標(biāo)題：計算機(jī)控制-特種設(shè)備無損檢測儀器

無損檢測的分類可簡單地分為缺陷檢測和應(yīng)變檢測。 

缺陷檢測包括內(nèi)部檢測和表層檢測。內(nèi)部檢測：射線照相法檢測、超聲波檢測。表層檢測：磁粉檢測、電磁感應(yīng)檢測。 

應(yīng)變檢測包括標(biāo)距應(yīng)變或某點(diǎn)處的應(yīng)變（機(jī)械方法、點(diǎn)方法、X射線應(yīng)力測試法）、應(yīng)力分布（光彈性試驗(yàn)法、光彈薄膜法、應(yīng)物涂料法、莫爾法、鍍銅法） 

一般來說缺陷的檢測結(jié)果應(yīng)反饋給加工、 制造部門， 而應(yīng)變測試結(jié)果應(yīng)反饋給計劃

設(shè)計部門。 但是， 設(shè)計不當(dāng)也是缺陷產(chǎn)生的原因， 因此缺陷檢測結(jié)果也應(yīng)同時反饋給計

劃、 設(shè)計部門。 另外， 加工不論確有時也會產(chǎn)生過大的應(yīng)變， 因此應(yīng)變測試結(jié)果也應(yīng)反

饋給加工、 制造部門。