廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營(yíng)：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

近些年來(lái)，X射線儀器仍然取得了巨大的進(jìn)步，如：全反射X射線熒光光譜儀（TXRF）、聚焦微束X射線熒光光譜儀（μXRF）、偏振X射線熒光光譜儀（EDPXRF）等相繼商品化。

WDXRF光譜儀近年同樣取得了顯著的技術(shù)進(jìn)步：

X射線管

1) 4KW大功率: 4KW薄窗 X 射線管，對(duì)于 19K~92U 元素范圍的重元素，提高靈敏度30%以上，對(duì)于 4Be~17Cl 元素范圍的輕元素，提高靈敏度 70%以上。同時(shí)，4KW 薄窗X 射線管的冷卻方式的改進(jìn)，以及 X 射線發(fā)生器控制方式的發(fā)展，使得 4KW 薄窗 X 射線管在應(yīng)用上的可靠性大大增強(qiáng)。 X 射線管功率也有小型化趨勢(shì)，使自身的體積縮小, 而且無(wú)需外冷卻水循環(huán)系統(tǒng)，如200w X射線管，性價(jià)比高、使用成本低，適用于要求固定的用戶。

2) 鈹( Be) 窗超薄化: X 射線管的鈹窗厚度一般為75~ 125um, 有的產(chǎn)家的X射線管的鈹窗厚度僅有30um, 這樣大大提高了初級(jí)X 射線的透射率。薄窗光管對(duì)Be, B, C, N等超輕元素的分析，對(duì)微量樣品分析，微區(qū)分析的發(fā)展起著極大動(dòng)作用。

3) 光管端窗超銳化: 這種超銳X射線管外形獨(dú)特, 頭部尖細(xì), 內(nèi)部采用陶瓷絕緣, 其設(shè)計(jì)更加緊湊、合理、。窗口至樣品的距離 較常規(guī)端窗管短( 約 16mm) , 大大提高了X 射線輻照強(qiáng)度。而且, 由于采用優(yōu)良的絕緣和長(zhǎng)壽命的燈絲, 延長(zhǎng)了X 射線管的使用壽命。

4) 光管雙靶化: 為了使輕重元素都能獲 得激發(fā)效率, 一些儀器廠家將光管設(shè)置 成雙靶型。如日本株式會(huì)社理學(xué)。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司（原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司）創(chuàng)立于2005年，十三年來(lái)堅(jiān)持服務(wù)于國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域，專注于各類儀器的研究制造與營(yíng)銷服務(wù)，是一家專門(mén)為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。

 產(chǎn)品資源豐富，種類齊全，涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等，如全譜直讀光譜儀、波長(zhǎng)\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見(jiàn)分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。

 在儀德人的深耕細(xì)作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運(yùn)輸、機(jī)械制造、商檢、質(zhì)檢、環(huán)境保護(hù)、食品藥品和教學(xué)科研等各行各業(yè)。

土壤是重金屬污染的主要載體，也是重金屬污染防治，修復(fù)的主要目標(biāo)。摸清土壤污染狀況，監(jiān)測(cè)土壤污染動(dòng)態(tài)是污染防治的基礎(chǔ)。土壤中重金屬污染的分析除了常見(jiàn)的原子吸收，等離子體發(fā)射光譜和等離子體質(zhì)譜法之外，使用zui頻繁的是X射線熒光光譜儀(XRF), 按照儀器設(shè)計(jì)與檢測(cè)原理的不同，XRF產(chǎn)品可分為能量色散EDXRF與波長(zhǎng)色散型WDXRF。其中EDXRF有分為臺(tái)式與手持式儀器。

   在固體廢棄物，尤其是廢舊電器產(chǎn)品的重金屬檢測(cè)(Rohs)指令也日益重要，在這類應(yīng)用中，臺(tái)式EDXRF或便攜手持式XRF經(jīng)常作為有害重金屬元素的初級(jí)篩查工具在市場(chǎng)上得以廣泛應(yīng)用。

ZSX Primus III+具有場(chǎng)新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

高精度樣品定位

高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus III+使用一個(gè)獨(dú)特的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件

用戶使用EZ掃描軟件可以在無(wú)需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過(guò)光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和的掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。