很高。

二、不管是球鐵還是灰鐵，只要所測(cè)元素光譜在紫外區(qū)域，對(duì)光室要求都很高。一般要求抽真空或充ya氣。主要是為了防止空氣中的氧氣和水蒸氣吸收紫外光譜，影響測(cè)量穩(wěn)定性。所以ya氣要求越純?cè)胶?，瓶裝的ya氣純度不夠穩(wěn)定，所以需要接一個(gè)ya氣凈化器。

你知道直讀光譜儀測(cè)定錳的原理是什么嗎？

一、直讀光譜儀的原理：用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長(zhǎng)，用光柵分光后，成為按波長(zhǎng)排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號(hào)變成電信號(hào)，經(jīng)儀器的控制測(cè)量系統(tǒng)將電信號(hào)積分進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換，然后由計(jì)算機(jī)處理，并打印出各元素的百分含量。

二、Q345R應(yīng)該是屬于鋼鐵合金。

數(shù)據(jù)若結(jié)果不同：原因可能有兩個(gè)方面。

1.檢測(cè)本身的誤差，手工操作有人為誤差，直讀光譜檢測(cè)前需要進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化，如果沒有，那么可能導(dǎo)致儀器分析結(jié)果誤差偏大。兩個(gè)方面綜合就會(huì)有一定的差異

2.取樣問題，任何材料都不能保證百分i之百的均勻。如果同一種材料取樣位置不同，也可能導(dǎo)致分析結(jié)果產(chǎn)生差異。

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項(xiàng)

分光計(jì)的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測(cè)定范圍、鄰近譜線對(duì)分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測(cè)定波長(zhǎng)范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標(biāo)元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對(duì)熒光X射線強(qiáng)度的影響。對(duì)于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對(duì)X射線的吸收。測(cè)短波X射線時(shí)，要求粒度在250目以上，測(cè)量波長(zhǎng)大于0.2nm的長(zhǎng)波x射線時(shí)，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實(shí)并使表面平滑。粗糙表面會(huì)使熒光X射線的強(qiáng)度明顯下降。測(cè)量短波X射線時(shí)，光潔度在1005m左右，測(cè)量長(zhǎng)波X射線時(shí)，光潔度為20-50Mm。