熒光光譜儀品牌熒光光譜儀 日本理學(xué) x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀
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熒光光譜儀品牌熒光光譜儀-日本理學(xué)-x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀

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品牌 日本理學(xué)
產(chǎn)品 日本
是否進(jìn)口
儀器名 波長色散x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 9165068
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

X熒光光譜儀測試方法:

1、X熒光光譜儀樣品制備

進(jìn)行x射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學(xué)組成相同,熱處理過程不同的樣品,得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔,快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品,要研磨至300目一400目,然后壓成圓片,也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面,則可以把試樣用酸溶解,再沉淀成鹽類進(jìn)行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上,用紅外燈蒸干水份后測定,也可以密封在樣品槽中??傊?,所測樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份,更不能含有腐蝕性溶劑。






原子熒光光譜法是以原子在輻射能量分析的發(fā)射光譜分析法。利用激發(fā)光源發(fā)出的特征發(fā)射光照射一定濃度的待測元素的原子蒸氣,使之產(chǎn)生原子熒光,在一定條件下,熒光強度與被測溶液中待測元素的濃度關(guān)系遵循Lambert-Beer定律,通過測定熒光的強度即可求出待測樣品中該元素的含量。

原子熒光光譜法具有原子吸收和原子發(fā)射兩種分析方法的優(yōu)勢,并且克服了這2種方法在某些地方的不足。該法的優(yōu)點是靈敏度高,目前已有20多種元素的檢出限優(yōu)于原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法;譜線簡單;在低濃度時校準(zhǔn)曲線的線性范圍寬達(dá)3~5個數(shù)量級,特別是用激光做激發(fā)光源時更佳,但其存在熒光淬滅效應(yīng),散射光干擾等問題。








日本理學(xué)波長色散X射線熒光硫(S)分析儀,根據(jù)ASTM D2622-10測量石油燃料中超低硫(ULS)

波長色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設(shè)計的理學(xué)Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀(WDXRF),擁有一個新的特征,可以同時測定硫的峰強和背景強度。測定并校正背景強度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強度測定,從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。





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