晶格 M-3 方塊電阻儀 方阻儀 方阻表 便攜式 手持式 簡(jiǎn)單易用
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晶格-M-3-方塊電阻儀-方阻儀

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商品介紹
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品牌 其他
精度 0.5%
重量 0.25
尺 寸 W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
電 源 DC 3.7V鋰電池
測(cè)量范圍 0.00010-0.02
校準(zhǔn)周期 1年
加工定制
相對(duì)濕度 ≤75%RH
重復(fù)誤差 0.3%
產(chǎn)地 蘇州
是否進(jìn)口
類型 數(shù)字式電阻測(cè)量?jī)x表
型號(hào) M3
測(cè)試電壓 2-20mV
環(huán)境溫度 0--40
是否跨境出口專供貨源
商品介紹

、結(jié)構(gòu)特征

 M-3四探針儀器主機(jī)800X800

M-3四探針拓展臺(tái)式應(yīng)用800X800

M-3四探針測(cè)試硅片800X800

M-3四探針測(cè)ITO膜A

M3輪播播圖432X324

    M3手持式四探針測(cè)試儀主機(jī)             配ST2253-F01鎢針探頭測(cè)試硅片           配ST2558B-F01薄膜探頭測(cè)試ITO膜

二、概述

2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

   M3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》等國(guó)標(biāo)并參考美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

    2.2配套組成:標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用。

2.3優(yōu)勢(shì)特征:

   1美觀適用:彩色流線型手持式面板、帶防滑墊,符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包裝,便于野外或旅行使用。

   2高精度:M3手持式四探針方阻儀,帶完善厚度、形狀修正功能,所以測(cè)試精準(zhǔn)。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序,沒有完整修正功能,所以無法修正厚度、形狀誤差。

   3寬量程:超寬五個(gè)檔位,相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程,同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位,測(cè)試范圍有限,適應(yīng)性不廣。

   4操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定輕觸數(shù)字化鍵盤實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾

   5手動(dòng)/自動(dòng)一體化

   6顯示方式美觀清晰:由高亮綠色數(shù)碼和LED數(shù)字表頭顯示,不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光;

   7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)(不小于兩天),有大容量可充電鋰電池電池供電,環(huán)保耐用。

2.4探頭選配:

根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》

1配高耐磨的碳化鎢探針探頭,ST2253-F01型,以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,ST2558B-F01型,可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

3配專用箔上涂層探頭,ST2558B-F02型,也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

4換上四端子測(cè)試夾具,還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。

2.5測(cè)試臺(tái)選配

   根據(jù)不同材料特性需要,測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表

四探針法測(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型(電動(dòng))或SZT-C型(快速恒壓)測(cè)試臺(tái)。

二探針法測(cè)試細(xì)長(zhǎng)棒類材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).

平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)。

2.6適用范圍:

  手持式使用,儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針法對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。

三、基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率

   阻:    0.010Ω 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω 10 Ω

率:    0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω 10 Ω-cm

方塊電阻:    0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω 10 Ω/□

2. 可測(cè)材料尺寸

手持方式不限材料尺寸,但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下:

   徑:SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15~130mm。

SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。

長(zhǎng)(高)度:測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.

測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.

 

3. 量程劃分及誤差等級(jí)(括號(hào)內(nèi)為拓展量程)

量程(Ω-cm/□)

2.000

(200.0m)

20.00

(2.000m)

200.0

(20.00)

2.000k

(200.0)

20.00k

(2.000k)

電阻測(cè)試范圍

0.010~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~50.00k

電阻率/方阻

0.010/0.050~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~20.00k/100.0k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB

4充電器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電DC3.7V.

5外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

                       凈  重:≤0.3kg

聯(lián)系方式
公司名稱 蘇州晶格電子有限公司
聯(lián)系賣家 王娟 (QQ:13656225155)
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地址 江蘇省蘇州市
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