直讀火花光譜儀直讀光譜儀出售 斯派克 進(jìn)口光譜儀直讀直讀光譜儀
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商品參數(shù)
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品牌 斯派克
產(chǎn)地 德國(guó)
是否進(jìn)口
類型 金屬元素分析儀
產(chǎn)品編號(hào) 9228502
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng):直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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維護(hù)直讀光譜儀的要點(diǎn)

一、直讀光譜儀維護(hù)保養(yǎng)原則

光電直讀光譜儀是光和電結(jié)合的精密儀器,正確地使用和維護(hù)保養(yǎng)是機(jī)器正常運(yùn)行,延長(zhǎng)使用壽命,保持高性能和高指標(biāo)的關(guān)鍵。一定要按照儀器說(shuō)明書來(lái)全i面理解,從原理到實(shí)際操作、測(cè)試等整個(gè)過(guò)程。直讀光譜儀維護(hù)要做到三防一恒。即防震,防塵,防潮,儀器要保持恒溫。這個(gè)條件必須在設(shè)計(jì)試驗(yàn)室需要考慮的。

二、直讀光譜儀激發(fā)光源的維護(hù)

光源的穩(wěn)定性與直讀光譜分析至關(guān)重要;光源內(nèi)積塵太多和空氣溫度較大時(shí)容易造成漏電或放電。所以我們應(yīng)該定期進(jìn)行清掃,吸去塵土。

關(guān)于選擇直讀光譜儀的分析

CCD具有體積小、重量輕、測(cè)量范圍寬的優(yōu)點(diǎn),每個(gè)CCD可以測(cè)量多條譜線。因此CCD光譜儀體積小重量輕,性價(jià)比較高。后期儀器增設(shè)也比較簡(jiǎn)單。適合檢測(cè)產(chǎn)品種類多且成分復(fù)雜的客戶使用。但是由于CCD噪聲相對(duì)PMT要高,因此CCD光譜儀的檢出限比PMT機(jī)型相對(duì)要差一點(diǎn),對(duì)于需要分析純金屬的客戶是不太適合的。DF400、DF500屬于CCD型機(jī)器。

PMT/CCD混合型的機(jī)器集PMT和CCD的優(yōu)點(diǎn)于一身,微量元素用PMT測(cè)量,常量及高含量元素用CCD測(cè)量,兼顧了PMT的低檢出限和CCD的多通道特性,性能和價(jià)格都比較理想。




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火花直讀光譜儀常見(jiàn)的故障以及處理措施分析

光強(qiáng)值下降

原因分析:1、透鏡臟;2、入射狹縫污染;3、光纖老化

處理辦法:擦拭透鏡,清理狹縫,更換光纖。

經(jīng)驗(yàn)總結(jié):火花直讀光譜儀用久了,激發(fā)臺(tái)會(huì)因點(diǎn)打的太多了,出現(xiàn)放電漏氣現(xiàn)象,導(dǎo)致光強(qiáng)上不去,需要經(jīng)常清理激發(fā)臺(tái)板及火花室。

數(shù)據(jù)不穩(wěn)定

處理方法:清洗鏡片后重新做標(biāo)準(zhǔn)化,儀器鏡片的污染會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)測(cè)試的結(jié)果不穩(wěn)定,長(zhǎng)時(shí)間沒(méi)有做儀器的曲線校準(zhǔn)也會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)測(cè)試穩(wěn)定性不好。

P、S穩(wěn)定性不好,檢查真空泵是否被誤關(guān)掉,真空光路鏡片是否需要清洗,一個(gè)維護(hù)不好的光路會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的重現(xiàn)性和分析結(jié)果。

處理辦法:檢查真空泵及清洗鏡片

真空值下降快故障

處理辦法:看真空值曲線是否平緩,否則,有漏氣的地方,檢查真空室真空蓋密封性,更換密封圈或?qū)蔷o固螺絲,




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直讀光譜儀的維護(hù)周期

一、刷電極(每次激發(fā)前)

二、過(guò)濾罐清理(7-15)天

三、激發(fā)臺(tái)的清理(3-7)天

四、清理透鏡(3-6)月

五、分子過(guò)濾篩(1-3)年

注:實(shí)際清理時(shí)間根據(jù)客戶的使用頻率而定,二、三、四、五項(xiàng)給出的是小檢查周期,若儀器性能良好,適時(shí)檢查即可,并不一定需要清理。

光電直讀光譜儀激發(fā)部位的選擇

光電直讀光譜儀分析中,試樣制備好以后,一般選擇哪個(gè)部位激發(fā)比較好?

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣z外層是精細(xì)粒區(qū),該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝辉嚇又行膮^(qū)域是等軸晶區(qū),就晶體本身來(lái)說(shuō)較適合光譜分析,但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷;所以距離試樣中心三分之二的圓周是z理想的分析區(qū)域,該區(qū)域多為柱狀晶,宏觀偏析也較小,z適合光譜分析。另外,鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析,以避免偏析的出現(xiàn)。




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