廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀的構(gòu)成

直讀光譜儀是一種通過檢測樣品被激發(fā)后的原子光譜強度來得到樣品各元素含量的分析儀器。目前，光譜類儀器的光學(xué)系統(tǒng)大體可以下列四類：1.棱鏡分光系統(tǒng)、2.平面光柵分光系統(tǒng)、3.凹面光柵分光系統(tǒng)、4.中階梯光柵分光系統(tǒng)。其中，由于凹面光柵在光路中兼具色散和聚焦兩種作用，可以使光譜儀的光路更加緊湊，因此被絕大多數(shù)直讀光譜儀所采用。

一、激發(fā)系統(tǒng)

激發(fā)系統(tǒng)是直讀光譜儀中一個極為重要的組成部分，它的作用是給樣品提供激發(fā)所需要的能量，使樣品發(fā)光，以便后續(xù)檢測。每種元素激發(fā)后發(fā)出的光具有特征譜線，這些譜線的強度與樣品中的含量之間具有函數(shù)關(guān)系。  

樣品中一般含有多種元素，不同的元素會發(fā)不同的光。但是這些光全部雜糅在一起，接下來的一步就是把這些復(fù)合光分解成單色光。

直讀光譜儀的分類

分光系統(tǒng)

分光系統(tǒng)是光譜儀器的核心。在直讀光譜儀中普遍使用的是帕邢-龍格裝置，其作用是把不同波長的復(fù)合光進行色散變成單色光。這些單色光與特定元素有特定聯(lián)系（如鈉的焰色反應(yīng)），而光強度可以被直接檢測出來。

三、檢測系統(tǒng)

檢測系統(tǒng)的核心部件是檢測器，常見的檢測器是PMT（光電倍增管）和CCD（電感耦合裝置）。CCD主要針對有色金屬合金材料的常量分析（C、S、P、N等非金屬測量不適合），而PMT主要在黑色金屬的測試方面表現(xiàn)出色（非金屬元素分析比較可靠），對于純度較高的有色金屬測試其微量雜質(zhì)含量也是首i選。

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項

光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

光電直讀光譜儀是黑色金屬及有色金屬（鐵基、鋁基、銅基、鎳基等）材料中化學(xué)元素成份快速、定量的分析儀器。廣泛應(yīng)用于冶金、機械、鑄造、金屬、科研等領(lǐng)域，進行冶煉爐前的在線分析以及中心實驗室的產(chǎn)品檢驗，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意以下事項：

一、光源發(fā)生器的選擇

為進行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時測定多種元素時，根據(jù)測定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時測定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質(zhì)元素的定量分析。電弧光源適用于測定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達(dá)到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素

對直讀光譜儀射線強度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強度的因素會影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素：

一、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強i效應(yīng)。

吸收效應(yīng)包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用射線激發(fā)樣品時，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

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如何選購自己要的直讀光譜儀

很多消費者在選購直讀光譜儀時大都會有諸多猶豫，比如說通常直讀光譜儀會有CCD和PMT（光電倍增管)兩種類型，而部分顧客有不了解這其中的區(qū)別，這就糾結(jié)了不知該從何入手？下面儀德直讀光譜儀廠家教您如何選購到讓您稱心如意的產(chǎn)品。

其實選購直讀光譜儀的方法重在預(yù)算，預(yù)算不是那么多可以選CCD（電感耦合），會比PMT即光電倍增管的便宜很多，貴的PMT甚至可以達(dá)到百萬；便宜的CCD差不多20萬就可以。當(dāng)然也可以選擇購買二手光譜儀，但是大家選擇的時候要注意質(zhì)量，光譜儀的維護是很重要，對于檢測要求高的，希望檢出限更低（更少的元素含量也可以檢測到），更穩(wěn)定，那就PMT。但是如果是要做高純的檢測，PMT光譜儀就難以達(dá)到，PMT只能達(dá)到 N ppm級別，而CCD是 NN ppm級別。

火花直讀光譜儀分析的方法

控制試樣法

光源激發(fā)條件事實上是有變化的，即使每次經(jīng)過予燃以后仍如此?？刂圃嚇臃ㄖ饕褪怯脕頇z查光源激發(fā)的變化以及用來校正光源激發(fā)不穩(wěn)定而引起的分析結(jié)果的偏差?？刂茦悠繁旧韽哪撤N意義上講就是一個標(biāo)準(zhǔn)樣品，它的化學(xué)成分和狀態(tài)更接近生產(chǎn)實際，可通過控制樣品結(jié)果的變化，從而檢查工作曲線有無移動。應(yīng)用控制樣品的目的是作快速分析，分析時，只激發(fā)一個控制樣品即完成了分析任務(wù)。因為日常分析時控制樣品和分析樣品是在同一時間內(nèi)進行的，每個樣品激發(fā)二次，所得分析結(jié)果的變化，應(yīng)該彼此相似?？梢詼p少控制標(biāo)樣和分析樣品性質(zhì)狀態(tài)的不一致所引起的第三元素影響或者組織結(jié)構(gòu)的影響，使分析結(jié)果不準(zhǔn)。這些影響往往只使工作曲線產(chǎn)生一些移動。