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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項(xiàng)

分光計(jì)的選擇

一般是根據(jù)分析元素及其測定范圍、鄰近譜線對分析線影響的程度等因素，考慮色散率、測定波長范圍和亮度來選定。

分析線的選擇

分析元素和內(nèi)標(biāo)元素的譜線應(yīng)選擇受其他元素譜線及帶光譜等影響小、信噪比大的譜線。

對直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素

不均勻效應(yīng)

不均勻效應(yīng)是指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對熒光X射線強(qiáng)度的影響。對于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對X射線的吸收。測短波X射線時(shí)，要求粒度在250目以上，測量波長大于0.2nm的長波x射線時(shí)，則粒度要求在400目以上。

固體塊狀試樣一定要磨平拋光，粉末試樣要壓實(shí)并使表面平滑。粗糙表面會(huì)使熒光X射線的強(qiáng)度明顯下降。測量短波X射線時(shí)，光潔度在1005m左右，測量長波X射線時(shí)，光潔度為20-50Mm。

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總結(jié)的直讀光譜儀的特點(diǎn)

USB采集，通用性更強(qiáng)

固態(tài)吸附阱，防止油氣對光室的污染，提高長期運(yùn)行穩(wěn)定性

綠光背景燈，加快響應(yīng)速度，提高短期分析精度

銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能

光譜儀概述

光譜儀( Spectroscope)又稱分光儀。以光電倍增管等光探測器在不同波長位置，測量譜線強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫，1個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器，由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成，利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。

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直讀光譜儀的維護(hù)周期

一、刷電極（每次激發(fā)前)

二、過濾罐清理（7-15）天

三、激發(fā)臺(tái)的清理（3-7）天

四、清理透鏡（3-6）月

五、分子過濾篩（1-3）年

注：實(shí)際清理時(shí)間根據(jù)客戶的使用頻率而定，二、三、四、五項(xiàng)給出的是小檢查周期，若儀器性能良好，適時(shí)檢查即可，并不一定需要清理。

光電直讀光譜儀激發(fā)部位的選擇

光電直讀光譜儀分析中，試樣制備好以后，一般選擇哪個(gè)部位激發(fā)比較好？

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣z外層是精細(xì)粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝?；試樣中心區(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來說較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是z理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，z適合光譜分析。另外，鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。