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缺陷等級評定中存在的問題

1.規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一

焊接檢測標(biāo)準(zhǔn)尚未化，都是由、地區(qū)或部門制定，不同的標(biāo)準(zhǔn)在缺陷定量及評定方法上都有差別。

2.標(biāo)準(zhǔn)的人為因素

焊接中產(chǎn)生的缺陷對材料的性能會發(fā)生很大影響，其影響程度隨著缺陷的性質(zhì)、大小、位置、厚度的不同而不同。

3.缺陷等級評定與材料的關(guān)系

在進(jìn)行焊縫檢測前我們需要掌握材質(zhì)、坡口形式、壁厚等原始數(shù)據(jù)，在了解材質(zhì)的同時，并沒有考慮缺陷對不同材質(zhì)的不同影響，其實，各種材質(zhì)抵抗破壞的能力是不同的，在同樣應(yīng)力狀態(tài)下，相同尺寸的裂紋在有些材質(zhì)中會開裂、擴展、造成危害；而在另一些材質(zhì)中則不會開裂，不會擴展，不會造成危害。

如果用周向曝光機或γ源一次透照法，有可能使部分焊縫在透照時的K值超標(biāo)。這事因為封頭表面各處曲率不同，以致射線對焊縫各處透照厚度比K值也不一樣。封頭在壓制成型時，焊縫可能會在應(yīng)力作用下開裂而形成裂紋。但射線探傷對橫向裂紋的檢出有局限性，因此提高裂紋檢出率是編制封頭射線探傷工藝的重要目標(biāo)。這事應(yīng)選取較小的橫裂檢出角θ。按JB4730要求，縱縫AB級照相K≤1.03，即大橫裂檢出角θmax=cos-1（1/1.03）= 13.86°。橢圓封頭射線探傷的核心問題是橫裂檢出角θ，而封頭上各點對應(yīng)的橫裂檢出角θ和對應(yīng)焦距主要由射線源位置確定。

      不過，通常在進(jìn)行壓制的過程中，橢圓封頭產(chǎn)品的焊縫形狀會變得非常復(fù)雜，因此，如果所選擇的探傷方法不合理的話，那么容易造成漏檢。通常情況下，我們可以使用定向曝光機來進(jìn)行檢驗，不過這種方法雖然可以保證較高的檢測質(zhì)量，但是工作效率較低，且勞動強度大。     

      因此，我們可以使用周向曝光機來進(jìn)行檢測。但是這種方法也存在一定的問題，其有可能會導(dǎo)致橢圓封頭的部分焊縫在透照時出現(xiàn)K值超標(biāo)。這是因為不同封頭表面的的曲率不同，所以，所得到的結(jié)果也是不一樣的。     

      為了解決這個問題，我們專門進(jìn)行了分析和總結(jié)。其實，如果想要解決這個問題，那么我們就需要確保其橫裂檢出角θ的大小，這樣一來，對于橢圓封頭的射線探傷就比較容易把握了。