

北京華測試驗儀器有限公司
主營產品: 沖擊電壓試驗儀, 耐電弧測試儀, 數字電荷儀, 表面體積電阻率測試儀, 納米測試儀, 海綿壓陷硬度測試儀, 納米犬分析測試儀, 多功能精密電池測試分, 高壓漏電起痕試驗機
華測-壓電陶瓷及高分子材料-高低溫冷熱臺-可定制
價格
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¥209800.00
≥1
¥168700.00
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北京華測試驗儀器有限公司
店齡7年
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經營模式
生產廠家
所在地區(qū)
北京市海淀區(qū)
產品介紹
Huace650T高低溫冷熱臺由華測儀器多位工程師多年開發(fā),冷熱臺可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學工作站、數字原表設備進行功能材料電學的相關測試,采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導線的影響,同時電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網諧波對測量儀表的干擾。在測試功能上也增加了電阻測試、TSDC等測量功能!
產品優(yōu)勢
消除電網諧波對采集精度的影響
電網諧波是電網中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產生的根本原因是由于非線性負載所致。當電流流經負載時,與所加的電壓不呈線性關系,就形成非正弦電流,從而產生諧波。嚴重干擾通信、計算機系統(tǒng)、高jing度加工機械,檢測儀表等用電設備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對加熱絲進行加熱的方式。為了解決這種工頻干擾以及電網諧波對測量的影響,華測儀器采用了直流加熱方式進行加熱。同時加入濾波等方式以更好的減少對測量過程中的影響。大大提高測量的精度。
消除高溫環(huán)境下測量導線阻抗影響及內部屏蔽
01、傳輸線受其材料及結構的影響,當傳輸高頻信號時,導線內各點電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會導致測量的數據存在一定的誤差。所以在測量過程中一定要采用阻抗更匹配的測量導線;
02、測量的導線也存在著一定的阻抗及高頻響應,故縮短測量導線將提高測量精度;
03、高溫環(huán)境下的測量導線無法做到更好的屏蔽,大都只做了絕緣處理,高溫導線受溫度的影響阻值變大,高溫導線因要求通過絕緣件(如陶瓷、耐火材料等)將會把一部分電容引入測量。 增大測量誤差;
04、測量的方式采用三電極測量,將會起到更好的屏蔽作用
優(yōu)化樣品溫度的測量方式及測量電極的
01、通過平行板電極的測量原理,可以更好的說明測量的電極盡可能小,減少空間及雜散電容的影響的辦法是在樣品上濺射一層導電材質。
02、因不同的材料熱晗不同,以熱電偶靠近樣品測試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進行測量,那么樣品的溫度就是材料真實溫度。
更強大的操作軟件
測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項測試需求,具備穩(wěn)定性與操作保護性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。 兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。
多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;
即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;
圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);
使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;
故障狀態(tài):軟件具有設備的故障報警功能。
試驗報告:自定義報表格式,一鍵打印試驗報告,可導出EXCEL、PDF格式報表
軟件兼容:Huace(6300、6500)、Keysight( E4990、E4991、E4980A)、waynekerr(6500B、6530、4235)同惠(2983、 2838、2851)等阻抗分析儀表。keithley 6487、6517b、HIOKI7110、7120,KeysightB2985、2987高阻計。keithley 2400 2450、2600系列源表(可作為四探針測試)
產品參數
溫控參數
01.溫度范圍:-185℃ ~ 600℃(負溫需配液氮制冷系統(tǒng))
02.傳感器/溫控方式:100Ω鉑RTD / PID控制(含LVDC降噪電源)
03.加熱/制冷速度:+80℃/min (100℃時),-50℃/min (100℃時)
04.加熱/制冷速度:±0.25℃/min
05.溫度分辨率:0.01℃
06.溫度穩(wěn)定性:±0.05℃(>25℃),±0.1℃(<25℃)
07.軟件功能:可設溫控速率,可設溫控程序,可記錄溫控曲線
電學參數
01.探針:默認為錸鎢材質的彎針探針 *可選其他種類電極
02.探針座:杠桿式探針支架,點針力度更大,電接觸性更好
03.點針:手動點針,每個探針座都可點到樣品區(qū)上任意位置
04.探針接口:默認為BNC接頭,可選三同軸接口* 可增設腔內接線柱(樣品接電引線)
05.樣品臺面電位:默認為電接地,可選電懸空(作背電極),可選三同軸接口
06.非磁性改造:臺體可改用非磁性材質制造,用于變溫霍爾效應探針測試
光學參數
01.適用光路:反射光路
02.窗片:可拆卸與更替的窗片
03.物鏡工作距離:8.5 mm
04.透光孔:臺面默認無通光孔,可增設通光孔以支持透射光路
05.上蓋窗片觀察:窗片范圍φ38mm,視角±60.7°
06.負溫下窗片除霜:真空
結構參數
01.加熱區(qū)/樣品區(qū):30 mm
02.樣品腔高:6.3 mm ,樣品厚度由探針決定
03.放樣:打開上蓋后置入樣品再點針,關上蓋后無法移動探針
04.氣氛控制:氣密腔,可充入保護氣體 ,另有真空腔型號
05.外殼冷卻:可通循環(huán)水,以維持外殼溫度在常溫附近
06.安裝方式:水平安裝 或 垂直安裝
07.臺體尺寸/重量:210 mm x 180 mm x 50 mm / 2000g
產品優(yōu)點
01. 更精準的測量方式
從根本上解決了,測量溫度、測量導線、電網諧波干擾,以及測量延長導線阻抗對測量數據的影響。
02. 更完善的測量功能
比現有的高低溫阻抗分析儀,增加了TSDC、熱釋電、電阻、擊穿等測量功能。方便擴展高低溫測試環(huán)境。在功能材料的電學測試,可輕松實現一套系統(tǒng) 完成所有電學測試。
03. 更嚴格的質量管控嚴格做好每一款產品質量把控
從原器件采購、到生產過程的質量控制,到產成品計量檢測,嚴格質量把控,確保生產合格的科研儀器。
04. 更完善的售后服務體系整機保修三年
7X24小時在線服務。預裝遠程服務軟件,實現遠程升級、維護等。


