廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)業(yè)務(wù)有：金屬化學(xué)成分分析儀，全譜直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光譜機(jī)，進(jìn)口直讀光譜儀等等。

直讀光譜儀的誤差來(lái)源

其他因素誤差

(1)ya氣不純。當(dāng)ya氣中含有氧和水蒸氣時(shí)，會(huì)使激發(fā)斑點(diǎn)變壞。如果ya氣管道與電極架有污染物排不出去，分析結(jié)果會(huì)變差。

(2)室內(nèi)溫度的升高會(huì)增加光電倍增管的暗電流，降低信噪比。濕度大容易導(dǎo)致高壓元件發(fā)生漏電、放電現(xiàn)象，使分析結(jié)果不穩(wěn)定。

火花直讀光譜儀性能特點(diǎn)

精密的光學(xué)系統(tǒng)

◆采用帕邢-龍格裝置，1米焦距，相對(duì)于較短焦距儀器，成像質(zhì)量好、分辨率高。

◆多種刻線光柵定制選擇，滿足不同客戶的測(cè)試需求。

◆整體狹縫技術(shù)，預(yù)留多條通道，便于用戶增加更改通道，節(jié)約成本。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：火花直讀光譜儀，光譜機(jī)，金屬材料分析儀，金屬元素分析儀，金屬成分分析儀，進(jìn)口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀等等

火花直讀光譜儀應(yīng)用前景分析

利用火花直讀光譜儀進(jìn)行非金屬元素/夾雜物的測(cè)定，目前還不是很理想，需要進(jìn)一步研究。納克高宏斌先生、斯派克王彥彪先生、煙臺(tái)東方趙珍陽(yáng)先生均認(rèn)為目前火花直讀光譜儀測(cè)定氮尤其是高含量氮已經(jīng)比較常規(guī)，但測(cè)定氧、碳、氫元素還比較困難。裴雷先生認(rèn)為：“要測(cè)定C,S,O,N,H等元素，不只對(duì)儀器有要求，還要求相關(guān)配套的標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢測(cè)方法標(biāo)準(zhǔn)也要向前發(fā)展。”牛津儀器的諸煒先生也表示：“根據(jù)研究顯示：利用火花直讀光譜儀進(jìn)行酸溶鋁測(cè)定的結(jié)果與濕法分析結(jié)果之間時(shí)常出現(xiàn)偏差，所以進(jìn)行夾雜物的分析還不是很成熟?！?

影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度因素

手持式光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素

1、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時(shí)，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過(guò)一定厚度的樣品才能射出。在穿透過(guò)程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。

如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長(zhǎng)稍短于分析元素的吸收邊，它會(huì)使分析元素產(chǎn)生二次熒光X射線，從而使分析元素的熒光X射線強(qiáng)度增強(qiáng)，這就是基體的增強(qiáng)i效應(yīng)。

如果吸收效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏低，如果增強(qiáng)i效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏高。

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直讀光譜儀的維護(hù)周期

一、刷電極（每次激發(fā)前)

二、過(guò)濾罐清理（7-15）天

三、激發(fā)臺(tái)的清理（3-7）天

四、清理透鏡（3-6）月

五、分子過(guò)濾篩（1-3）年

注：實(shí)際清理時(shí)間根據(jù)客戶的使用頻率而定，二、三、四、五項(xiàng)給出的是小檢查周期，若儀器性能良好，適時(shí)檢查即可，并不一定需要清理。

光電直讀光譜儀激發(fā)部位的選擇

光電直讀光譜儀分析中，試樣制備好以后，一般選擇哪個(gè)部位激發(fā)比較好？

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣z外層是精細(xì)粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝辉嚇又行膮^(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來(lái)說(shuō)較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是z理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，z適合光譜分析。另外，鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。