廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的誤差來源

一、偶然誤差的來源

與樣品成分不均勻有關的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導致不同部位的分析結果不同而產(chǎn)生偶然誤差。主要原因如下：

直讀光譜儀

(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產(chǎn)生的偏析等造成樣品元素分布不均。

(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。

火花直讀光譜儀主要特點

儀器特點：

1． 使用靈活，性能可靠，穩(wěn)定性好。

2． 儀器檢測限低，分析精密度高，結果準確。

3． 分析速度快(20～30秒)，運行成本低。

4． 維護方便，故障率低。

5． 抗環(huán)境干擾能力強。

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光電直讀光譜儀選擇應注意的事項

光電直讀光譜儀是指應用光電轉換接收方法作多元素同時分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

光電直讀光譜儀是黑色金屬及有色金屬（鐵基、鋁基、銅基、鎳基等）材料中化學元素成份快速、定量的分析儀器。廣泛應用于冶金、機械、鑄造、金屬、科研等領域，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質量的有效手段之一。

光電直讀光譜儀選擇應注意以下事項：

一、光源發(fā)生器的選擇

為進行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時測定多種元素時，根據(jù)測定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時測定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質元素的定量分析。電弧光源適用于測定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強度的因素會影響分析的準確度，以下是主要兩大影響因素：

一、基體效應

基體效應包括吸收效應及增強i效應。

吸收效應包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用射線激發(fā)樣品時，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

何根據(jù)自身條件和實用條件來選擇性價比高的直讀光譜儀呢？

在我見到的客戶中ARL和OBLF直讀光譜儀客戶的評價比較高，用戶都是使用10年以上的老客戶，從未維修過。使用過程中直讀光譜儀比較皮實耐用,主要的消耗就是電極和ya氣,在使用到三-5年左右的時間需要更換一些備品備件,主要是激發(fā)臺的墊圈、密封圈、入射窗口等.  直讀光譜儀簡單的區(qū)分就是檢測器是CCD儀德技術還是PMT光電倍增管技術。相對于傳統(tǒng)成熟的PMT檢測器，新秀CCD儀德檢測器有高性價比的特點，比如增加材料基體，只需用標樣建立基體工作曲線，不需要增加硬件配置。而PMT是一個光電倍增管對應一個波長的譜線，所以一個元素至少要配一個PMT管，每個通道都需要進行掃峰校正；增加元素或者基體，都需要增加硬件，增加成本。

直讀光譜儀在什么情況下必須做標準化？

直讀光譜儀做標準化其實也要是看用的什么品牌的機器，儀器正常使用的情況下，需要定期（一般為一周）做標準化。若測試數(shù)據(jù)精i確穩(wěn)定，可適當延長標準化周期。但有如下情況之一，儀器必須做標準化，否則可能會影響測試精密度。（如果是用的美國熱電的ARL3460或者ARL4460，標準化時間可以適當放長，像在寶鋼，一般是一個月標準化一次），在以下幾項變動后，建議都要做一下標準化。

（1）儀器移動后。因實驗室或廠址更改，可能需要對直讀光譜儀進行轉移，為保證測試的精密度，轉移后需要重新進行標準化操作。

（2）清洗透鏡后。長時間使用會導致透鏡變臟，在清洗透鏡后需要對儀器重新做標準化。

（3）清理激發(fā)臺或更換電極后，建議客戶重新做標準化。

（4）光譜校正后。