廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的誤差來源

一、偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導致不同部位的分析結果不同而產生偶然誤差。主要原因如下：

直讀光譜儀

(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

火花直讀光譜儀主要特點

儀器特點：

1． 使用靈活，性能可靠，穩(wěn)定性好。

2． 儀器檢測限低，分析精密度高，結果準確。

3． 分析速度快(20～30秒)，運行成本低。

4． 維護方便，故障率低。

5． 抗環(huán)境干擾能力強。

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你知道直讀光譜儀測球鐵必須要用ya氣凈化器嗎？

一、光譜儀，是通過分析各種元素的特征光譜是否出現(xiàn)，來定性分析；通過分析譜線的強度，來判定元素的含量。就鑄鐵而言，主要元素的特征譜線都在紫外線以外，這一波長區(qū)間，在空氣中的吸收率特別高，故在激發(fā)平臺需要使用ya氣進行保護，而且對ya氣的純度要求很高。

二、不管是球鐵還是灰鐵，只要所測元素光譜在紫外區(qū)域，對光室要求都很高。一般要求抽真空或充ya氣。主要是為了防止空氣中的氧氣和水蒸氣吸收紫外光譜，影響測量穩(wěn)定性。所以ya氣要求越純越好，瓶裝的ya氣純度不夠穩(wěn)定，所以需要接一個ya氣凈化器。

你知道直讀光譜儀測定錳的原理是什么嗎？

一、直讀光譜儀的原理：用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接氣化并被激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分進行模/數(shù)轉換，然后由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。

二、Q345R應該是屬于鋼鐵合金。

數(shù)據(jù)若結果不同：原因可能有兩個方面。

1.檢測本身的誤差，手工操作有人為誤差，直讀光譜檢測前需要進行標準化，如果沒有，那么可能導致儀器分析結果誤差偏大。兩個方面綜合就會有一定的差異

2.取樣問題，任何材料都不能保證百分i之百的均勻。如果同一種材料取樣位置不同，也可能導致分析結果產生差異。

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維修直讀光譜儀基本準則

先軟后硬

先檢查軟件程序運行是否正常，再分析硬件運行是否有問題。如當儀器顯示真空不良、溫度異常、壓力異常、無積分信號、通訊中斷等顯示時，我們必須是在此基礎之上，順藤摸瓜沿電腦指示的異常信息，去檢查所對應的硬件，這樣可以很快的找到故障的根源，縮短維修時間，提高工作效率i。

先外后內

先檢查儀器外圍設施，再檢查儀器本身。儀器突然整機停電不工作了，首先檢查儀器的外圍情況，如冷卻水是否中斷，水泵或水閘閥是否異常，燃氣或輔助氣氣壓是否偏低或過高，電磁閥是否失電或斷路，電氣開關或空氣開關是否跳閘，各外部接插件是否脫落等。然后再尋找儀器本身內部的問題。

手持式光譜儀工作原理

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅逐一個內層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不被原子內吸收,而是以光子形式放出,便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。