
鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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主營(yíng)產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
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鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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北京鋼研納克光譜儀-光譜分析儀
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像素?cái)?shù) 3648+46
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率 0.005926nm
譜線范圍 130-800nm
商品介紹
碳素鋼是近代工業(yè)中使用早、用量的基本材料。目前碳素鋼的產(chǎn)量在各國(guó)鋼總產(chǎn)量中的比重,約保持在80%左右,它不僅廣泛應(yīng)用于建筑、橋梁、鐵道、車(chē)輛、船舶和各種機(jī)械制造工業(yè),而且在近代的石油化學(xué)工業(yè)、海洋開(kāi)發(fā)等方面,也得到大量使用。世界各工業(yè)國(guó)家,在努力增加低合金高強(qiáng)度鋼和合金鋼產(chǎn)量的同時(shí),也非常注意改進(jìn)碳素鋼質(zhì)量。火花原子發(fā)射光譜分析法是一項(xiàng)成熟的分析技術(shù),能夠準(zhǔn)確快速的測(cè)定材料的成分含量,從而實(shí)現(xiàn)材料質(zhì)量的判定,能實(shí)現(xiàn)多元素含量的同時(shí)定量分析,操作簡(jiǎn)單快速,完全可以滿(mǎn)足工業(yè)生產(chǎn)要求。本文采用鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司生產(chǎn)的Labspark750型火花光譜儀對(duì)生產(chǎn)樣品進(jìn)行分析比對(duì)實(shí)驗(yàn),得到火花直讀光譜儀分析中低合金鋼中各元素準(zhǔn)確含量的方法。

球墨鑄鐵塑性韌性好, 成本低, 廣泛用于汽車(chē)、化工、風(fēng)電等設(shè)備的制造; 火花放電原子發(fā)射光譜分析方便、快捷, 廣泛用于冶金產(chǎn)品的成分檢測(cè), 由于球墨鑄鐵的非白口化狀態(tài), 其制品無(wú)法直接進(jìn)行光譜分析。通過(guò)對(duì)球墨鑄鐵制品試樣進(jìn)行淬火熱處理, 改變它的表面組織為半白口化狀態(tài), 結(jié)構(gòu)致密,從而可以進(jìn)行光譜分析, 激發(fā)后, 被激發(fā)的樣品表面出現(xiàn)有黑暈的正常激發(fā)點(diǎn), 可以讀取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù), 大大提高了檢測(cè)速度和效率。本文采用鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司生產(chǎn)的Labspark750型火花光譜儀對(duì)生產(chǎn)樣品進(jìn)行分析比對(duì)實(shí)驗(yàn),得到火花直讀光譜儀分析鑄鐵中各元素準(zhǔn)確含量的方法。

自古以來(lái),人們都有一個(gè)毛病,非要分出個(gè)子丑寅卯,非左即右。在光譜儀檢測(cè)行業(yè),也存在著:檢測(cè)器推陳出新,更新?lián)Q代,CCD定能取代PMT,COMS完敗CCD的論調(diào)。
檢測(cè)器作為光譜儀的核心部件,其技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個(gè)技術(shù)發(fā)展方向,采用CCD將會(huì)降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD的優(yōu)點(diǎn)是全譜,可以很方便地增加檢測(cè)元素的種類(lèi)。此外,CCD具有良好穩(wěn)定性和較長(zhǎng)的使用壽命,CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時(shí)自動(dòng)完成波長(zhǎng)校準(zhǔn),不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn),采用CCD技術(shù)可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動(dòng)。
當(dāng)年P(guān)MT還是主流,儀器笨大。因?yàn)橐潦假?gòu)置儀器的時(shí)候?qū)@方面不是很懂,初始只為了檢測(cè)鋁基材質(zhì),然后隨著工作的深入,需要檢測(cè)鐵基的時(shí)候,廠家說(shuō)加費(fèi)用,要拆機(jī)裝通道?!癊XCUSE ME?”。
現(xiàn)在不比當(dāng)年,運(yùn)用CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場(chǎng)。但,CCD又真的能取代PMT的地位么?
和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比,CCD發(fā)展較晚,作為新型檢測(cè)器件,還存在一定的局限性。首先CCD沒(méi)法如PMT那樣每個(gè)通道都做優(yōu)化。其次,CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫,這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無(wú)法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù),因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT,其次如何保證多塊CCD的一致性,以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū),也是一個(gè)問(wèn)題。此外,當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿(mǎn)足中端分析應(yīng)用水平,但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長(zhǎng)期精度方面和PMT還是有差距。

眾所周知,PMT直讀光譜儀器是直讀光譜儀中精度的分析儀器。占據(jù)了直讀光譜儀的市場(chǎng),但它的缺點(diǎn)是通道數(shù)量的限制,在應(yīng)用過(guò)程中,增加通道困難,PMT直讀光譜儀器的核心元件是PMT。
PMT直讀光譜儀器光電倍增管
光電倍增管(PMT)是一種具有極高靈敏度和超快時(shí)間響應(yīng)的光探測(cè)器件。但當(dāng)材料復(fù)雜,檢查的基體和元素都較多,對(duì)PMT直讀光譜儀將是一個(gè)挑戰(zhàn),由于PMT光譜儀只能布置60個(gè)通道(雖然部分廠家號(hào)稱(chēng)可以布置更多的通道,但實(shí)際應(yīng)用很少,并且會(huì)在抗干擾方面做出犧牲),而從實(shí)際應(yīng)用看,當(dāng)通道數(shù)超過(guò)55個(gè)小時(shí),已經(jīng)很難布置,并且各管子間會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的互相干擾,使PMT的檢出能力還不如CCD。
除了這一點(diǎn),PMT光譜儀龐大的體型也代表了需要有一個(gè)適宜的場(chǎng)地,不能隨意的移動(dòng)。這確實(shí)是PMT光譜儀器的一個(gè)重大缺陷,當(dāng)然更重要的是價(jià)格,價(jià)格是市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的晴雨表,這導(dǎo)致中端市場(chǎng)被CCD探測(cè)器占領(lǐng),低端市場(chǎng)被CMOS探測(cè)器占領(lǐng)。
PMT直讀光譜儀器雖然擁有眾多的優(yōu)勢(shì)與精度,但是因?yàn)樗某杀竞蛻?yīng)用范圍限制,無(wú)法普及,正占據(jù)的直讀光譜儀分析市場(chǎng),選購(gòu)直讀光譜儀需要看自身的要求,千萬(wàn)不能只看一個(gè)數(shù)據(jù)就決定了,而應(yīng)該全面的去了解選擇

球墨鑄鐵塑性韌性好, 成本低, 廣泛用于汽車(chē)、化工、風(fēng)電等設(shè)備的制造; 火花放電原子發(fā)射光譜分析方便、快捷, 廣泛用于冶金產(chǎn)品的成分檢測(cè), 由于球墨鑄鐵的非白口化狀態(tài), 其制品無(wú)法直接進(jìn)行光譜分析。通過(guò)對(duì)球墨鑄鐵制品試樣進(jìn)行淬火熱處理, 改變它的表面組織為半白口化狀態(tài), 結(jié)構(gòu)致密,從而可以進(jìn)行光譜分析, 激發(fā)后, 被激發(fā)的樣品表面出現(xiàn)有黑暈的正常激發(fā)點(diǎn), 可以讀取準(zhǔn)確的數(shù)據(jù), 大大提高了檢測(cè)速度和效率。本文采用鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司生產(chǎn)的Labspark750型火花光譜儀對(duì)生產(chǎn)樣品進(jìn)行分析比對(duì)實(shí)驗(yàn),得到火花直讀光譜儀分析鑄鐵中各元素準(zhǔn)確含量的方法。

自古以來(lái),人們都有一個(gè)毛病,非要分出個(gè)子丑寅卯,非左即右。在光譜儀檢測(cè)行業(yè),也存在著:檢測(cè)器推陳出新,更新?lián)Q代,CCD定能取代PMT,COMS完敗CCD的論調(diào)。
檢測(cè)器作為光譜儀的核心部件,其技術(shù)的發(fā)展進(jìn)步往往引領(lǐng)著光譜儀的發(fā)展。電荷耦合元件(CCD)技術(shù)的應(yīng)用是光電直讀光譜儀的一個(gè)技術(shù)發(fā)展方向,采用CCD將會(huì)降低光電直讀光譜儀的生產(chǎn)成本及減小儀器體積。其次CCD的優(yōu)點(diǎn)是全譜,可以很方便地增加檢測(cè)元素的種類(lèi)。此外,CCD具有良好穩(wěn)定性和較長(zhǎng)的使用壽命,CCD型光電直讀光譜儀可以實(shí)現(xiàn)激發(fā)樣品時(shí)自動(dòng)完成波長(zhǎng)校準(zhǔn),不再需要定期進(jìn)行校準(zhǔn),采用CCD技術(shù)可實(shí)現(xiàn)模塊化、易于校準(zhǔn)、抗振動(dòng)。
當(dāng)年P(guān)MT還是主流,儀器笨大。因?yàn)橐潦假?gòu)置儀器的時(shí)候?qū)@方面不是很懂,初始只為了檢測(cè)鋁基材質(zhì),然后隨著工作的深入,需要檢測(cè)鐵基的時(shí)候,廠家說(shuō)加費(fèi)用,要拆機(jī)裝通道?!癊XCUSE ME?”。
現(xiàn)在不比當(dāng)年,運(yùn)用CCD技術(shù)的儀器已然占據(jù)大部分市場(chǎng)。但,CCD又真的能取代PMT的地位么?
和傳統(tǒng)的光電倍增管(PMT)技術(shù)相比,CCD發(fā)展較晚,作為新型檢測(cè)器件,還存在一定的局限性。首先CCD沒(méi)法如PMT那樣每個(gè)通道都做優(yōu)化。其次,CCD在應(yīng)用中為了降低暗電流需要降溫,這與光學(xué)系統(tǒng)需要恒溫相矛盾。CCD目前還無(wú)法應(yīng)用一些高速采樣技術(shù),因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT,其次如何保證多塊CCD的一致性,以及處理多塊CCD之間的接收空白區(qū),也是一個(gè)問(wèn)題。此外,當(dāng)前CCD技術(shù)已經(jīng)可以滿(mǎn)足中端分析應(yīng)用水平,但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和長(zhǎng)期精度方面和PMT還是有差距。

眾所周知,PMT直讀光譜儀器是直讀光譜儀中精度的分析儀器。占據(jù)了直讀光譜儀的市場(chǎng),但它的缺點(diǎn)是通道數(shù)量的限制,在應(yīng)用過(guò)程中,增加通道困難,PMT直讀光譜儀器的核心元件是PMT。
PMT直讀光譜儀器光電倍增管
光電倍增管(PMT)是一種具有極高靈敏度和超快時(shí)間響應(yīng)的光探測(cè)器件。但當(dāng)材料復(fù)雜,檢查的基體和元素都較多,對(duì)PMT直讀光譜儀將是一個(gè)挑戰(zhàn),由于PMT光譜儀只能布置60個(gè)通道(雖然部分廠家號(hào)稱(chēng)可以布置更多的通道,但實(shí)際應(yīng)用很少,并且會(huì)在抗干擾方面做出犧牲),而從實(shí)際應(yīng)用看,當(dāng)通道數(shù)超過(guò)55個(gè)小時(shí),已經(jīng)很難布置,并且各管子間會(huì)產(chǎn)生嚴(yán)重的互相干擾,使PMT的檢出能力還不如CCD。
除了這一點(diǎn),PMT光譜儀龐大的體型也代表了需要有一個(gè)適宜的場(chǎng)地,不能隨意的移動(dòng)。這確實(shí)是PMT光譜儀器的一個(gè)重大缺陷,當(dāng)然更重要的是價(jià)格,價(jià)格是市場(chǎng)經(jīng)濟(jì)的晴雨表,這導(dǎo)致中端市場(chǎng)被CCD探測(cè)器占領(lǐng),低端市場(chǎng)被CMOS探測(cè)器占領(lǐng)。
PMT直讀光譜儀器雖然擁有眾多的優(yōu)勢(shì)與精度,但是因?yàn)樗某杀竞蛻?yīng)用范圍限制,無(wú)法普及,正占據(jù)的直讀光譜儀分析市場(chǎng),選購(gòu)直讀光譜儀需要看自身的要求,千萬(wàn)不能只看一個(gè)數(shù)據(jù)就決定了,而應(yīng)該全面的去了解選擇
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icp直讀光譜儀 鋼研納克單道ICP 35年方法開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn) 鋼研納克 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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