蘇州晶格電子有限公司
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主營(yíng)產(chǎn)品: 四探針測(cè)試儀系列, 粉末電阻率測(cè)試儀系列, 超高阻微電流測(cè)試儀系, 土壤電阻率測(cè)試儀, PN導(dǎo)電類型鑒定儀, 毫歐計(jì)微歐計(jì)
SZT-G型橡塑材料測(cè)試臺(tái)
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主營(yíng)產(chǎn)品
四探針測(cè)試儀系列, 粉末電阻率測(cè)試儀系列, 超高阻微電流測(cè)試儀系, 土壤電阻率測(cè)試儀, PN導(dǎo)電類型鑒定儀, 毫歐計(jì)微歐計(jì)
基本功能:SZT-G型橡塑材料電阻率測(cè)試臺(tái),配以四探針儀器構(gòu)成成套測(cè)試系統(tǒng),是運(yùn)用四端子測(cè)量原理的專業(yè)測(cè)量橡塑材料或半導(dǎo)體薄膜的電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量裝置.(以下簡(jiǎn)稱測(cè)試臺(tái)),符合橡塑行業(yè)專用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GBT 3048.3-94電線電纜電性能試驗(yàn)方法 半導(dǎo)電橡塑材料體積電阻率試驗(yàn)》。
基本組成:測(cè)試臺(tái)由樣品盒、測(cè)試電極組、升降臺(tái)、支架、連接線纜等部件組成。
配套與兼容:本測(cè)試臺(tái)兼容本公司所有臺(tái)式四探針測(cè)試儀器。本測(cè)試臺(tái)可兼容國(guó)內(nèi)同行絕大多數(shù)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀器。
優(yōu)勢(shì)特征:本測(cè)試臺(tái)電極組升降是快速恒壓手動(dòng)方式,穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。樣品盒是用耐高溫、耐腐蝕、高絕緣的材料做成的,并且?guī)в新?lián)通電極,這樣清潔好的標(biāo)準(zhǔn)樣品裝夾后,便于烘干、時(shí)效、測(cè)試、移動(dòng)等,而避免手接觸樣品帶來(lái)污染影響測(cè)試精度。
儀器適用于半導(dǎo)體薄膜材料廠、橡塑材料廠、金屬薄膜材料廠、電容器廠、科研單位、高等院校等對(duì)半導(dǎo)體或橡塑材料的方阻、電阻率性能的測(cè)試。
SZT-G橡塑材料測(cè)試臺(tái)要配合四探針測(cè)試儀主機(jī)才可以測(cè)量樣品的電阻率或方阻。下面以ST2258C四探針測(cè)試儀為例,講解橡塑材料電阻率或方阻的測(cè)試方法。
1. 操作概述
(1) 測(cè)試準(zhǔn)備:
儀器電源開(kāi)關(guān)置于斷開(kāi)位置,將電源插頭插入電源插座。對(duì)于塑膠樣品,將SZT-G測(cè)試臺(tái)的測(cè)試插頭與主機(jī)的輸入插座連接起來(lái);調(diào)節(jié)室內(nèi)溫度使之達(dá)到要求的測(cè)試條件。將電源開(kāi)關(guān)置于開(kāi)啟位置,數(shù)字顯示窗亮。
(2) 參數(shù)設(shè)定:
儀器開(kāi)機(jī)默認(rèn)狀態(tài)為“設(shè)定” 模式,參照ST2258C面板,窗口左側(cè)“設(shè)定”模式燈亮,通過(guò)鍵盤輸入需要的修正系數(shù)。儀器默認(rèn)修正系數(shù)F=1.000,即電阻測(cè)量方式或薄膜寬20mm時(shí)方阻測(cè)量可直接切換到“測(cè)量”模式而不需設(shè)定修正系數(shù)。否則需要輸入需要的修正系數(shù),對(duì)于塑膠樣品修正系數(shù)計(jì)算請(qǐng)參見(jiàn)式3-5或3-8,或直接查附表1,如需要分選功能的輸入各分選界限值,不需分選功能,不輸入各分選界限值不影響測(cè)試,顯示分選結(jié)果無(wú)意思。
(3)測(cè)量:(對(duì)于橡塑樣品)
設(shè)定完畢,切換儀器到“測(cè)量”模式。窗口左側(cè)“測(cè)量”模式燈亮,按照標(biāo)準(zhǔn)制取樣品,長(zhǎng)度110mm,寬50mm,厚2~4mm。
圖1-1A 圖1-1B 圖1-1C
如圖1-1A,打開(kāi)樣品盒,如圖1-1B,將樣品放在樣品盒內(nèi)。注意:樣品放置對(duì)準(zhǔn)盒底淺槽內(nèi),樣品四邊不得超出淺槽。蓋上上蓋,如圖1-1C。
圖1-2A 圖1-2B
如圖1-2A,將SZT-G測(cè)試臺(tái)頂端快速扳手向上向后打到底,抬起測(cè)試電極組。將裝有樣品的樣品盒放置于測(cè)試臺(tái)底板上導(dǎo)向槽內(nèi),1-2B,向前向下壓下快速扳手,壓下測(cè)試電極組,保持電極刀口與樣品適當(dāng)壓力,良好接觸,由數(shù)字顯示窗直接讀出測(cè)量值和分選結(jié)果。
)
1.1
(1)方阻測(cè)試范圍*(以配SZT-G測(cè)試刀架為例)
測(cè)量膜寬:1mm≤B≤50mm
方阻測(cè)量值:1.0×10-3~2.000×106 Ω/□, 分辨率:1.0×10-4~1.0×103 Ω/□。
(2)電阻率測(cè)試范圍(以配SZT-G測(cè)試刀架為例)
(厚度d<10mm,寬w<50mm)
電阻率測(cè)量值:1.0×10-3~2.00×106 Ω*cm, 分辨率:1.0×10-4~1.0×103 Ω*cm。
1.2SZT-G50測(cè)試刀架:
⑴電壓刀片間距:20mm±0.2% ,刀長(zhǎng)60mm
⑵電流刀片間距: 70mm,刀長(zhǎng)60mm
⑶測(cè)試刀架外型尺寸:220×180×200(長(zhǎng)×寬×高)
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